Estación de sonda criogénica refrigerada de GM con rango de temperatura de 4 K-420 K, corriente de fuga eléctrica ultrabaja y sonda múltiple (4-8 brazos) para investigación avanzada
Sonda refrigerada GM: 4 K-420K, 4-8 brazos e investigación I-V/C-V/Optoelectrónica Estación de sonda criogénica avanzada La estación de sonda criogénica es una estación de sonda criogénica de 4 K compatible con microondas de última generación de 0-67 GHz, diseñada para investigación y desarrollo ...
Detalles del producto
Resaltar:
Rango de temperatura 4 K-420K Estación de sonda criogénica
,Estación de sonda de baja temperatura de corriente de fuga eléctrica ultrabaja
,Estación de sonda criogénica 4 K de múltiples sondas (4-8 brazos)
Vibration:
Vibración de la etapa de muestra <1 μm (pico a pico)
Thermal Anchor:
Diferencia de temperatura del soporte de la sonda y de la etapa de muestra <10 K
Number Of Probe Arms:
Brazos de sonda 4 estándar, hasta 8 soportados
Needing Range:
Necesitando rango
Electrical Leakage Current:
<100fA@1V
Optical Microscope:
0,75 × -3,75 × Zoom continuo
Sample Temperature:
4 K-420 K
Sample Holder Type:
Opciones de tierra, coaxial y triaxial
Propiedades básicas
Nombre de la marca:
Truth Instruments
Número de modelo:
PS-Cryo
Descripción de producto
Sonda refrigerada GM: 4 K-420K, 4-8 brazos e investigación I-V/C-V/Optoelectrónica
Estación de sonda criogénica avanzada
La estación de sonda criogénica es una estación de sonda criogénica de 4 K compatible con microondas de última generación de 0-67 GHz, diseñada para investigación y desarrollo avanzados en física de bajas temperaturas, pruebas de semiconductores y caracterización de dispositivos de microondas. Este sistema integrado ofrece una precisión y versatilidad excepcionales para entornos de ultra baja temperatura que van desde 4 K hasta 420 K.
Con una notable estabilidad de temperatura de ±1,20 mK en todo el rango de funcionamiento, esta estación de sonda garantiza mediciones consistentes y fiables durante períodos de prueba prolongados.
Características principales
- Nombre del producto: Estación de sonda criogénica PS-Cryo 4 K
- Corriente de fuga eléctrica:<100 fA@1 V para mediciones de ruido ultrabajo
- Recorrido del brazo de la sonda: Movimiento preciso X-Y-Z con recorridos de 50 mm, 25 mm y 25 mm respectivamente
- Tipo de soporte de muestra: Opciones versátiles que incluyen soportes de tierra, coaxiales y triaxiales
- Número de brazos de sonda: 4 brazos de sonda estándar con soporte para hasta 8 brazos
- Rango de temperatura de la muestra: 4 K a 420 K para diversas aplicaciones criogénicas
- Capacidades multi-sonda (4-8 brazos) criogénicas optoelectrónicas/microondas
- Diseño de alto vacío y baja vibración que garantiza mediciones estables
Especificaciones técnicas
| Corriente de fuga eléctrica | <100 fA@1 V |
| Estabilidad de la temperatura | ±<1,20 mK (4 K-420 K) |
| Rango de frecuencia | 0-50 MHz con cable coaxial de baja temperatura, 0,1 GHz con cable coaxial semirrígido |
| Anclaje térmico | Diferencia de temperatura entre el soporte de la sonda y la etapa de la muestra<10 K |
| Sonda de microondas | 0-40 GHz con conector tipo K, 0-67 GHz con conector de 1,85 mm |
| Vibración | Vibración de la etapa de la muestra<1 μm (pico a pico) |
| Anclaje de la muestra | Diámetro del soporte de la muestra de hasta 51 mm |
| Temperatura de la muestra | 4 K-420 K |
| Microscopio óptico | Zoom continuo de 0,75×-3,75× |
| Tipo de soporte de muestra | Opciones de tierra, coaxial, triaxial |
Aplicaciones
La estación de sonda criogénica PS-Cryo está diseñada para investigación avanzada que requiere mediciones precisas a baja temperatura. Este sistema integrado controlado con un solo clic es ideal para pruebas de semiconductores de vanguardia, investigación en computación cuántica y caracterización de dispositivos superconductores.
El sistema de prueba criogénica de circuito cerrado de refrigeración GM garantiza una refrigeración continua fiable, manteniendo un entorno de vacío a baja temperatura de menos de 1,2E-3Pa, esencial para minimizar el ruido térmico y preservar la integridad de la muestra durante mediciones sensibles.
Al servicio de instituciones académicas, laboratorios nacionales e instalaciones de fabricación de semiconductores, este versátil sistema es compatible con el desarrollo de transistores de próxima generación, la investigación de materiales 2D y las aplicaciones de espintrónica con un rendimiento y fiabilidad excepcionales.
Enviar una consulta