مجهر كير عالي الحساسية مجهر موك متعدد الوظائف للأفلام الرقيقة المغناطيسية

وصف المنتج:

مجهر كير المغناطيسي البصري متعدد الوظائف لاختبار الدوران هو أداة متطورة مصممة للبحث المتقدم في مجال الإلكترونيات الدورانية. يوفر مجهر MOKE المتطور هذا قياسات آلية وقدرات تحليل دقيقة، مما يجعله أداة أساسية للباحثين الذين يعملون بأجهزة الإلكترونيات الدورانية.

تم تجهيز هذا المجهر بمقياس مصدر كهربائي، وتحديدًا Keithley 6221 و Keithley 2182A، مما يضمن قياسات كهربائية موثوقة ودقيقة بالتزامن مع دراسات تأثير كير المغناطيسي البصري. يتيح الجمع بين هذه الأدوات للباحثين إجراء تحليلات شاملة للخصائص المغناطيسية والإلكترونية بدقة عالية.

إحدى الميزات الرئيسية لهذا المجهر MOKE هي مجموعته المتنوعة من العدسات، بما في ذلك تكبيرات 5x و 20x و 50x و 100x. بالإضافة إلى ذلك، توفر العدسة غير المغناطيسية للباحثين المرونة لإجراء التجارب دون تدخل من العناصر المغناطيسية، مما يضمن نتائج دقيقة وموثوقة.

يتم تعزيز دقة المجال المغناطيسي للمجهر من خلال تنظيم التغذية الراجعة ذات الحلقة المغلقة PiD، مما يوفر دقة تبلغ 0.05 MT. يتيح هذا المستوى العالي من الدقة للباحثين اكتشاف اختلافات المجال المغناطيسي الدقيقة ودراسة الخصائص المغناطيسية بدقة استثنائية.

لتطبيقات المجال المغناطيسي الرأسي، يوفر المجهر قوة مجال مغناطيسي تبلغ 0.25 T عند قطب واحد، مما يسمح للباحثين بالتحقيق في سلوك المغنطة الرأسية بسهولة. بالإضافة إلى ذلك، يوفر المجهر إمكانات المجال المغناطيسي في المستوى، بما في ذلك 1 T عند فجوة هوائية تبلغ 5 مم، و 0.5 T عند فجوة هوائية تبلغ 10 مم، و 0.3 T عند فجوة هوائية تبلغ 16 مم. تمكن هذه الميزات الباحثين من دراسة الخصائص المغناطيسية في اتجاهات وبيئات مختلفة، مما يعزز تنوع المجهر.

باختصار، يعد مجهر كير المغناطيسي البصري متعدد الوظائف لاختبار الدوران أداة قوية للباحثين الذين يعملون في مجال الإلكترونيات الدورانية. بفضل قدراته المتقدمة ووظائف القياس الآلية وميزات التحليل الدقيقة، يعتبر هذا المجهر مثاليًا لدراسة أجهزة الإلكترونيات الدورانية وإجراء بحث متعمق حول الخصائص المغناطيسية والإلكترونية.

الميزات:

• اسم المنتج: مجهر كير المغناطيسي البصري متعدد الوظائف لاختبار الدوران
• دقة المجال المغناطيسي: تنظيم التغذية الراجعة ذات الحلقة المغلقة PiD، دقة 0.05 MT
• الدقة البصرية: 250 نانومتر
• المجال المغناطيسي في المستوى:
  • 1 T @ فجوة هوائية 5 مم
  • 0.5 T @ فجوة هوائية 10 مم
  • 0.3 T @ فجوة هوائية 16 مم
• المجال المغناطيسي الرأسي: 0.25 T @ قطب واحد
• محطة التحقيق: متوافقة مع 4 - 8 مجموعات من حامل التحقيق غير المغناطيسي

المعايير الفنية:

التطبيقات:

مناسبات وسيناريوهات تطبيق المنتج لمجهر كير المغناطيسي البصري متعدد الوظائف لاختبار الدوران من Truth Instruments (الموديل KMPL-S) من الصين:

1. **أبحاث المواد المغناطيسية ثنائية الأبعاد**: يعتبر مجهر KMPL-S مثاليًا لدراسة المواد المغناطيسية ثنائية الأبعاد نظرًا لميزاته المتقدمة مثل المجال المغناطيسي الرأسي النبضي فائق السرعة بالميكروثانية بقوة 60 MT، وزمن الارتفاع 0.5 Us، ونطاق عرض النبضة من 1 Us إلى 10 Us. يمكن للباحثين تحليل الخصائص المغناطيسية لمختلف المواد ثنائية الأبعاد بدقة عالية باستخدام دقة المجال المغناطيسي البالغة 0.05 MT.

2. **توصيف الأغشية الرقيقة المغناطيسية**: يمكن للباحثين والعلماء الذين يعملون على الأغشية الرقيقة المغناطيسية الاستفادة من قدرات مجهر KMPL-S. يأتي المجهر مع أهداف متعددة بما في ذلك خيارات 5x و 20x و 50x و 100x وغير المغناطيسية، مما يسمح بإجراء تحليل مفصل لهياكل الأغشية الرقيقة. تضمن الدقة البصرية البالغة 250 نانومتر التصوير والتحليل الدقيقين لعينات الأغشية الرقيقة.

3. **تحليل ديناميكيات المغنطة**: يعتبر مجهر KMPL-S مناسبًا تمامًا لدراسة ديناميكيات المغنطة في مواد مختلفة. من خلال القدرة على تطبيق مجالات مغناطيسية دقيقة والتقاط نبضات فائقة السرعة، يمكن للباحثين التحقيق في ديناميكيات عمليات المغنطة بدقة زمنية عالية. يضمن تنظيم التغذية الراجعة ذات الحلقة المغلقة PiD قياسات مستقرة ودقيقة أثناء دراسات المغنطة الديناميكية.

بشكل عام، يوفر مجهر كير المغناطيسي البصري KMPL-S من Truth Instruments منصة متعددة الاستخدامات للباحثين والعلماء المشاركين في استكشاف المواد المغناطيسية ثنائية الأبعاد، وتوصيف الأغشية الرقيقة المغناطيسية، وتحليل ديناميكيات المغنطة. إنها أداة موثوقة ذات ميزات متقدمة مصدرها الصين ومتوافقة مع مقاييس المصدر الكهربائي مثل Keithley 6221 و Keithley 2182A.