English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
0.1 هرتز - 30 هرتز مجهر القوة الذرية مجهر المسح النانوي
Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. ...
ماسح الموجات MOKE EFEM نظام قياس الموجات لخرائط الهستيريس والتكافل المغناطيسي
MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This ...
4 K محطة استكشاف نصف الموصلات مغلقة الحلقة محطة استكشاف رقاقة الفراغ لاختبار رقاقة 2 بوصة
4 K Closed Loop Cryogenic Probe Station For 2 Inch Wafer Testing Product Description: The Cryogenic Probe Station is an essential tool for researchers and scientists working in the field of low-temperature measurements. This advanced equipment is designed to provide precise control over the thermal ...
1.7 ك-350 ك مبرد مغناطيس فائق التوصيل - اختبار بصري مغناطيسي عالي الثبات
Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a state-of-the-art instrument designed for advanced research applications requiring precise temperature control, strong magnetic fields, and excellent optical access. This sophisticated cryostat is ideally suited for experiments in Raman ...
جهاز اختبار مبرد بالتبريد 4K مع ثبات ±1.20 mK وميكروويف 0-67 جيجاهرتز لعينات 2 بوصة في محطة مسبار ذات درجة حرارة منخفضة
PS-Cryo 4 K Cryogenic Probe Station The PS-Cryo 4 K cryogenic probe station is a state-of-the-art solution designed for precise electrical testing of samples at ultra-low temperatures ranging from 4 K to 420 K. This cost-effective system meets demanding requirements for researchers and engineers ...
AtomExplorer: المجهر المسح الضوئي عالي الدقة (SPM/AFM)
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applications. This advanced instrument employs an XYZ three-axis ...
تمييز السطح على نانو المستوى مع AtomExplorer AFM
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a highly versatile and reliable Scanning Probe Microscope designed specifically for laboratories seeking advanced yet user-friendly AFM equipment. This model provides comprehensive capabilities for material surface characterization...
أنماط MFM/KPFM لتمييز المواد النانوية عالية الدقة
Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a state-of-the-art scanning force microscope designed to provide unparalleled imaging and measurement capabilities at the nanoscale. With its advanced XYZ three-axis full-sample scanning method, this AFM allows precise and comprehensive ...
ختم الثقة ، فحص الائتمان ، RoSH وتقييم قدرة المورد. الشركة لديها نظام صارم لمراقبة الجودة ومختبر اختبار احترافي.
فريق التصميم المهني الداخلي وورشة الآلات المتطورة. يمكننا التعاون لتطوير المنتجات التي تحتاجها.
آلات أوتوماتيكية متقدمة، نظام تحكم صارم في العملية. يمكننا تصنيع كل الأدوات والمعدات التي تتجاوز طلبك
تعبئة صغيرة مجمعة ومخصصة، تسليم ظهر السفينة، تكلفة، تأمين وشحن، تسليم غير خالص الرسوم، وتسليم خالص الرسوم. دعنا نساعدك في إيجاد أفضل حل لجميع مخاوفك.
أخبار
في الآونة الأخيرة، نشر فريق البحث من مركز الإلكترونيات الدورانية وأنظمة الكم في كلية علوم وهندسة المواد بجامعة شيان جياوتونغ ورقة بحثية ذات قيمة...
أخبار
مؤخراً، فريق البحث من معهد أبحاث الطاقة النظيفة وكيمياء الوقود،كلية الهندسة الكيميائية بجامعة لياونينغ للعلوم والتكنولوجيا نشرت سلسلة من أحدث نتائج...
مهمتنا هي تقديم "جودة عالية" و "خدمة جيدة" و "توصيل سريع" لمساعدة عملائنا على تحقيق المزيد من الأرباح.
