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非接触磁気計測用ウェーハースケールヒステリシスループトレーサー
ウェーハースケールヒステリシストレーサー 非接触磁気計測用 製品説明: ウェーハレベルヒステリシスループ測定器は、ウェーハレベルでの磁気特性を正確かつ効率的に特性評価するために設計された最先端のツールです。この機器は、品質管理および研究目的で正確で信頼性の高い測定を必要とする業界にとって不可欠です。 この製品の重要な特徴の1つは、10μmを超える優れたサンプル再現性です。このレベルの精度は、一貫性と信頼性の高い結果を保証し、高精度で磁気特性を分析するために不可欠です。 サンプルサイズの互換性に関しては、この機器は汎用性が高く、最大12インチ以下のサンプルをサポートしています。さらに、フラグメン...
三温磁気チップテスター 高信頼性検証用精密最終テスター
高信頼性の検証のためのTri Temp磁気チップテスト 製品説明: 最先端の磁気チップ最終テストマシンを紹介します 磁気チップのATEのための究極のソリューションですこの革新的な製品は,精度と精度で磁気チップの試験の要求を満たすために設計されています. マグネティックチップ最終試験機のソケット試験座席は, -60°Cから170°Cまでの極端な温度に耐えるように設計されています.様々な環境条件下で信頼性の高い性能を保証するソーケット試験座席で使用される材料は磁性でないため,試験プロセス中に干渉を防止します. この磁気チップテスト機は,高度な興奮システムで装備されており, 卓越した性能を誇っていま...
ベクトル磁気プローブステーション 2Dデバイス特性評価用スケーラブルウェーハプローブステーション
2次元装置の特徴付けのためのベクトル磁気探査ステーション 製品説明: 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Stationは,磁場を正確に測定するために設計された高度なツールで,特に垂直部品に焦点を当てています.特殊な特徴と能力を持つこの製品は,スピントロニクス,磁気材料など様々な分野で働く研究者や技術者にとって不可欠な資産です. この探査ステーションの重要な特徴の一つは,上質な機内磁場構成要素で,垂直構成要素は0.1mT以上です.これは正確で信頼性の高い測定を保証します.ユーザがサンプルの磁気特性を詳細に把握できるようにする. PID 閉ループフィードバック...
アップグレード可能な2Dプローブステーション 磁場プローブステーション 精密研究および生産用
精密研究と生産のためのアップグレード可能な2D探査ステーション 製品説明: 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Stationは,様々な用途で磁場を正確に測定し分析するために設計された最先端の製品です.この高度な探査ステーションは 2Dベクトルフィールドの詳細な調査を可能にします2次和音テストやスピントロニクスなどの分野で働く研究者や専門家にとって理想的なツールです. 主要な特徴: エアギャップ0~40mmから調節可能で,実験設定と測定に柔軟性があります. 垂直磁場強度:垂直に140mTの磁場強度を生成し,正確かつ信頼性の高い結果を確保する. 光学拡大:0...
GM 冷蔵型冷凍探査ステーション 4 K-420 K 温度範囲,超低電気流出電流,および高度研究のためのマルチ探査器 (4-8 アーム)
GM冷蔵探査機: 4K-420K, 4-8 アームズ&I-V/C-V/オプトエレクトロニック研究 先進的な冷凍探査ステーション 低温物理学の研究開発のために設計された 最先端の0~67GHzマイクロ波対応の4K冷凍探査ステーション半導体試験この統合システムは,4Kから420Kまでの極低温環境で例外的な精度と多用性を提供します. この探査ステーションは,全動作範囲で ±1.20 mK の気温安定性を備えており,長期試験期間中に一貫して信頼性の高い測定を保証します. 主要 な 特徴 製品名:PS-Cryo 4K冷凍探査装置 電気流出電流:...
低リーク4Kシステム：2インチ互換性、0-67 GHz & ±1.20 mK安定性
製品説明: The PS-Cryo 4 K cryogenic probe station is a state-of-the-art multi-probe (4-8 arms) cryogenic optoelectronic and microwave probe station designed to meet the demanding needs of advanced research and development in low-temperature environmentsこの探査ステーションは 精度と多用性のために設計され 4 ケルビン以下の冷凍温度で 装置をテストし 特...
AtomExplorer AFM: 材料分析用統合 MFM、EFM & KFM
製品の説明: Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、幅広い表面分析用途に卓越した性能と汎用性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な技術で設計されたこのAFM顕微鏡は、サブナノメートル分解能のAFM機能を備えており、研究者やエンジニアが表面の形状と特性を比類のない精度で観察および測定できます。わずか0.04ナノメートルの優れたZ軸ノイズレベルにより、最も微妙な表面の特徴でも正確に検出および分析できるため、ナノテクノロジー、材料科学、半導体研究に不可欠なツールとなっています。 Basic型原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、その多機能な測定能力です。静電フォース顕微鏡（EFM）、走...
高精度ナノスケール材料の特徴付けのためのMFM/KPFMモード
製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノスケールで比類のない画像と測定能力を提供するために設計された最先端のスキャン力顕微鏡です.XYZ3軸全サンプルスキャン方法でこのAFMは,サンプル表面の精密かつ包括的な検査を可能にし,ナノスケール研究および産業用アプリケーションで高い精度と繰り返し性を保証します.全サンプルスキャン能力により,顕微鏡はサンプル全域をスキャンできます詳細で完全な表面プロフィールを提供します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは 直径25ミリメートルまでのサンプルとの互換性ですこの寛大なサンプルサイズ収容は,幅広い科学的調査と材...
ニュース
最近 習安大学材料科学技術部の 量子システムとスピントロニクスセンターの研究チームは著名なナノサイエンスジャーナルに 非常に価値のある研究論文を発表しましたナノスケール (Royal Society of Chemistryの雑誌)...
ニュース
最近、遼寧科技大学化学工学部のクリーンエネルギー・燃料化学研究所の研究チームは、トップティアの水素エネルギージャーナルであるに掲載された論文のスクリーンショットと、権威ある界面化学ジャーナルであるに掲載された論文のスクリーンショットに、一連の最新の研究成果を連続して発表しました。Truth...
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