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Microscópio de Força Atômica Biológico com Alta Precisão e Resolução de 0,15 nm
High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides ...
Microscópio de Força Atômica de Alta Resolução 0,04 nm Microscópio Industrial para Análise em Nanoescala
High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and ...
Traçador de Loops de Histerezes de Escala de Wafer para Metrologia Magnética Sem Contato
Wafer Scale Hysteresis Tracer For Non Contact Magnetic Metrology Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for precise and efficient characterization of magnetic properties at the wafer level. This instrument is essential for ...
Teste de precisão de chip magnético tri-temporário Teste final para verificação de alta confiabilidade
Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the cutting-edge Magnetic Chip Final Test Machine, the ultimate solution for ATE for Magnetic Chips. This innovative product is designed to meet the demanding requirements of testing magnetic chips with ...
140 mT Estações de Teste de Sondas de Bolacha para Testes de Spintrônica e Nível de Bolacha
2D Magnetic Probe Station For Spintronics And Wafer Level Testing Product Description: The Vector Magnetic Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise measurements of magnetic fields in Spintronic devices. It is equipped with advanced features to accurately analyze the magnetic ...
Sistema de 4 K com Baixa Fuga: Compatibilidade de 2 polegadas, 0-67 GHz e Estabilidade de ±1,20 mK
Product Description: The PS-Cryo 4 K cryogenic probe station is a state-of-the-art multi-probe (4-8 arms) cryogenic optoelectronic and microwave probe station designed to meet the demanding needs of advanced research and development in low-temperature environments. Engineered for precision and ...
AtomExplorer: Microscópio de Força Atómica de Resolução Subnanométrica
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a highly versatile and reliable instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging with exceptional accuracy and stability. Engineered for researchers and professionals who demand high-performance scanning ...
Soluções versáteis de AFM para educação e investigação industrial
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is an advanced piece of Laboratory AFM equipment designed to meet the rigorous demands of scientific research. This AFM Microscope combines precision, versatility, and reliability, making it an ideal choice for researchers who require ...
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Notícia
Recentemente, a equipa de investigação do Centro de Espintrónica e Sistemas Quânticos da Escola de Ciência e Engenharia de Materiais da...
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Recentemente, a equipa de investigação do Instituto de Investigação de Energia Limpa e Química de Combustíveis,A Faculdade de Engenharia Química da...
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