AtomExplorer: AFM personalizável para medidas magnéticas e elétricas avançadas

Descrição do produto:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsProjetado com tecnologia avançada,Este modelo AFM oferece capacidades de imagem excepcionais que permitem aos usuários explorar estruturas de superfície na escala nanométrica com notável clareza e precisãoO seu design robusto suporta soluções de AFM personalizáveis para atender às diversas necessidades de cientistas, engenheiros e investigadores de materiais.

Uma das características destacadas do AFM de tipo Básico é o seu ponto de amostragem de imagem flexível, que varia de 32*32 até um impressionante 4096*4096.Esta ampla gama permite aos utilizadores ajustar a resolução e o campo de visão de acordo com as suas necessidades específicas, permitindo uma análise pormenorizada das características da superfície em nanoescala.O AFM proporciona um desempenho de imagem ideal sem comprometer a velocidade ou a precisão.

O método de varredura utilizado por este AFM é uma sofisticada técnica de varredura de amostra completa de três eixos XYZ.Esta abordagem assegura uma cobertura completa da superfície da amostra através do controlo preciso do movimento em todas as três dimensões espaciais.A capacidade de varredura de amostra completa facilita um mapeamento completo da superfície, capturando todas as nuances da topografia em nanoescala.Isto torna o AFM do tipo Básico uma escolha ideal para aplicações que exigem uma caracterização meticulosa da superfície.

Os modos operacionais são cruciais para adaptar a funcionalidade do AFM a diferentes tipos de amostra e objetivos experimentais.Modo de contactoO Modo Toque é particularmente útil para amostras moles ou delicadas, minimizando danos enquanto mantém imagens de alta resolução.O modo de contacto oferece interação directa com a superfície da amostra para medições robustas, enquanto o modo de elevação permite a varredura sem contato para analisar as forças de superfície sem interferência.Melhoria da capacidade de distinguir entre os diferentes componentes da superfície.

Além da imagem topográfica, o AFM do tipo Basic está equipado com capacidades de medição multifuncionais, expandindo significativamente sua utilidade.Integra técnicas avançadas como a Microscopia de Força Electrostática (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), e Magnetic Force Microscopy (MFM).piezoelétrico, e propriedades magnéticas na nanoescala, facilitando a caracterização abrangente do material.Esta versatilidade multifuncional torna o AFM do tipo Basic uma ferramenta indispensável para a investigação e desenvolvimento multidisciplinar.

Outro parâmetro crítico de desempenho é o nível de ruído do eixo Z, que tem um impacto direto na sensibilidade e precisão das medições verticais.O AFM do tipo Basic possui um nível de ruído do eixo Z impressionantemente baixo de 0Este baixo limiar de ruído aumenta a fiabilidade da tomografia topográfica em nanoescala e da análise quantitativa da superfície,permitir aos utilizadores confiar nos dados gerados pelo microscópio.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica de tipo Básico oferece uma poderosa combinação de imagens topográficas em nanoescala de alta resolução, técnicas avançadas de varredura e modos operacionais versáteis.As suas soluções AFM personalizáveis atendem a um amplo espectro de investigações científicas, fornecendo informações fiáveis e detalhadas sobre a morfologia da superfície e as propriedades dos materiais.Este modelo AFM foi concebido para proporcionar desempenho e adaptabilidade excepcionais.

Ao integrar a amostragem de imagem precisa, métodos de digitalização abrangentes, modos de medição multifuncionais e níveis de ruído ultra-baixo,O AFM do tipo Basic destaca-se como um dos principais instrumentos para a caracterização de superfícies em nanoescalaA sua capacidade de fornecer imagens topográficas em nanoescala detalhadas e análise multifuncional torna-a uma ferramenta vital para ampliar os limites da nanotecnologia e da ciência dos materiais.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de força atómica de tipo básico
• Pontos de amostragem de imagem: 32*32 a 4096*4096
• Tamanho da amostra: Φ 25 mm
• Método de varredura: varredura de amostra completa em três eixos XYZ
• Nível de ruído do eixo Z: 0,04 Nm
• Modo de funcionamento: Modo toque, Modo contacto, Modo elevador, Modo de imagem de fase
• Suporta análise de textura da superfície para caracterização detalhada do material
• Capazes de microscopia de força eletrostática (EFM) para mapeamento de propriedades elétricas
• Inclui a funcionalidade de microscopia de força de sonda de Kelvin para medição de potencial de superfície

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomExplorer é um microscópio de força atômica (AFM) versátil de tipo básico projetado para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação.Este microscópio avançado oferece um desempenho excepcional para profissionais envolvidos na análise de nanoestruturas e imagens de topografia em nanoescalaCom o seu nível de ruído preciso do eixo Z de apenas 0,04 Nm e a inovadora tecnologia de protecção da ponta com o modo de inserção segura da agulha,o AtomExplorer garante uma operação fiável e sem danos durante medições sensíveis.

Em ambientes industriais de investigação e desenvolvimento, o AtomExplorer serve como um poderoso microscópio industrial de I&D,permitindo que cientistas e engenheiros explorem materiais em nanoescala com confiançaAs suas opções de gama de digitalização abrangente de 100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μm acomodam-se a diversos tamanhos e resoluções de amostras,tornando-o ideal para aplicações que vão desde a inspecção de semicondutores até a ciência avançada de materiais.

O microscópio suporta vários modos operacionais, incluindo Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode,proporcionar flexibilidade para adaptar as técnicas de imagem às características específicas da amostraAlém disso, as capacidades de medição multifuncionais do AtomExplorer aumentam sua utilidade através da integração da Microscopia de Força Electrostática (EFM), da Microscopia de Probação de Kelvin (KPFM), da Microscopia de Força Electrostática (EFM) e da Microscopia de Probação de Kelvin (KPFM).Microscopia de força piezoelétrica (PFM)Estes modos avançados permitem uma análise abrangente das propriedades da superfície para além da mera topografia, tais como eléctrica, piezoeléctrica,e comportamentos magnéticos na nanoescala.

As ocasiões de aplicação típicas para o AtomExplorer incluem laboratórios de pesquisa acadêmica com foco em nanotecnologia, controle de qualidade industrial para fabricação de componentes em nanoescala,Investigações de ciência dos materiais que exijam uma caracterização detalhada da superfícieÉ igualmente adequado para a investigação farmacêutica para analisar os sistemas de distribuição de medicamentos e para estudos do sector energético que envolvam novos nanomateriais.Os utilizadores potenciais são encorajados a contactar a Truth Instruments para um orçamento detalhado adaptado às suas necessidades específicas..

Em resumo,O Truth Instruments AtomExplorer Microscópio de Força Atómica de tipo básico é uma ferramenta indispensável para qualquer ambiente que exija análise de nanoestrutura de alta precisão e imagens topográficas em nanoescalaAs suas características robustas, modos de operação flexíveis e capacidades de medição multifuncionais tornam-na uma excelente escolha para a I&D industrial e para além.