Microscópio de sonda de digitalização de alta precisão Resolução 0,15 nm Descrição do produto: O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades excepcionais para análise de superfície de resolução nanométrica.Este produto AFM proporciona imagens e medições ...

Microscópio de Sonda de Varredura Avançado para Medições em Nanoescala Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma ferramenta de ponta que oferece capacidades de medição multi-modo com resolução em nanômetros, tornando-o um instrumento essencial para diversas aplicações de ...

Microscópio de Força de Varredura de Alta Resolução Para Wafe Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta usado para imagem de alta resolução e análise de superfície em vários campos, como nanotecnologia, ciência dos materiais e biologia. Com suas capacidades ...

Descrição do produto: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avançado utiliza um método de ...

Descrição do produto:O microscópio de força atômica (AFM) é um instrumento de última geração projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis no mapeamento de propriedades da superfície em nanoescala.Projetado para satisfazer os exigentes requisitos da investigação avançada e aplicaç...

Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta projetado para análise de superfície de alta precisão e medição elétrica em nanoescala. Reconhecido por sua versatilidade e funcionalidade avançada, este AFM oferece um conjunto abrangente de recursos que o tornam ...

Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta projetado para análise e caracterização de superfícies de alta precisão na escala nanométrica. Esta ferramenta de medição multifuncional integra várias técnicas avançadas de microscopia, incluindo Microscopia de For...

Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento científico de ponta projetado para fornecer imagens de alta resolução e caracterização precisa de superfícies na nanoescala. Este microscópio avançado foi projetado para atender aos requisitos exigentes de várias aplicações ...

Microscópio de Força Atômica de Nível de Wafer Modelo de produto: Atommax Resumo do produto: Utilizando estruturas de sonda de micro-cantilever, este instrumento permite a caracterização morfológica 3D de materiais sólidos condutores, semicondutores e isolantes,alcançar a caracterização da ...