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scanning probe microscope

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  • AtomExplorer AFM: MFM, EFM e KFM integrados para análise de materiais

    Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento de ponta projetado para oferecer desempenho e versatilidade excepcionais para uma ampla gama de aplicações de análise de superfície. Projetado com tecnologia avançada, este microscópio AFM oferece capacidades ...
  • AtomExplorer: AFM personalizável para medidas magnéticas e elétricas avançadas

    Descrição do produto: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsProjetado com tecnologia avançada,Este modelo AFM oferece capacidades de ...
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