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products for "scanning probe microscope
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AtomExplorer AFM: Integrierte MFM, EFM und KFM für die Materialanalyse
Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein hochmodernes Instrument, das außergewöhnliche Leistung und Vielseitigkeit für eine Vielzahl von Oberflächenanalyseanwendungen bietet. Dieses AFM-Mikroskop wurde mit fortschrittlicher Technologie entwickelt und bietet AFM... -
AtomExplorer: Anpassbares AFM für fortschrittliche magnetische und elektrische Messungen
Beschreibung des Produkts: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications. mit fortschrittlicher Technologie entwickelt,Dieses AFM-Modell ...