Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein hochmodernes Instrument, das außergewöhnliche Leistung und Vielseitigkeit für eine Vielzahl von Oberflächenanalyseanwendungen bietet. Dieses AFM-Mikroskop wurde mit fortschrittlicher Technologie entwickelt und bietet AFM...

Beschreibung des Produkts: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications. mit fortschrittlicher Technologie entwickelt,Dieses AFM-Modell ...