logo
Found

29

products for "

scanning probe microscope

"
  • AtomExplorer AFM: MFM, EFM และ KFM ที่บูรณาการสําหรับการวิเคราะห์วัสดุ

    รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ชนิดพื้นฐานเป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาเพื่อมอบประสิทธิภาพและความสามารถรอบด้านที่ยอดเยี่ยมสำหรับการใช้งานการวิเคราะห์พื้นผิวที่หลากหลาย ออกแบบด้วยเทคโนโลยีขั้นสูง กล้องจุลทรรศน์ AFM นี้มีความสามารถ AFM ที่มีความละเอียดระดับต่ำกว่านาโนเมตร ทำให้ผู้ทำ...
  • AtomExplorer: เครื่อง AFM ที่ปรับแต่งได้สำหรับการวัดทางแม่เหล็กและไฟฟ้าขั้นสูง

    คําอธิบายสินค้า: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsออกแบบด้วยเทคโนโลยีที่ทันสมัยตัวแบบ AFM นี้มีสมรรถนะในการถ่ายภาพที่พิเศษ ที่ทํ...
ก่อนหน้า ต่อไป
ก่อนหน้า
Page 4 ของ 4
ต่อไป