พบ
29
ผลิตภัณฑ์สำหรับ "scanning probe microscope
"-
โซลูชัน AFM อเนกประสงค์สำหรับการศึกษาและการวิจัยทางอุตสาหกรรม
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is an advanced piece of Laboratory AFM equipment designed to meet the rigorous demands of scientific research. This AFM Microscope combines precision, versatility, and reliability, making it an ideal choice for researchers who require ... -
AtomExplorer: เครื่อง AFM ที่ปรับแต่งได้สำหรับการวัดทางแม่เหล็กและไฟฟ้าขั้นสูง
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications. Engineered with advanced technology, this AFM model offers exceptional ...