Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
AtomExplorer AFM: MFM tích hợp, EFM & KFM cho phân tích vật liệu
Mô tả sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để mang lại hiệu suất và tính linh hoạt vượt trội cho nhiều ứng dụng phân tích bề mặt. Được thiết kế với công nghệ tiên tiến, kính hiển vi AFM này cung cấp khả năng AFM với độ phân giải dưới nanomet, ... -
AtomExplorer: AFM tùy chỉnh cho các biện pháp từ tính và điện tiên tiến
Mô tả sản phẩm: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsĐược thiết kế với công nghệ tiên tiến,mô hình AFM này cung cấp khả năng hình ...