Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
AtomExplorer AFM: Zintegrowany MFM, EFM i KFM do analizy materiałów
Opis produktu: Mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic to najnowocześniejsze urządzenie zaprojektowane w celu zapewnienia wyjątkowej wydajności i wszechstronności dla szerokiego zakresu zastosowań w analizie powierzchni. Zaprojektowany z wykorzystaniem zaawansowanej technologii, ten mikroskop AFM ... -
AtomExplorer: Dostosowany AFM do zaawansowanych pomiarów magnetycznych i elektrycznych
Opis produktu: Mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic to wszechstronne i wydajne urządzenie, zaprojektowane do precyzyjnego obrazowania topografii w nanoskali dla szerokiego zakresu zastosowań badawczych i przemysłowych. Zaprojektowany z wykorzystaniem zaawansowanej technologii, ten model AFM ...