Mikroskop sondy o wysokiej precyzji rozdzielczości 0,15 nm Opis produktu: Mikroskop siły atomowej (AFM) to najnowocześniejszy instrument, który oferuje wyjątkowe możliwości analizy powierzchni rozdzielczości nanometru. Z zakresem skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm, ten produkt AFM zapewnia ...

Zaawansowany mikroskop sondy skanującej do pomiarów w nanoskali Opis produktu: Mikroskop sił atomowych (AFM) jest najnowocześniejszym narzędziem, które oferuje możliwości pomiarów wielowarunkowych o rozdzielczości nanometrowej.co czyni go niezbędnym instrumentem do różnych badań i zastosowań przemys...

Mikroskop wysokiej siły skanowania Opis produktu: Mikroskop sił atomowych (AFM) jest najnowocześniejszym instrumentem wykorzystywanym do obrazowania o wysokiej rozdzielczości i analizy powierzchni w różnych dziedzinach, takich jak nanotechnologia, nauka o materiałach i biologia.Dzięki zaawansowanym ...

Opis produktu: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsTen zaawansowany instrument wykorzystuje trzyosiową metodę ...

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy instrument zaprojektowany w celu zapewnienia niezrównanej precyzji i wszechstronności w mapowaniu właściwości powierzchni w skali nanometrycznej.Zaprojektowane w celu spełnienia wymagań zaawansowanych badań naukowych i zastosowań ...

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy instrument przeznaczony do analizy powierzchni o wysokiej precyzji i pomiarów elektrycznych w nanoskali.Znany ze swojej wszechstronności i zaawansowanej funkcjonalności, ten AFM oferuje kompleksowy zestaw funkcji, które czynią go ...

Opis produktu: Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane urządzenie przeznaczone do precyzyjnej analizy i charakteryzacji powierzchni w skali nanometrów. To wielofunkcyjne narzędzie pomiarowe integruje kilka zaawansowanych technik mikroskopowych, w tym Mikroskopię Sił Elektrostatycznych (EFM), ...

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) jest najnowocześniejszym instrumentem naukowym zaprojektowanym w celu wykonania obrazów o wysokiej rozdzielczości i dokładnej charakterystyki powierzchni w nanoskali.Ten zaawansowany mikroskop został zaprojektowany tak, by spełniać wymagające wymagania ró...

Mikroskop siły atomowej na poziomie opłatek Model produktu: AMomx Przegląd produktu: Korzystając z struktur sondy mikrokrzewnicy, ten instrument umożliwia charakterystykę morfologii 3D przewodzących, półprzewodnikowych i izolacyjnych materiałów stałych, osiągając charakterystykę morfologii na ...