高精度スキャン探査機顕微鏡 0.15 nm解像度 製品説明: 原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノメートルの解像度での表面分析に例外的な能力を提供する最先端の機器です.スキャン範囲は100μm × 100μm × 10μmで,このAFM製品では,最大200mmの尺寸のサンプルを正確に撮影し測定できます.. このAFMの主要な特徴の1つは,探査機の種類における汎用性です.ユーザーは,シリコン,ダイヤモンド,ゴールド,プラチナ,炭素ナノチューブ探査機を含む様々な探査機材料から選択することができます.異なるサンプルタイプと画像処理のニーズに合わせたアプロ...

ナノスケール測定のための先端スキャン探査機顕微鏡 製品説明: 原子力顕微鏡 (AFM) は ナノメートルの解像度で多モード測定能力を提供する 最先端のツールです様々な研究や産業用アプリケーションにとって不可欠なツールとなる. 0.04nmの驚くべき解像度で,AFMはナノスケールレベルで高精度画像と表面地形の測定を提供します.この卓越した解像度により 研究者や科学者は 試料を未曾有の詳細と精度で調査し分析することができます. AFMは,コンタクト,タッピング,非コンタクト,横向き力,力調節モードを含む汎用的なスキャンモードを提供しています.この多機能性により,使用者はAFMを異なる実験要件に適合...

ウェーハ用高走査力顕微鏡 製品説明: 原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノテクノロジー、材料科学、生物学などのさまざまな分野で、高解像度イメージングと表面分析に使用される最先端の機器です。その高度な機能と精密な測定により、AFMは、ナノスケールレベルでの表面特性に関する詳細な洞察を求める研究者や科学者にとって不可欠なツールです。 AFMの重要な特徴の1つは、トポグラフィー、位相、摩擦、および横力イメージングを含む、その多様なイメージングモードです。これらのモードにより、ユーザーは、高さの変動、材料のコントラスト、摩擦特性、および横力など、サンプルの表面に関する詳細な情報を取得できます。これらのイメ...

製品説明: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsこの高度な機器は,XYZ3軸全サンプルスキャン方法を採用し,ユーザは例外的な精度と詳細でサンプル表面を細かく分析することができます.材料科学...

製品説明: 原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケールでの表面特性マッピングにおいて、比類のない精度と多様性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な研究および産業用途の厳しい要件を満たすように設計されており、このAFMは、半導体、磁性材料、およびその他のさまざまな表面を扱う科学者やエンジニアにとって不可欠なツールとなる包括的な機能セットを提供します。 この原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、0.1～30 Hzの範囲の印象的な走査速度です。この幅広い走査速度スペクトルにより、ユーザーはサンプルと実験の特定のニーズに応じて、走査の速度と解像度を調整できます。詳細な高解像度表面分析が必要な...

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は 高精度な表面分析とナノスケールでの電気測定のために設計された最先端の機器です汎用性と高度な機能で知られていますこのAFMは,研究と産業の両方のアプリケーションで不可欠なツールとなるような,包括的な機能を提供しています.ユーザは,幅広いサンプルタイプと実験要件に合わせてイメージング速度を調整できます.データの質と効率を最適にする この原子力顕微鏡の 特徴の一つは わずか0.04nmで 測定された Z方向での 異常な低騒音レベルですこの超低騒音床は,非常に敏感な表面プロファイリングと地形画像を可能にしますナノスケールでの細部を著しい明確さで捉える.このような...

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は,ナノメートルのスケールで高精度な表面分析と特徴付けのために設計された最先端の機器です.この多機能測定ツールには,いくつかの高度な顕微鏡技術が統合されています電気静止力顕微鏡 (EFM),スキャニングケルヴィン探査機顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力顕微鏡 (MFM),および力曲線測定を含む.半導体などの分野で働く研究者や技術者にとって不可欠なツールですナノメートルの解像度での表面特性を理解することが重要です. このAFMの特徴の一つは,Z方向での騒音レベルが非常に低く,わずか0.04nmで測定されています.この超低騒音床は,非常に...

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は ナノスケールで高解像度画像と精密な表面特性を提供するために設計された 最先端の科学機器ですこの 先端 な顕微鏡 は,様々な 研究 や 産業 用 の 要求 に 応える よう 設計 さ れ て い ます半導体,材料科学,ナノテクノロジーなどの分野においてAFMは,比類のない多用性と精度を提供しています原子解像度で表面特性を調べることができる. この原子力顕微鏡の特徴の1つは 100 μm * 100 μm * 10 μm の印象的なスキャン範囲で,さまざまなサンプルを収納することができます.このシステムは,直径25mmまでのサンプルに対応します.半導体ウエー...

ウェーハレベル原子間力顕微鏡 製品モデル: Atommax 製品概要: マイクロカンチレバープローブ構造を使用し、導電性、半導電性、絶縁性の固体材料の3D形態特性評価を可能にし、ウェーハレベルの大サンプル形態特性評価を実現します。光学画像と組み合わせることで、電気駆動のサンプル位置決めステージにより、200 x 200 mmの範囲内で1μmの位置決め精度を実現します。レーザーアライメント、プローブアプローチ、スキャンパラメータ調整の全自動操作が可能です。 機器性能仕様 パラメータ 仕様 サンプルサイズ 8インチウェーハ以下に対応 スキャン範囲 最大100μm * 100μm * 910μm ス...