エレクトロニクス,バイオマテリアル,精密研究アプリケーションのための柔軟な3Dスキャン

製品説明:

原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケールでの表面特性マッピングにおいて、比類のない精度と多様性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な研究および産業用途の厳しい要件を満たすように設計されており、このAFMは、半導体、磁性材料、およびその他のさまざまな表面を扱う科学者やエンジニアにとって不可欠なツールとなる包括的な機能セットを提供します。

この原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、0.1～30 Hzの範囲の印象的な走査速度です。この幅広い走査速度スペクトルにより、ユーザーはサンプルと実験の特定のニーズに応じて、走査の速度と解像度を調整できます。詳細な高解像度表面分析が必要な場合でも、より高速で広範囲の走査が必要な場合でも、このAFMはタスクにシームレスに適応します。

この顕微鏡は、高度なXYZ三軸フルサンプル走査方式を採用しており、サンプル表面全体にわたる包括的なカバレッジと正確な位置決めを保証します。この機能は、高解像度または精度を損なうことなく、広い領域にわたる詳細なイメージングと測定を可能にするため、正確な表面特性マッピングに不可欠です。

作業モードの多様性も、このAFMの重要な利点です。コンタクトモード、タップモード、位相イメージングモード、リフトモード、多方向走査モードなど、複数の作業モードをサポートしています。各モードは、プローブとサンプルの間の独自の相互作用メカニズムを提供し、さまざまな表面特性の調査を可能にします。たとえば、コンタクトモードは高解像度トポグラフィーイメージングに最適であり、タップモードは表面に断続的に接触することにより、サンプルの損傷を最小限に抑えます。位相イメージングモードとリフトモードは、付着力、剛性、磁気相互作用など、単なるトポグラフィーを超えた材料特性を明らかにする追加のコントラストメカニズムを提供します。多方向走査モードは、さまざまな方向からサンプルを走査することにより、イメージングの柔軟性をさらに高め、データの信頼性と詳細を向上させます。

原子間力顕微鏡では精度が最も重要であり、この製品はZ方向でわずか0.04 nmという驚くほど低いノイズレベルで優れています。このような低いノイズフロアにより、表面の高さのわずかな変動でも非常に鮮明に検出され、半導体ウェーハ検査やナノ構造特性評価など、ナノスケール精度を必要とする用途に不可欠です。

トポグラフィーイメージングを超えて、この原子間力顕微鏡には、そのアプリケーション範囲を大幅に広げる多機能測定機能が搭載されています。静電フォース顕微鏡（EFM）、走査ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）、およびフォースカーブ測定などの高度な技術を統合しています。これらの機能により、ユーザーはナノスケールで材料の電気的、磁気的、圧電的、および機械的特性を調べることができます。

特に磁気フォース顕微鏡（MFM）は、材料内の磁気ドメインと相互作用を研究するための強力な機能です。この機能は、磁気記憶装置、センサー、およびその他のスピントロニクスアプリケーションの開発と分析に不可欠です。一方、EFMやKPFMなどの技術は、半導体研究や表面電荷研究に不可欠な詳細な電気特性マッピングを容易にします。

圧電フォース顕微鏡（PFM）を使用すると、さまざまな電子および電気機械デバイスで重要な圧電材料および強誘電材料を調べることができます。フォースカーブ測定の追加により、マイクロからナノスケールレベルでの剛性や付着力などの機械的特性の調査が可能になり、材料の挙動に関する包括的な洞察が得られます。

全体として、この原子間力顕微鏡は、高度な表面特性マッピング向けに調整された、用途が広く高性能な機器として際立っています。高い走査速度、フルXYZ走査機能、複数の作業モード、超低ノイズ、および多機能測定オプションの組み合わせにより、半導体技術から磁性材料研究に至るまで、さまざまな分野で不可欠なツールとなっています。ナノスケール分析の限界を押し広げようとしている研究者や専門家は、このAFMを研究室で非常に貴重な資産と見なすでしょう。

特徴:

• 製品名：原子間力顕微鏡（AFM）
• 非線形性：XY方向で0.15％、Z方向で1％
• サンプルサイズ：最大25 mm
• 画像サンプリングポイント：走査プローブ画像の最大解像度は4096*4096
• 静電フォース顕微鏡（EFM）、走査ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）、フォースカーブ分析などの多機能測定機能
• 走査速度：0.1～30 Hzで調整可能
• 高解像度表面分析のための非接触モードをサポート
• 詳細な磁気特性評価のための高度な磁気フォース顕微鏡

技術的パラメータ:

アプリケーション:

中国発のTruth Instruments AtomEdge Pro原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノメートル解像度のイメージングと分析を必要とする幅広いアプリケーションの機会とシナリオ向けに設計された最先端の機器です。コンタクトモード、タップモード、位相イメージングモード、リフトモード、多方向走査モードなどの多様な作業モードにより、研究環境と産業環境の両方で不可欠なツールとなっています。

学術研究室では、AtomEdge Proは一般的に表面特性評価とナノスケール材料分析に使用されます。最大画像サンプリングポイントが4096*4096の高解像度イメージングを実現できるため、研究者はナノメートルスケールで表面トポグラフィー、機械的特性、電気的特性を研究できます。この機能は、表面相互作用と特性の理解が不可欠な材料科学、物理学、化学、生物学などの分野で特に価値があります。

半導体およびエレクトロニクス業界では、AtomEdge Proは、詳細な表面形態と電気特性マッピングを提供することにより、品質管理と故障分析をサポートします。走査ケルビンプローブ顕微鏡などの高度な技術の導入により、デバイスの性能と信頼性を最適化するために不可欠な表面電位変動の正確な測定が可能になります。

ナノテクノロジー開発センターと研究所も、AtomEdge Proの優れた感度とZ方向の低ノイズレベル（0.04 nm）の恩恵を受けており、超薄膜、ナノ構造、生体分子の正確な測定を容易にします。0.1～30 Hzの走査速度範囲により、実験要件に応じて解像度とスループットのバランスを取りながら、柔軟なイメージング速度が可能になります。

この機器の最大サンプルサイズ25 mmは、小さなナノ材料から大きな生物学的サンプルや微細加工デバイスまで、さまざまな標本に対応します。さらに、多方向走査モードはイメージングの柔軟性を高め、さまざまな角度と視点からの包括的な表面分析を可能にします。

全体として、Truth Instruments AtomEdge Pro AFMは、表面粗さ測定、薄膜分析、ポリマー特性評価、ナノスケール電気特性マッピングなどの多様なアプリケーションに適しています。その高度な機能と堅牢な性能により、ナノテクノロジー研究、半導体製造、生体材料調査、およびその他の多くの高精度科学および産業用途で不可欠なツールとなっています。

サポートとサービス:

当社の原子間力顕微鏡（AFM）製品には、最適なパフォーマンスと顧客満足度を確保するための包括的な技術サポートとサービスが付属しています。当社の専門家チームは、インストール、キャリブレーション、メンテナンス、トラブルシューティングを支援することに専念しています。

AFMを効率的に操作するのに役立つ詳細なユーザーマニュアルとソフトウェアガイドを提供しています。機能性を高め、新機能を紹介するために、定期的なソフトウェアアップデートが利用可能です。

電子メールやオンラインリソースによるリモートサポートに加えて、複雑な問題や定期的なメンテナンスのためにオンサイトサービス訪問を提供しています。また、ユーザーがAFMシステムの機能を最大限に活用するのに役立つトレーニングセッションとワークショップも利用できます。

当社のコミットメントは、交換部品とアクセサリを提供することにまで及び、機器の寿命と信頼性を確保します。保証の詳細とサービス条件については、AFMに付属のドキュメントを参照してください。

技術的な問い合わせやサービスリクエストについては、当社のサポートチームが迅速に対応し、ダウンタイムを最小限に抑え、研究の生産性を維持します。

よくある質問:

Q1：この原子間力顕微鏡のブランドとモデルは何ですか？

A1：原子間力顕微鏡はTruth Instrumentsブランドのもので、モデル番号はAtomEdge Proです。

Q2：AtomEdge Proはどこで製造されていますか？

A2：AtomEdge Pro原子間力顕微鏡は中国で製造されています。

Q3：AtomEdge Pro AFMの主な用途は何ですか？

A3：AtomEdge Proは、研究および産業環境における高解像度表面イメージング、ナノスケール測定、および材料特性評価に使用されます。

Q4：AtomEdge Proで分析できるサンプルの種類は何ですか？

A4：AtomEdge Proは、生物学的標本、ポリマー、半導体、ナノ材料など、幅広いサンプルを分析できます。

Q5：AtomEdge Proは複数のイメージングモードをサポートしていますか？

A5：はい、AtomEdge Proは、さまざまなサンプルタイプと研究ニーズに合わせて、コンタクトモード、タッピングモード、非接触モードなどのさまざまなイメージングモードをサポートしています。