Pemindaian 3D Fleksibel Untuk Elektronika, Biomaterial & Aplikasi Penelitian Presisi

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan fleksibilitas yang tak tertandingi dalam pemetaan properti permukaan pada skala nanometer.Dirancang untuk memenuhi persyaratan yang menuntut penelitian lanjutan dan aplikasi industri, AFM ini menawarkan serangkaian fitur yang komprehensif yang menjadikannya alat yang sangat diperlukan bagi para ilmuwan dan insinyur yang bekerja dengan semikonduktor, bahan magnet, dan berbagai permukaan lainnya.

Salah satu fitur menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah kecepatan pemindainya yang mengesankan, yang berkisar dari 0,1 hingga 30 Hz.Spektrum kecepatan pemindaian yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan kecepatan dan resolusi pemindaian mereka sesuai dengan kebutuhan spesifik sampel dan eksperimen merekaApakah analisis permukaan yang rinci dan resolusi tinggi atau pemindaian yang lebih cepat dan lebih luas diperlukan, AFM ini beradaptasi dengan lancar dengan tugas.

Mikroskop menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang canggih, memastikan cakupan yang komprehensif dan posisi yang tepat di seluruh permukaan sampel.Kemampuan ini sangat penting untuk pemetaan properti permukaan yang akurat, karena memungkinkan pencitraan dan pengukuran rinci di area yang luas tanpa mengorbankan resolusi atau akurasi.

Versatilitas dalam mode kerja adalah keuntungan utama lain dari AFM ini.dan Multi-directional Scanning ModeSetiap mode menawarkan mekanisme interaksi yang unik antara probe dan sampel, memungkinkan penyelidikan dari berbagai karakteristik permukaan.Contact Mode sangat ideal untuk pemotretan topografi resolusi tinggi, sementara Tap Mode meminimalkan kerusakan sampel dengan secara intermiten menghubungi permukaan.Mode Pencitraan Fase dan Mode Lift menyediakan mekanisme kontras tambahan yang mengungkapkan sifat material di luar topografi semata, seperti adhesi, kekakuan, dan interaksi magnetik. Multi-directional Scanning Mode lebih meningkatkan fleksibilitas pencitraan dengan memindai sampel dari orientasi yang berbeda,meningkatkan keandalan dan detail data.

Keakuratan sangat penting dalam mikroskop kekuatan atom, dan produk ini unggul dengan tingkat kebisingan yang sangat rendah di arah Z, diukur hanya 0,04 nm.Lantai bersuara rendah ini memastikan bahwa bahkan variasi terkecil dalam ketinggian permukaan terdeteksi dengan kejelasan yang luar biasa, yang sangat penting untuk aplikasi yang membutuhkan akurasi skala nano, seperti inspeksi wafer semikonduktor dan karakterisasi struktur nano.

Di luar pencitraan topografi, Mikroskop Kekuatan Atom ini dilengkapi dengan kemampuan pengukuran multifungsi yang secara signifikan memperluas ruang lingkup aplikasinya.Ini mengintegrasikan teknik canggih seperti Elektrostatic Force Microscopy (EFM), Pemindaian Mikroskopi Kekuatan Probe Kelvin (KPFM), Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM), dan pengukuran kurva gaya.Fungsionalitas ini memungkinkan pengguna untuk menyelidiki listrik, sifat magnetik, piezoelektrik, dan mekanik dari bahan pada skala nano.

Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM), khususnya, adalah fitur yang kuat untuk mempelajari domain magnetik dan interaksi dalam bahan.Kemampuan ini sangat penting dalam pengembangan dan analisis perangkat penyimpanan magnetikSementara itu, teknik seperti EFM dan KPFM memfasilitasi pemetaan properti listrik yang terperinci,yang penting dalam penelitian semikonduktor dan studi muatan permukaan.

Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM) memungkinkan pemeriksaan bahan piezoelektrik dan ferroelektrik, yang penting dalam berbagai perangkat elektronik dan elektromekanik.Penggabungan pengukuran Force Curve memungkinkan penyelidikan sifat mekanik seperti kekakuan dan adhesi pada tingkat mikro hingga nanoscale, memberikan wawasan yang komprehensif tentang perilaku material.

Secara keseluruhan, Mikroskop Kekuatan Atom ini menonjol sebagai instrumen serbaguna dan berkinerja tinggi yang disesuaikan untuk pemetaan sifat permukaan canggih.kemampuan pemindaian XYZ penuh, banyak mode kerja, kebisingan yang sangat rendah, dan pilihan pengukuran multifungsi membuatnya menjadi alat penting di bidang mulai dari teknologi semikonduktor hingga penelitian bahan magnetik.Peneliti dan profesional yang ingin mendorong batas-batas analisis nanoscale akan menemukan AFM ini aset yang sangat berharga di laboratorium mereka.

Fitur:

• Nama produk: Atomic Force Microscope (AFM)
• Nonlinearity: 0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z
• Ukuran sampel: Hingga 25 mm
• Titik Sampling Gambar: Resolusi maksimum gambar probe pemindaian adalah 4096*4096
• Kemampuan pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM),Mikroskop Kekuatan Magnetik (MFM), dan analisis Force Curve
• Kecepatan pemindaian: disesuaikan dari 0,1 hingga 30 Hz
• Mendukung mode Non-kontak untuk analisis permukaan resolusi tinggi
• Mikroskopi Kekuatan Magnetik Lanjutan untuk karakterisasi sifat magnetik yang rinci

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), berasal dari Cina,adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi yang membutuhkan pencitraan dan analisis resolusi nanometer. Mode kerja serbaguna, termasuk Mode Kontak, Mode Tap, Mode Imaging Phase, Lift Mode, dan Multi-directional Scanning Mode,Membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan baik dalam lingkungan penelitian maupun industri.

Di laboratorium penelitian akademik, AtomEdge Pro umumnya digunakan untuk karakterisasi permukaan dan analisis bahan skala nano.Kemampuannya untuk mencapai pencitraan resolusi tinggi dengan titik pengambilan sampel gambar maksimum 4096*4096 memungkinkan para peneliti untuk mempelajari topografi permukaanKemampuan ini sangat berharga di bidang-bidang seperti ilmu material, fisika, kimia, dan biologi.dimana pemahaman interaksi dan sifat permukaan sangat penting.

Dalam industri semikonduktor dan elektronik, AtomEdge Pro mendukung kontrol kualitas dan analisis kegagalan dengan menyediakan morfologi permukaan yang rinci dan pemetaan sifat listrik.Penggabungan teknik canggih seperti Scanning Kelvin Probe Microscopy memungkinkan pengukuran yang tepat dari variasi potensi permukaan, yang sangat penting untuk mengoptimalkan kinerja dan keandalan perangkat.

Pusat pengembangan dan laboratorium nanoteknologi juga mendapat manfaat dari sensitivitas yang luar biasa dan tingkat kebisingan yang rendah dalam arah Z (0,04 nm) AtomEdge Pro.yang memfasilitasi pengukuran yang akurat dari film ultra tipis, nanostruktur, dan biomolekul. rentang kecepatan pemindaian dari 0,1-30 Hz memungkinkan kecepatan pencitraan yang fleksibel, menyeimbangkan resolusi dan throughput tergantung pada persyaratan eksperimental.

Ukuran sampel maksimum instrumen ini adalah 25 mm dan dapat menampung berbagai macam sampel, mulai dari nanomaterial kecil hingga sampel biologis yang lebih besar dan perangkat mikro.modus pemindaian multi arah meningkatkan fleksibilitas pencitraan, memungkinkan analisis permukaan yang komprehensif dari berbagai sudut dan perspektif.

Secara keseluruhan, Truth Instruments AtomEdge Pro AFM cocok untuk berbagai aplikasi seperti pengukuran kasar permukaan, analisis film tipis, karakterisasi polimer,dan pemetaan sifat listrik berskala nanoFitur canggih dan kinerja yang kuat membuatnya menjadi alat penting dalam penelitian nanoteknologi, manufaktur semikonduktor, penelitian biomaterial,dan banyak aplikasi ilmiah dan industri presisi tinggi lainnya.

Dukungan dan Layanan:

Produk Atomic Force Microscope (AFM) kami dilengkapi dengan dukungan teknis dan layanan yang komprehensif untuk memastikan kinerja optimal dan kepuasan pelanggan.Tim ahli kami berdedikasi untuk membantu Anda dengan instalasi, kalibrasi, perawatan, dan pemecahan masalah.

Kami menyediakan manual pengguna dan panduan perangkat lunak yang terperinci untuk membantu Anda mengoperasikan AFM secara efisien. Pembaruan perangkat lunak secara teratur tersedia untuk meningkatkan fungsionalitas dan memperkenalkan fitur baru.

Selain dukungan jarak jauh melalui email dan sumber daya online, kami menawarkan kunjungan layanan di tempat untuk masalah yang kompleks dan pemeliharaan rutin.Sesi pelatihan dan lokakarya juga tersedia untuk membantu pengguna memaksimalkan kemampuan sistem AFM.

Komitmen kami meluas untuk menyediakan suku cadang dan aksesoris, memastikan umur panjang dan keandalan instrumen Anda.Silakan lihat dokumentasi yang disediakan dengan AFM Anda untuk rincian garansi dan persyaratan layanan.

Untuk setiap pertanyaan teknis atau permintaan layanan, tim dukungan kami siap membantu Anda dengan segera untuk meminimalkan waktu henti dan menjaga produktivitas penelitian Anda.

FAQ:

T1: Apa merek dan model dari Atomic Force Microscope ini?

A1: Mikroskop Kekuatan Atom berasal dari merek Truth Instruments, dan nomor modelnya adalah AtomEdge Pro.

T2: Di mana AtomEdge Pro diproduksi?

A2: AtomEdge Pro Atomic Force Microscope diproduksi di Cina.

T3: Apa aplikasi utama dari AtomEdge Pro AFM?

A3: AtomEdge Pro digunakan untuk pencitraan permukaan resolusi tinggi, pengukuran skala nanometer, dan karakterisasi bahan dalam penelitian dan lingkungan industri.

T4: Jenis sampel apa yang dapat dianalisis dengan AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro dapat menganalisis berbagai sampel termasuk spesimen biologis, polimer, semikonduktor, dan nanomaterial.

T5: Apakah AtomEdge Pro mendukung beberapa mode pencitraan?

A5: Ya, AtomEdge Pro mendukung berbagai mode pencitraan seperti mode kontak, mode mengetuk, dan mode non-kontak agar sesuai dengan berbagai jenis sampel dan kebutuhan penelitian.