Гибкое 3D сканирование для электроники, биоматериалов и исследований точности

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это современный инструмент, предназначенный для обеспечения непревзойденной точности и универсальности в картографировании свойств поверхности в наномасштабе.Проектировано для удовлетворения требований передовых исследований и промышленных приложений, этот AFM предлагает полный набор функций, которые делают его незаменимым инструментом для ученых и инженеров, работающих с полупроводниками, магнитными материалами и различными другими поверхностями.

Одной из особенностей этого микроскопа атомной силы является его впечатляющая скорость сканирования, которая колеблется от 0,1 до 30 Гц.Этот широкий спектр скорости сканирования позволяет пользователям адаптировать скорость и разрешение своих сканирований в соответствии с конкретными потребностями их образца и экспериментаНезависимо от того, требуется ли подробный анализ поверхности с высоким разрешением или более быстрый, более широкий сканирование, этот AFM легко адаптируется к задаче.

Микроскоп использует передовой трехосевой метод сканирования полного образца XYZ, обеспечивающий всестороннее покрытие и точное расположение на всей поверхности образца.Эта способность имеет решающее значение для точного отображения свойств поверхности, поскольку он позволяет получать подробные изображения и измерения на больших площадях без ущерба для разрешения или точности.

Универсальность в режимах работы является еще одним ключевым преимуществом этого AFM. Он поддерживает несколько режимов работы, включая контактный режим, режим нажатия, режим фазового изображения, режим подъема,и многонаправленный режим сканированияКаждый режим предлагает уникальные механизмы взаимодействия между зондом и образцом, что позволяет исследовать различные характеристики поверхности.Контактный режим идеально подходит для топографических изображений высокого разрешения, в то время как Tap Mode минимизирует повреждение образца путем периодического контакта с поверхностью.Режим фазового изображения и режим подъема обеспечивают дополнительные контрастные механизмы, которые показывают свойства материала за пределами простой топографииМногонаправленный режим сканирования дополнительно повышает гибкость изображения, сканируя образец с разных направлений,повышение надежности и детализации данных.

В микроскопии атомной силы крайне важна точность, и этот продукт превосходит себя чрезвычайно низким уровнем шума в направлении Z, измеренным всего на 0,04 нм.Такой низкий уровень шума обеспечивает, что даже самые незначительные изменения высоты поверхности обнаруживаются с исключительной ясностью, что имеет решающее значение для приложений, требующих точности на наномасштабе, таких как инспекция полупроводниковых пластин и характеристика наноструктуры.

Помимо топографической визуализации, этот микроскоп атомной силы оснащен многофункциональными возможностями измерений, которые значительно расширяют сферу его применения.Он включает в себя передовые методы, такие как электростатическая силовая микроскопия (ЭФМ), сканирование микроскопией силовых зондов Кельвина (KPFM), микроскопией пиезоэлектрической силы (PFM), микроскопией магнитной силы (MFM) и измерениями кривой силы.Эти функции позволяют пользователям исследовать электрические, магнитные, пьезоэлектрические и механические свойства материалов в наномасштабе.

В частности, микроскопия магнитной силы (МФС) является мощной функцией для изучения магнитных областей и взаимодействий внутри материалов.Эта способность необходима для разработки и анализа магнитных устройств храненияВ то же время такие методы, как EFM и KPFM, облегчают детальное отображение электрических свойств,который имеет жизненно важное значение в исследованиях полупроводников и исследованиях поверхностного заряда.

Пиезоэлектрическая силовая микроскопия позволяет исследовать пиезоэлектрические и ферроэлектрические материалы, которые имеют решающее значение в различных электронных и электромеханических устройствах.Включение измерений кривой силы позволяет исследовать механические свойства, такие как жесткость и адгезия на микро- и наноуровневом уровне, предоставляя всестороннее понимание материального поведения.

В целом, этот микроскоп атомной силы выделяется как универсальный, высокопроизводительный инструмент, предназначенный для расширенного картографирования свойств поверхности.полная возможность сканирования XYZ, множественные режимы работы, сверхнизкий уровень шума и многофункциональные возможности измерения делают его важным инструментом в областях, начиная от технологии полупроводников и заканчивая исследованиями магнитных материалов.Исследователи и специалисты, стремящиеся расширить границы наномасштабного анализа, найдут этот AFM неоценимым активом в своих лабораториях.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы (AFM)
• Нелинейность: 0,15% в направлении XY и 1% в направлении Z
• Размер образца: до 25 мм
• Точка отбора образцов из изображения: максимальное разрешение изображения сканирующего зонда 4096*4096
• Многофункциональные возможности измерений, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий Кельвинский силовой микроскоп (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM),Магнитно-силовой микроскоп (МФМ), и анализ кривой силы
• Скорость сканирования: регулируется от 0,1 до 30 Гц
• Поддерживает бесконтактный режим для анализа поверхности с высоким разрешением
• Продвинутая микроскопия магнитных сил для детальной характеристики магнитных свойств

Технические параметры:

Применение:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), изготовленный в Китае,является самым современным инструментом, предназначенным для широкого спектра применений и сценариев, требующих изображения и анализа нанометрового разрешенияЕго универсальные рабочие режимы, включая контактный режим, режим нажатия, режим фазового изображения, режим подъема и многонаправленный режим сканирования,сделать его незаменимым инструментом как в исследовательской, так и в промышленной среде.

В академических исследовательских лабораториях AtomEdge Pro обычно используется для характеристики поверхности и анализа материалов на наномасштабе.Его способность получать изображения с высоким разрешением с максимальной точкой отбора образцов 4096 * 4096 позволяет исследователям изучать топографию поверхности, механические свойства и электрические характеристики в нанометровом масштабе.Эта способность особенно ценна в таких областях, как наука о материалах, физика, химия и биология,где понимание взаимодействий и свойств поверхности имеет решающее значение.

В полупроводниковой и электронной промышленности AtomEdge Pro поддерживает контроль качества и анализ сбоев, обеспечивая подробную морфологию поверхности и картографирование электрических свойств.Включение передовых методов, таких как микроскопия с помощью сканирования Кельвина, позволяет точно измерять вариации потенциала поверхности., что имеет важное значение для оптимизации производительности и надежности устройства.

Центры разработки нанотехнологий и лаборатории также получают выгоду от исключительной чувствительности AtomEdge Pro и низкого уровня шума в направлении Z (0,04 нм),который облегчает точные измерения ультратонких пленокЕго диапазон скорости сканирования от 0,1 до 30 Гц обеспечивает гибкую скорость изображения, балансирующее разрешение и пропускную способность в зависимости от экспериментальных требований.

Максимальный размер образца прибора 25 мм позволяет разместить широкий спектр образцов, от небольших наноматериалов до более крупных биологических образцов и микрофабрикатов.многонаправленный режим сканирования повышает гибкость изображения, что позволяет проводить всесторонний анализ поверхности под разными углами и с разных точек зрения.

В целом, Truth Instruments AtomEdge Pro AFM подходит для различных применений, таких как измерение шероховатости поверхности, анализ тонкой пленки, характеристика полимера,и наномасштабное отображение электрических свойствЕго передовые характеристики и надежная производительность делают его важным инструментом в исследованиях нанотехнологий, производстве полупроводников, исследовании биоматериалов,и многие другие высокоточные научные и промышленные приложения.

Поддержка и услуги:

Наш продукт атомной микроскопии (AFM) поставляется с всеобъемлющей технической поддержкой и услугами для обеспечения оптимальной производительности и удовлетворенности клиентов.Наша команда экспертов поможет вам с установкой, калибровки, обслуживания и устранения неполадок.

Мы предоставляем подробные руководства пользователя и руководства по программному обеспечению, чтобы помочь вам эффективно управлять AFM. Регулярные обновления программного обеспечения доступны для улучшения функциональности и внедрения новых функций.

В дополнение к удаленной поддержке по электронной почте и онлайн-ресурсам, мы предлагаем посещение сервиса на месте для решения сложных вопросов и рутинного обслуживания.Также доступны учебные занятия и семинары, чтобы помочь пользователям максимально использовать возможности системы AFM..

Наша приверженность распространяется на предоставление запасных частей и аксессуаров, обеспечивающих долговечность и надежность вашего инструмента.Пожалуйста, ознакомьтесь с документацией, предоставленной с вашим AFM для получения деталей гарантии и условий обслуживания..

Для любых технических запросов или запросов на обслуживание, наша команда поддержки готова помочь вам незамедлительно, чтобы минимизировать время простоя и сохранить производительность вашего исследования.

Часто задаваемые вопросы

Вопрос 1: Какая марка и модель этого микроскопа атомной силы?

Ответ: Микроскоп атомной силы - это из марки Truth Instruments, и номер модели AtomEdge Pro.

Вопрос 2: Где производится AtomEdge Pro?

Ответ 2: Микроскоп атомной силы AtomEdge Pro производится в Китае.

Вопрос 3: Каковы основные применения AFM AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro используется для изображения поверхности с высоким разрешением, измерения наноразмера и характеристики материалов в исследовательской и промышленной среде.

Вопрос 4: Какой тип образцов можно проанализировать с помощью AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro может анализировать широкий спектр образцов, включая биологические образцы, полимеры, полупроводники и наноматериалы.

Вопрос 5: Поддерживает ли AtomEdge Pro несколько режимов съемки?

A5: Да, AtomEdge Pro поддерживает различные режимы визуализации, такие как контактный режим, режим нажатия и бесконтактный режим для удовлетворения различных типов образцов и потребностей исследования.