इलेक्ट्रॉनिक्स, बायोमटेरियल्स और परिशुद्धता अनुसंधान अनुप्रयोगों के लिए लचीली 3 डी स्कैनिंग

उत्पाद विवरण:

परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे नैनोस्केल पर सतह संपत्ति मैपिंग में अद्वितीय सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। उन्नत अनुसंधान और औद्योगिक अनुप्रयोगों की मांग आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए इंजीनियर, यह एएफएम सुविधाओं का एक व्यापक सूट प्रदान करता है जो इसे अर्धचालकों, चुंबकीय सामग्रियों और अन्य सतहों की एक किस्म के साथ काम करने वाले वैज्ञानिकों और इंजीनियरों के लिए एक अपरिहार्य उपकरण बनाता है।

इस परमाणु बल माइक्रोस्कोप की उत्कृष्ट विशेषताओं में से एक इसकी प्रभावशाली स्कैनिंग दर है, जो 0.1 से 30 हर्ट्ज तक होती है। यह विस्तृत स्कैनिंग दर स्पेक्ट्रम उपयोगकर्ताओं को अपने नमूने और प्रयोग की विशिष्ट आवश्यकताओं के अनुसार अपनी स्कैन की गति और रिज़ॉल्यूशन को अनुकूलित करने की अनुमति देता है। चाहे विस्तृत, उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह विश्लेषण या तेज़, व्यापक स्कैन की आवश्यकता हो, यह एएफएम निर्बाध रूप से कार्य के अनुकूल होता है।

माइक्रोस्कोप एक उन्नत XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग विधि का उपयोग करता है, जो संपूर्ण नमूना सतह पर व्यापक कवरेज और सटीक स्थिति सुनिश्चित करता है। यह क्षमता सटीक सतह संपत्ति मैपिंग के लिए महत्वपूर्ण है, क्योंकि यह रिज़ॉल्यूशन या सटीकता से समझौता किए बिना बड़े क्षेत्रों पर विस्तृत इमेजिंग और माप की अनुमति देता है।

इस एएफएम का एक और प्रमुख लाभ कार्य मोड में बहुमुखी प्रतिभा है। यह कॉन्टैक्ट मोड, टैप मोड, फेज़ इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड और मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड सहित कई कार्य मोड का समर्थन करता है। प्रत्येक मोड जांच और नमूने के बीच अद्वितीय संपर्क तंत्र प्रदान करता है, जो विभिन्न सतह विशेषताओं की जांच करने में सक्षम बनाता है। उदाहरण के लिए, कॉन्टैक्ट मोड उच्च-रिज़ॉल्यूशन टोपोग्राफी इमेजिंग के लिए आदर्श है, जबकि टैप मोड सतह के साथ रुक-रुक कर संपर्क करके नमूना क्षति को कम करता है। फेज़ इमेजिंग मोड और लिफ्ट मोड अतिरिक्त कंट्रास्ट तंत्र प्रदान करते हैं जो केवल टोपोग्राफी से परे सामग्री गुणों को प्रकट करते हैं, जैसे कि आसंजन, कठोरता और चुंबकीय संपर्क। मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड विभिन्न ओरिएंटेशन से नमूने को स्कैन करके इमेजिंग लचीलेपन को और बढ़ाता है, जिससे डेटा विश्वसनीयता और विवरण में सुधार होता है।

परमाणु बल माइक्रोस्कोपी में सटीकता सर्वोपरि है, और यह उत्पाद Z दिशा में उल्लेखनीय रूप से कम शोर स्तर के साथ उत्कृष्ट है, जो केवल 0.04 एनएम पर मापा जाता है। इस तरह का कम शोर तल यह सुनिश्चित करता है कि सतह की ऊंचाई में मामूली बदलाव भी असाधारण स्पष्टता के साथ पता लगाए जाते हैं, जो अर्धचालक वेफर निरीक्षण और नैनोस्ट्रक्चर लक्षण वर्णन जैसे अनुप्रयोगों के लिए महत्वपूर्ण है जिसके लिए नैनोस्केल सटीकता की आवश्यकता होती है।

टोपोग्राफिकल इमेजिंग से परे, यह परमाणु बल माइक्रोस्कोप बहुआयामी माप क्षमताओं से लैस है जो इसके अनुप्रयोग क्षेत्र को काफी व्यापक बनाता है। यह इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन प्रोब फोर्स माइक्रोस्कोपी (केपीएफएम), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (पीएफएम), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (एमएफएम), और फोर्स कर्व माप जैसी उन्नत तकनीकों को एकीकृत करता है। ये कार्यक्षमताएं उपयोगकर्ताओं को नैनोस्केल पर सामग्रियों के विद्युत, चुंबकीय, पीजोइलेक्ट्रिक और यांत्रिक गुणों की जांच करने में सक्षम बनाती हैं।

मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (एमएफएम), विशेष रूप से, सामग्रियों के भीतर चुंबकीय डोमेन और संपर्क का अध्ययन करने के लिए एक शक्तिशाली विशेषता है। यह क्षमता चुंबकीय भंडारण उपकरणों, सेंसर और अन्य स्पिंट्रोनिक अनुप्रयोगों के विकास और विश्लेषण में आवश्यक है। इस बीच, ईएफएम और केपीएफएम जैसी तकनीकें विस्तृत विद्युत संपत्ति मैपिंग की सुविधा प्रदान करती हैं, जो अर्धचालक अनुसंधान और सतह चार्ज अध्ययनों में महत्वपूर्ण है।

पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (पीएफएम) पीजोइलेक्ट्रिक और फेरोइलेक्ट्रिक सामग्रियों की जांच की अनुमति देता है, जो विभिन्न इलेक्ट्रॉनिक और इलेक्ट्रोमैकेनिकल उपकरणों में महत्वपूर्ण हैं। फोर्स कर्व माप का समावेश माइक्रो- से नैनोस्केल स्तर पर कठोरता और आसंजन जैसे यांत्रिक गुणों की जांच को सक्षम बनाता है, जो सामग्री व्यवहार में व्यापक अंतर्दृष्टि प्रदान करता है।

कुल मिलाकर, यह परमाणु बल माइक्रोस्कोप उन्नत सतह संपत्ति मैपिंग के लिए तैयार एक बहुमुखी, उच्च-प्रदर्शन उपकरण के रूप में खड़ा है। उच्च स्कैनिंग दर, पूर्ण XYZ स्कैनिंग क्षमता, कई कार्य मोड, अल्ट्रा-लो शोर और बहुआयामी माप विकल्पों का संयोजन इसे अर्धचालक प्रौद्योगिकी से लेकर चुंबकीय सामग्री अनुसंधान तक के क्षेत्रों में एक आवश्यक उपकरण बनाता है। नैनोस्केल विश्लेषण की सीमाओं को आगे बढ़ाने की चाह रखने वाले शोधकर्ता और पेशेवर इस एएफएम को अपनी प्रयोगशालाओं में एक अमूल्य संपत्ति पाएंगे।

विशेषताएँ:

• उत्पाद का नाम: परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम)
• गैर-रैखिकता: XY दिशा में 0.15% और Z दिशा में 1%
• नमूना आकार: 25 मिमी तक
• छवि नमूनाकरण बिंदु: स्कैनिंग जांच छवि का अधिकतम रिज़ॉल्यूशन 4096*4096 है
• इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईएफएम), स्कैनिंग केल्विन प्रोब फोर्स माइक्रोस्कोपी (केपीएफएम), पीजोइलेक्ट्रिक फोर्स माइक्रोस्कोप (पीएफएम), मैग्नेटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एमएफएम), और फोर्स कर्व विश्लेषण सहित बहुआयामी माप क्षमताएं
• स्कैनिंग दर: 0.1 से 30 हर्ट्ज तक समायोज्य
• उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह विश्लेषण के लिए गैर-संपर्क मोड का समर्थन करता है
• विस्तृत चुंबकीय संपत्ति लक्षण वर्णन के लिए उन्नत चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी

तकनीकी पैरामीटर:

अनुप्रयोग:

चीन से उत्पन्न ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एएफएम), एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे उन अनुप्रयोगों और परिदृश्यों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए डिज़ाइन किया गया है जो नैनोमीटर रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और विश्लेषण की मांग करते हैं। इसके बहुमुखी कार्य मोड, जिसमें कॉन्टैक्ट मोड, टैप मोड, फेज़ इमेजिंग मोड, लिफ्ट मोड और मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड शामिल हैं, इसे अनुसंधान और औद्योगिक दोनों वातावरणों में एक अपरिहार्य उपकरण बनाते हैं।

अकादमिक अनुसंधान प्रयोगशालाओं में, एटमएज प्रो का उपयोग आमतौर पर सतह लक्षण वर्णन और नैनोस्केल सामग्री विश्लेषण के लिए किया जाता है। 4096*4096 के अधिकतम छवि नमूनाकरण बिंदु के साथ उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग प्राप्त करने की इसकी क्षमता शोधकर्ताओं को नैनोमीटर पैमाने पर सतह टोपोग्राफी, यांत्रिक गुणों और विद्युत विशेषताओं का अध्ययन करने की अनुमति देती है। यह क्षमता सामग्री विज्ञान, भौतिकी, रसायन विज्ञान और जीव विज्ञान जैसे क्षेत्रों में विशेष रूप से मूल्यवान है, जहां सतह संपर्क और गुणों को समझना महत्वपूर्ण है।

अर्धचालक और इलेक्ट्रॉनिक्स उद्योगों में, एटमएज प्रो विस्तृत सतह आकृति विज्ञान और विद्युत संपत्ति मैपिंग प्रदान करके गुणवत्ता नियंत्रण और विफलता विश्लेषण का समर्थन करता है। स्कैनिंग केल्विन प्रोब माइक्रोस्कोपी जैसी उन्नत तकनीकों का समावेश सतह संभावित विविधताओं के सटीक माप को सक्षम बनाता है, जो डिवाइस प्रदर्शन और विश्वसनीयता को अनुकूलित करने के लिए आवश्यक है।

नैनोप्रौद्योगिकी विकास केंद्र और प्रयोगशालाएँ भी एटमएज प्रो की असाधारण संवेदनशीलता और Z दिशा (0.04 एनएम) में कम शोर स्तर से लाभान्वित होती हैं, जो अल्ट्रा-थिन फिल्मों, नैनोस्ट्रक्चर और बायोमोलेक्यूल्स के सटीक माप की सुविधा प्रदान करती हैं। इसकी स्कैनिंग दर 0.1-30 हर्ट्ज की सीमा लचीली इमेजिंग गति की अनुमति देती है, जो प्रयोगात्मक आवश्यकताओं के आधार पर रिज़ॉल्यूशन और थ्रूपुट को संतुलित करती है।

उपकरण का अधिकतम नमूना आकार 25 मिमी छोटे नैनोमैटेरियल्स से लेकर बड़े जैविक नमूनों और माइक्रोफैब्रिकेटेड उपकरणों तक, विभिन्न प्रकार के नमूनों को समायोजित करता है। इसके अतिरिक्त, मल्टी-डायरेक्शनल स्कैनिंग मोड विभिन्न कोणों और दृष्टिकोणों से व्यापक सतह विश्लेषण को सक्षम करते हुए, इमेजिंग लचीलेपन को बढ़ाता है।

कुल मिलाकर, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो एएफएम सतह खुरदरापन माप, पतली फिल्म विश्लेषण, बहुलक लक्षण वर्णन और नैनोस्केल विद्युत संपत्ति मैपिंग जैसे विविध अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त है। इसकी उन्नत विशेषताएं और मजबूत प्रदर्शन इसे नैनोप्रौद्योगिकी अनुसंधान, अर्धचालक निर्माण, बायोमैटेरियल्स जांच और कई अन्य उच्च-सटीक वैज्ञानिक और औद्योगिक अनुप्रयोगों में एक महत्वपूर्ण उपकरण बनाते हैं।

सहायता और सेवाएँ:

हमारा परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) उत्पाद इष्टतम प्रदर्शन और ग्राहक संतुष्टि सुनिश्चित करने के लिए व्यापक तकनीकी सहायता और सेवाओं के साथ आता है। विशेषज्ञों की हमारी टीम स्थापना, अंशांकन, रखरखाव और समस्या निवारण में आपकी सहायता करने के लिए समर्पित है।

हम आपको एएफएम को कुशलतापूर्वक संचालित करने में मदद करने के लिए विस्तृत उपयोगकर्ता मैनुअल और सॉफ़्टवेयर गाइड प्रदान करते हैं। कार्यक्षमता को बढ़ाने और नई सुविधाओं को पेश करने के लिए नियमित सॉफ़्टवेयर अपडेट उपलब्ध हैं।

ईमेल और ऑनलाइन संसाधनों के माध्यम से रिमोट सपोर्ट के अलावा, हम जटिल मुद्दों और नियमित रखरखाव के लिए ऑन-साइट सेवा यात्राएं प्रदान करते हैं। उपयोगकर्ताओं को एएफएम सिस्टम की क्षमताओं को अधिकतम करने में मदद करने के लिए प्रशिक्षण सत्र और कार्यशालाएं भी उपलब्ध हैं।

हमारी प्रतिबद्धता आपके उपकरण की दीर्घायु और विश्वसनीयता सुनिश्चित करते हुए, प्रतिस्थापन भागों और एक्सेसरीज़ प्रदान करने तक फैली हुई है। वारंटी विवरण और सेवा शर्तों के लिए कृपया अपने एएफएम के साथ प्रदान किए गए दस्तावेज़ देखें।

किसी भी तकनीकी पूछताछ या सेवा अनुरोध के लिए, हमारी सहायता टीम डाउनटाइम को कम करने और अपनी शोध उत्पादकता बनाए रखने के लिए तुरंत आपकी सहायता करने के लिए तैयार है।

अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न:

Q1: इस परमाणु बल माइक्रोस्कोप का ब्रांड और मॉडल क्या है?

A1: परमाणु बल माइक्रोस्कोप ब्रांड ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स से है, और मॉडल नंबर एटमएज प्रो है।

Q2: एटमएज प्रो का निर्माण कहाँ होता है?

A2: एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप का निर्माण चीन में होता है।

Q3: एटमएज प्रो एएफएम के प्राथमिक अनुप्रयोग क्या हैं?

A3: एटमएज प्रो का उपयोग अनुसंधान और औद्योगिक वातावरण में उच्च-रिज़ॉल्यूशन सतह इमेजिंग, नैनोस्केल माप और सामग्री लक्षण वर्णन के लिए किया जाता है।

Q4: एटमएज प्रो के साथ किस प्रकार के नमूनों का विश्लेषण किया जा सकता है?

A4: एटमएज प्रो जैविक नमूनों, पॉलिमर, अर्धचालकों और नैनोमैटेरियल्स सहित नमूनों की एक विस्तृत श्रृंखला का विश्लेषण कर सकता है।

Q5: क्या एटमएज प्रो कई इमेजिंग मोड का समर्थन करता है?

A5: हाँ, एटमएज प्रो विभिन्न नमूना प्रकारों और अनुसंधान आवश्यकताओं के अनुरूप संपर्क मोड, टैपिंग मोड और गैर-संपर्क मोड जैसे विभिन्न इमेजिंग मोड का समर्थन करता है।