logo

ইলেকট্রনিক্স, জৈব পদার্থ এবং যথার্থ গবেষণা অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য নমনীয় 3 ডি স্ক্যানিং

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a state-of-the-art instrument designed to provide unparalleled precision and versatility in surface property mapping at the nanoscale. Engineered to meet the demanding requirements of advanced research and industrial applications, this AFM offers a comprehensive suite of features that make it an indispensable tool for scientists and engineers working with semiconductors, magnetic materials, and a variety of other
পণ্যের বিবরণ
বিশেষভাবে তুলে ধরা:

নমনীয় 3 ডি স্ক্যানিং পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ

,

ইলেকট্রনিক্স গবেষণার জন্য পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ

,

বায়োমেটরিয়ালস সুনির্দিষ্ট গবেষণা পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ

Sample Size: 25 মিমি
Nonlinearity: XY ডিরেকশনে 0.15% এবং জেড ডিরেকশনে 1%
Scanning Method: এক্সওয়াইজেড থ্রি-এক্সিস সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং
Working Mode: যোগাযোগ মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড, মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড
Scanning Rate: 0.1-30 হার্জেড
Noise Level In The Z Direction: 0.04 এনএম
Multifunctional Measurement: ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পাইজোইলেকট্
Image Sampling Point: স্ক্যানিং প্রোব ইমেজের সর্বোচ্চ রেজোলিউশন হল 4096×4096

মৌলিক বৈশিষ্ট্য

ব্র্যান্ড নাম: Truth Instruments
মডেল নম্বর: AtomEdge Pro
পণ্যের বর্ণনা

পণ্যের বর্ণনা:

অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) হল একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র, যা ন্যানোস্কেলে পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য ম্যাপিং-এ অতুলনীয় নির্ভুলতা এবং বহুমুখীতা প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। উন্নত গবেষণা এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলির চাহিদাপূরণের জন্য তৈরি করা হয়েছে, এই AFM-টি একটি বিস্তৃত বৈশিষ্ট্য সরবরাহ করে যা এটিকে সেমিকন্ডাক্টর, চৌম্বকীয় পদার্থ এবং অন্যান্য বিভিন্ন পৃষ্ঠের সাথে কাজ করা বিজ্ঞানী এবং প্রকৌশলীদের জন্য একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে।

এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপের অন্যতম প্রধান বৈশিষ্ট্য হল এর চিত্তাকর্ষক স্ক্যানিং হার, যা 0.1 থেকে 30 Hz পর্যন্ত বিস্তৃত। এই বিস্তৃত স্ক্যানিং হার বর্ণালী ব্যবহারকারীদের তাদের নমুনার এবং পরীক্ষার নির্দিষ্ট চাহিদা অনুযায়ী তাদের স্ক্যানের গতি এবং রেজোলিউশন তৈরি করতে দেয়। বিস্তারিত, উচ্চ-রেজোলিউশন পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ বা দ্রুত, বৃহত্তর স্ক্যানের প্রয়োজন হোক না কেন, এই AFM কাজটি নির্বিঘ্নে মানিয়ে নেয়।

মাইক্রোস্কোপটি একটি উন্নত XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং পদ্ধতি ব্যবহার করে, যা পুরো নমুনা পৃষ্ঠ জুড়ে ব্যাপক কভারেজ এবং সুনির্দিষ্ট অবস্থান নিশ্চিত করে। এই ক্ষমতা নির্ভুল পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংয়ের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ, কারণ এটি রেজোলিউশন বা নির্ভুলতার সাথে আপস না করে বৃহত্তর অঞ্চলে বিস্তারিত চিত্র এবং পরিমাপের অনুমতি দেয়।

এই AFM-এর আরেকটি মূল সুবিধা হল কাজের মোডের বহুমুখীতা। এটি কন্টাক্ট মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড এবং মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড সহ একাধিক কাজের মোড সমর্থন করে। প্রতিটি মোড প্রোব এবং নমুনার মধ্যে অনন্য মিথস্ক্রিয়া প্রক্রিয়া সরবরাহ করে, যা বিভিন্ন পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির তদন্ত করতে সক্ষম করে। উদাহরণস্বরূপ, কন্টাক্ট মোড উচ্চ-রেজোলিউশন টপোগ্রাফি ইমেজিংয়ের জন্য আদর্শ, যেখানে ট্যাপ মোড পর্যায়ক্রমে পৃষ্ঠের সাথে যোগাযোগ করে নমুনার ক্ষতি কম করে। ফেজ ইমেজিং মোড এবং লিফট মোড অতিরিক্ত বৈসাদৃশ্য প্রক্রিয়া সরবরাহ করে যা কেবল টপোগ্রাফির বাইরে উপাদান বৈশিষ্ট্য প্রকাশ করে, যেমন আনুগত্য, দৃঢ়তা এবং চৌম্বকীয় মিথস্ক্রিয়া। মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড বিভিন্ন দিক থেকে নমুনা স্ক্যান করে চিত্রগ্রহণের নমনীয়তা আরও বাড়ায়, ডেটার নির্ভরযোগ্যতা এবং বিস্তারিততা উন্নত করে।

অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপিতে নির্ভুলতা সর্বাপেক্ষা গুরুত্বপূর্ণ, এবং এই পণ্যটি Z দিকে একটি উল্লেখযোগ্যভাবে কম শব্দ স্তরের সাথে শ্রেষ্ঠত্ব অর্জন করে, যা মাত্র 0.04 nm-এ পরিমাপ করা হয়। এই ধরনের একটি কম শব্দ স্তর নিশ্চিত করে যে পৃষ্ঠের উচ্চতার সামান্যতম পরিবর্তনগুলিও ব্যতিক্রমী স্বচ্ছতার সাথে সনাক্ত করা হয়, যা ন্যানোস্কেল নির্ভুলতার প্রয়োজনীয় অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ, যেমন সেমিকন্ডাক্টর ওয়েফার পরিদর্শন এবং ন্যানোস্ট্রাকচার বৈশিষ্ট্যকরণ।

টপোগ্রাফিক্যাল ইমেজিংয়ের বাইরে, এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ ক্ষমতা দিয়ে সজ্জিত যা এর অ্যাপ্লিকেশন সুযোগকে উল্লেখযোগ্যভাবে প্রসারিত করে। এটি ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (EFM), স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (KPFM), পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (PFM), ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (MFM), এবং ফোর্স কার্ভ পরিমাপের মতো উন্নত কৌশলগুলিকে একত্রিত করে। এই কার্যকারিতা ব্যবহারকারীদের ন্যানোস্কেলে উপকরণগুলির বৈদ্যুতিক, চৌম্বকীয়, পাইজোইলেকট্রিক এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলি পরীক্ষা করতে সক্ষম করে।

বিশেষ করে, ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (MFM) উপকরণগুলির মধ্যে চৌম্বকীয় ডোমেইন এবং মিথস্ক্রিয়া অধ্যয়নের জন্য একটি শক্তিশালী বৈশিষ্ট্য। এই ক্ষমতা চৌম্বকীয় স্টোরেজ ডিভাইস, সেন্সর এবং অন্যান্য স্পিনট্রনিক অ্যাপ্লিকেশনগুলির উন্নয়ন এবং বিশ্লেষণের জন্য অপরিহার্য। ইতিমধ্যে, EFM এবং KPFM-এর মতো কৌশলগুলি বিস্তারিত বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংকে সহজতর করে, যা সেমিকন্ডাক্টর গবেষণা এবং পৃষ্ঠের চার্জ অধ্যয়নে গুরুত্বপূর্ণ।

পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (PFM) পাইজোইলেকট্রিক এবং ফেরোইলেকট্রিক উপকরণগুলির পরীক্ষার অনুমতি দেয়, যা বিভিন্ন ইলেকট্রনিক এবং ইলেক্ট্রোমেকানিক্যাল ডিভাইসে গুরুত্বপূর্ণ। ফোর্স কার্ভ পরিমাপের অন্তর্ভুক্তি মাইক্রো- থেকে ন্যানোস্কেল স্তরে দৃঢ়তা এবং আনুগত্যের মতো যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলির তদন্ত করতে সক্ষম করে, যা উপাদান আচরণের ব্যাপক অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।

সামগ্রিকভাবে, এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি উন্নত পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংয়ের জন্য তৈরি একটি বহুমুখী, উচ্চ-কার্যকারিতা সম্পন্ন যন্ত্র হিসাবে আলাদা। উচ্চ স্ক্যানিং হার, ফুল XYZ স্ক্যানিং ক্ষমতা, একাধিক কাজের মোড, অতি-নিম্ন শব্দ এবং মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ বিকল্পগুলির সংমিশ্রণ এটিকে সেমিকন্ডাক্টর প্রযুক্তি থেকে শুরু করে চৌম্বকীয় উপাদান গবেষণা পর্যন্ত বিভিন্ন ক্ষেত্রে একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে। ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের সীমানা ঠেলে দিতে চাওয়া গবেষক এবং পেশাদাররা এই AFM-কে তাদের পরীক্ষাগারে একটি অমূল্য সম্পদ হিসাবে খুঁজে পাবেন।


বৈশিষ্ট্য:

  • পণ্যের নাম: অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM)
  • অ-রৈখিকতা: XY দিকে 0.15% এবং Z দিকে 1%
  • নমুনার আকার: 25 মিমি পর্যন্ত
  • চিত্র নমুনা বিন্দু: স্ক্যানিং প্রোব চিত্রের সর্বোচ্চ রেজোলিউশন হল 4096*4096
  • মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ ক্ষমতা যার মধ্যে রয়েছে ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (EFM), স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (KPFM), পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (PFM), ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (MFM), এবং ফোর্স কার্ভ বিশ্লেষণ
  • স্ক্যানিং হার: 0.1 থেকে 30 Hz পর্যন্ত নিয়মিত
  • উচ্চ-রেজোলিউশন পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য নন-কন্টাক্ট মোড সমর্থন করে
  • বিস্তারিত চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্য বৈশিষ্ট্যায়নের জন্য উন্নত ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি

প্রযুক্তিগত পরামিতি:

অ-রৈখিকতা XY দিকে 0.15% এবং Z দিকে 1%
কাজের মোড কন্টাক্ট মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড, মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড
স্ক্যানিং পদ্ধতি XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং
চিত্র নমুনা বিন্দু স্ক্যানিং প্রোব চিত্রের সর্বোচ্চ রেজোলিউশন হল 4096*4096
মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (EFM), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (KPFM), পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (PFM), ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (MFM), ফোর্স কার্ভ
স্ক্যানিং হার 0.1-30 Hz
স্ক্যানিং পরিসীমা 100 μm*100 μm*10 μm
নমুনার আকার 25 মিমি
Z দিকের শব্দ স্তর 0.04 Nm

অ্যাপ্লিকেশন:

চীনের উৎপাদিত ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র, যা ন্যানোমিটার রেজোলিউশন ইমেজিং এবং বিশ্লেষণের দাবিদার বিস্তৃত অ্যাপ্লিকেশন উপলক্ষ এবং দৃশ্যের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এর বহুমুখী কাজের মোড, যার মধ্যে কন্টাক্ট মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড এবং মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড রয়েছে, যা এটিকে গবেষণা এবং শিল্প উভয় পরিবেশেই একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে।

একাডেমিক গবেষণা পরীক্ষাগারগুলিতে, অ্যাটমএজ প্রো সাধারণত পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য এবং ন্যানোস্কেল উপাদান বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহৃত হয়। 4096*4096 এর সর্বোচ্চ চিত্র নমুনা বিন্দু সহ উচ্চ-রেজোলিউশন ইমেজিং অর্জন করার ক্ষমতা গবেষকদের ন্যানোমিটার স্কেলে পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি, যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য এবং বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়ন করতে দেয়। এই ক্ষমতাটি বিশেষ করে উপকরণ বিজ্ঞান, পদার্থবিদ্যা, রসায়ন এবং জীববিজ্ঞানের মতো ক্ষেত্রগুলিতে মূল্যবান, যেখানে পৃষ্ঠের মিথস্ক্রিয়া এবং বৈশিষ্ট্যগুলি বোঝা গুরুত্বপূর্ণ।

সেমিকন্ডাক্টর এবং ইলেকট্রনিক্স শিল্পে, অ্যাটমএজ প্রো বিস্তারিত পৃষ্ঠের অঙ্গসংস্থানবিদ্যা এবং বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য ম্যাপিং প্রদান করে গুণমান নিয়ন্ত্রণ এবং ব্যর্থতা বিশ্লেষণকে সমর্থন করে। স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব মাইক্রোস্কোপির মতো উন্নত কৌশলগুলির অন্তর্ভুক্তি পৃষ্ঠের সম্ভাব্য পরিবর্তনগুলির সুনির্দিষ্ট পরিমাপকে সক্ষম করে, যা ডিভাইসের কর্মক্ষমতা এবং নির্ভরযোগ্যতা অপ্টিমাইজ করার জন্য অপরিহার্য।

ন্যানোটেকনোলজি উন্নয়ন কেন্দ্র এবং পরীক্ষাগারগুলিও অ্যাটমএজ প্রো-এর ব্যতিক্রমী সংবেদনশীলতা এবং Z দিকের কম শব্দ স্তর (0.04 nm) থেকে উপকৃত হয়, যা অতি-পাতলা ফিল্ম, ন্যানোস্ট্রাকচার এবং জৈব অণুগুলির সঠিক পরিমাপকে সহজতর করে। এর 0.1-30 Hz এর স্ক্যানিং হার পরিসীমা পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তাগুলির উপর নির্ভর করে রেজোলিউশন এবং থ্রুপুটকে ভারসাম্য বজায় রেখে নমনীয় ইমেজিং গতির জন্য অনুমতি দেয়।

যন্ত্রটির সর্বাধিক 25 মিমি নমুনার আকার ছোট ন্যানোম্যাটেরিয়াল থেকে শুরু করে বৃহত্তর জৈবিক নমুনা এবং মাইক্রোফ্যাব্রিক্টেড ডিভাইস পর্যন্ত বিভিন্ন ধরণের নমুনাকে মিটমাট করে। অতিরিক্তভাবে, মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড বিভিন্ন কোণ এবং দৃষ্টিকোণ থেকে ব্যাপক পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের সক্ষমতা বাড়িয়ে ইমেজিং নমনীয়তা বাড়ায়।

সামগ্রিকভাবে, ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস অ্যাটমএজ প্রো AFM পৃষ্ঠের রুক্ষতা পরিমাপ, পাতলা ফিল্ম বিশ্লেষণ, পলিমার বৈশিষ্ট্যকরণ এবং ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংয়ের মতো বিভিন্ন অ্যাপ্লিকেশনের জন্য উপযুক্ত। এর উন্নত বৈশিষ্ট্য এবং শক্তিশালী কর্মক্ষমতা এটিকে ন্যানোটেকনোলজি গবেষণা, সেমিকন্ডাক্টর উত্পাদন, বায়োম্যাটেরিয়াল তদন্ত এবং অন্যান্য অনেক উচ্চ-নির্ভুল বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে একটি গুরুত্বপূর্ণ সরঞ্জাম করে তোলে।


সমর্থন এবং পরিষেবা:

আমাদের অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) পণ্যটি সর্বোত্তম কর্মক্ষমতা এবং গ্রাহক সন্তুষ্টি নিশ্চিত করতে ব্যাপক প্রযুক্তিগত সহায়তা এবং পরিষেবা সহ আসে। আমাদের বিশেষজ্ঞ দল আপনাকে ইনস্টলেশন, ক্রমাঙ্কন, রক্ষণাবেক্ষণ এবং সমস্যা সমাধানে সহায়তা করার জন্য নিবেদিত।

আমরা আপনাকে AFM দক্ষতার সাথে পরিচালনা করতে সহায়তা করার জন্য বিস্তারিত ব্যবহারকারী ম্যানুয়াল এবং সফ্টওয়্যার গাইড সরবরাহ করি। কার্যকারিতা বাড়াতে এবং নতুন বৈশিষ্ট্যগুলি প্রবর্তন করতে নিয়মিত সফ্টওয়্যার আপডেট উপলব্ধ।

ইমেল এবং অনলাইন সংস্থানগুলির মাধ্যমে দূরবর্তী সহায়তা ছাড়াও, আমরা জটিল সমস্যা এবং নিয়মিত রক্ষণাবেক্ষণের জন্য সাইটে পরিষেবা পরিদর্শন অফার করি। ব্যবহারকারীদের AFM সিস্টেমের ক্ষমতা সর্বাধিক করতে সহায়তা করার জন্য প্রশিক্ষণ সেশন এবং কর্মশালাও উপলব্ধ।

আমাদের প্রতিশ্রুতি আপনার যন্ত্রের দীর্ঘায়ু এবং নির্ভরযোগ্যতা নিশ্চিত করে, প্রতিস্থাপন যন্ত্রাংশ এবং আনুষাঙ্গিক সরবরাহ করার জন্য প্রসারিত। ওয়ারেন্টি বিবরণ এবং পরিষেবার শর্তাবলীর জন্য অনুগ্রহ করে আপনার AFM-এর সাথে সরবরাহ করা ডকুমেন্টেশনটি দেখুন।

কোনো প্রযুক্তিগত অনুসন্ধান বা পরিষেবা অনুরোধের জন্য, আমাদের সহায়তা দল ডাউনটাইম কমাতে এবং আপনার গবেষণা উৎপাদনশীলতা বজায় রাখতে অবিলম্বে আপনাকে সহায়তা করতে প্রস্তুত।


FAQ:

Q1: এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপের ব্র্যান্ড এবং মডেল কী?

A1: অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস ব্র্যান্ডের, এবং মডেল নম্বর হল অ্যাটমএজ প্রো।

Q2: অ্যাটমএজ প্রো কোথায় তৈরি করা হয়?

A2: অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ চীনে তৈরি করা হয়।

Q3: অ্যাটমএজ প্রো AFM-এর প্রাথমিক অ্যাপ্লিকেশনগুলি কী কী?

A3: অ্যাটমএজ প্রো গবেষণা এবং শিল্প পরিবেশে উচ্চ-রেজোলিউশন পৃষ্ঠের ইমেজিং, ন্যানোস্কেল পরিমাপ এবং উপাদান বৈশিষ্ট্যকরণের জন্য ব্যবহৃত হয়।

Q4: অ্যাটমএজ প্রো দিয়ে কী ধরনের নমুনা বিশ্লেষণ করা যেতে পারে?

A4: অ্যাটমএজ প্রো জৈবিক নমুনা, পলিমার, সেমিকন্ডাক্টর এবং ন্যানোম্যাটেরিয়াল সহ বিস্তৃত নমুনা বিশ্লেষণ করতে পারে।

Q5: অ্যাটমএজ প্রো কি একাধিক ইমেজিং মোড সমর্থন করে?

A5: হ্যাঁ, অ্যাটমএজ প্রো বিভিন্ন নমুনা প্রকার এবং গবেষণা চাহিদা মেটাতে কন্টাক্ট মোড, ট্যাপ মোড এবং নন-কন্টাক্ট মোডের মতো বিভিন্ন ইমেজিং মোড সমর্থন করে।


একটি অনুসন্ধান পাঠান

একটি দ্রুত উদ্ধৃতি পান