Scansione 3D flessibile per applicazioni di ricerca elettronica, biomateriali e di precisione

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire una precisione e una versatilità senza pari nella mappatura delle proprietà superficiali a nanoscala.Progettato per soddisfare i requisiti più esigenti della ricerca avanzata e delle applicazioni industriali, questo AFM offre una serie completa di caratteristiche che lo rendono uno strumento indispensabile per scienziati e ingegneri che lavorano con semiconduttori, materiali magnetici e una varietà di altre superfici.

Una delle caratteristiche particolari di questo microscopio è la sua impressionante velocità di scansione, che va da 0,1 a 30 Hz.Questo ampio spettro di velocità di scansione consente agli utenti di adattare la velocità e la risoluzione delle loro scansioni in base alle esigenze specifiche del loro campione e del loro esperimentoSia che sia necessaria un'analisi dettagliata e ad alta risoluzione della superficie o una scansione più rapida e più ampia, questo AFM si adatta perfettamente al compito.

Il microscopio utilizza un avanzato metodo di scansione XYZ a tre assi per campioni completi, che garantisce una copertura completa e un posizionamento preciso su tutta la superficie del campione.Questa capacità è fondamentale per la mappatura accurata delle proprietà superficiali, in quanto consente di ottenere immagini e misure dettagliate su grandi aree senza compromettere la risoluzione o la precisione.

La versatilità nelle modalità di lavoro è un altro vantaggio chiave di questo AFM. Supporta modalità di lavoro multiple tra cui modalità di contatto, modalità di tocco, modalità di imaging di fase, modalità di sollevamento,e modalità di scansione multi-direzionaleCiascuna modalità offre meccanismi di interazione unici tra la sonda e il campione, che consentono l'indagine di varie caratteristiche superficiali.La modalità di contatto è ideale per le immagini topografiche ad alta risoluzione, mentre la modalità Tap riduce al minimo il danno del campione contattando intermittente la superficie.La modalità di imaging di fase e la modalità di sollevamento forniscono meccanismi di contrasto aggiuntivi che rivelano proprietà del materiale oltre la semplice topografia, come adesione, rigidità e interazioni magnetiche.migliorare l'affidabilità e la dettagliatezza dei dati.

La precisione è fondamentale nella microscopia a forza atomica, e questo prodotto eccelle con un livello di rumore notevolmente basso nella direzione Z, misurato a soli 0,04 nm.Un pavimento così poco rumoroso garantisce che anche le minime variazioni di altezza della superficie siano rilevate con eccezionale chiarezza, che è cruciale per le applicazioni che richiedono precisione su scala nanometrica, come l'ispezione dei wafer a semiconduttore e la caratterizzazione delle nanostrutture.

Oltre all'imaging topografico, questo microscopio è dotato di capacità di misurazione multifunzionale che ne ampliano significativamente il campo di applicazione.Integra tecniche avanzate come la microscopia elettrostatica (EFM), Microscopia di forza della sonda di Kelvin (KPFM), Microscopia di forza piezoelettrica (PFM), Microscopia di forza magnetica (MFM) e misurazioni della curva di forza.Queste funzionalità consentono agli utenti di sondare, le proprietà magnetiche, piezoelettriche e meccaniche dei materiali su scala nanometrica.

La microscopia a forza magnetica (MFM), in particolare, è una potente caratteristica per lo studio dei domini magnetici e delle interazioni all'interno dei materiali.Questa capacità è essenziale per lo sviluppo e l'analisi di dispositivi di stoccaggio magneticiNel frattempo, tecniche come l'EFM e il KPFM facilitano la mappatura dettagliata delle proprietà elettriche,che è vitale nella ricerca sui semiconduttori e negli studi sulle cariche superficiali.

La microscopia della forza piezoelettrica (PFM) consente di esaminare materiali piezoelettrici e ferroelettrici, che sono critici in vari dispositivi elettronici ed elettromeccanici.L'inclusione di misurazioni della curva di forza consente di studiare proprietà meccaniche come rigidità e adesione a livello micro- nanoscala, fornendo una visione completa del comportamento materiale.

Nel complesso, questo microscopio di forza atomica si distingue come uno strumento versatile e ad alte prestazioni, progettato per la mappatura avanzata delle proprietà superficiali.capacità di scansione XYZ completa, modalità di lavoro multiple, rumore ultra basso e opzioni di misurazione multifunzionali lo rendono uno strumento essenziale in settori che vanno dalla tecnologia dei semiconduttori alla ricerca dei materiali magnetici.I ricercatori e i professionisti che cercano di spingere i confini dell'analisi su scala nanometrica troveranno questo AFM una risorsa inestimabile nei loro laboratori.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio della forza atomica (AFM)
• Non linearità: 0,15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z
• Dimensione del campione: fino a 25 mm
• Punto di campionamento dell'immagine: risoluzione massima dell'immagine della sonda di scansione è 4096*4096
• Capacità di misurazione multifunzionale, compresi il microscopio di forza elettrostatica (EFM), il microscopio di forza della sonda di scansione Kelvin (KPFM), il microscopio di forza piezoelettrica (PFM),Microscopio a forza magnetica (MFM), e analisi della curva di forza
• Ritmo di scansione: regolabile da 0,1 a 30 Hz
• Supporta la modalità senza contatto per l'analisi superficiale ad alta risoluzione
• Microscopia avanzata della forza magnetica per una caratterizzazione dettagliata delle proprietà magnetiche

Parametri tecnici:

Applicazioni:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), originario della Cina,è uno strumento all'avanguardia progettato per una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione che richiedono l'imaging e l'analisi a risoluzione nanometricaLe sue modalità di lavoro versatili, incluse la modalità di contatto, la modalità di tocco, la modalità di imaging di fase, la modalità di sollevamento e la modalità di scansione multidirezionale,rendere indispensabile lo strumento sia nella ricerca che nell'industria.

Nei laboratori di ricerca accademici, l'AtomEdge Pro è comunemente utilizzato per la caratterizzazione superficiale e l'analisi dei materiali su scala nanometrica.La sua capacità di ottenere immagini ad alta risoluzione con un punto di campionamento massimo di immagine di 4096*4096 consente ai ricercatori di studiare la topografia superficialeQuesta capacità è particolarmente preziosa in settori quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica e la biologia.dove la comprensione delle interazioni e delle proprietà della superficie è fondamentale.

Nell'industria dei semiconduttori e dell'elettronica, l'AtomEdge Pro supporta il controllo della qualità e l'analisi dei guasti fornendo una morfologia dettagliata della superficie e una mappatura delle proprietà elettriche.L'inclusione di tecniche avanzate come la microscopia a sonda di Kelvin di scansione consente una misurazione precisa delle variazioni di potenziale superficiale, che è essenziale per ottimizzare le prestazioni e l'affidabilità del dispositivo.

Anche i centri di sviluppo e i laboratori di nanotecnologia beneficiano dell'eccezionale sensibilità e del basso livello di rumore della AtomEdge Pro nella direzione Z (0,04 nm),che facilita le misurazioni accurate di film ultra sottiliIl suo intervallo di velocità di scansione da 0,1 a 30 Hz consente velocità di imaging flessibili, bilanciamento della risoluzione e del throughput a seconda delle esigenze sperimentali.

L'apparecchio ha una dimensione massima di campione di 25 mm e può contenere una vasta gamma di campioni, dai piccoli nanomateriali ai campioni biologici più grandi e ai dispositivi microfabbricati.la modalità di scansione multi-direzionale aumenta la flessibilità dell'immagine, che consente un'analisi completa della superficie da diverse angolazioni e prospettive.

Nel complesso, l'AtomEdge Pro AFM di Truth Instruments è adatto a diverse applicazioni come la misurazione della rugosità superficiale, l'analisi del film sottile, la caratterizzazione dei polimeri,e mappatura delle proprietà elettriche su scala nanometricaLe sue caratteristiche avanzate e le sue prestazioni robuste lo rendono uno strumento cruciale nella ricerca sulla nanotecnologia, nella produzione di semiconduttori, nella ricerca sui biomateriali, nell'elaborazione e nella produzione di prodotti chimici.e molte altre applicazioni scientifiche e industriali ad alta precisione.

Supporto e servizi:

Il nostro prodotto AFM è dotato di un supporto tecnico e di servizi completi per garantire prestazioni ottimali e soddisfazione dei clienti.Il nostro team di esperti è dedicato ad assistervi con l'installazione, calibrazione, manutenzione e risoluzione dei problemi.

Forniamo manuali dettagliati e guide software per aiutarvi a gestire l'AFM in modo efficiente.

Oltre al supporto remoto tramite e-mail e risorse online, offriamo visite di assistenza in loco per problemi complessi e manutenzione di routine.Sono inoltre disponibili sessioni di formazione e workshop per aiutare gli utenti a massimizzare le capacità del sistema AFM..

Il nostro impegno si estende alla fornitura di ricambi e accessori, garantendo la longevità e l'affidabilità del vostro strumento.Si prega di consultare la documentazione fornita con il vostro AFM per i dettagli della garanzia e le condizioni di servizio.

Per qualsiasi richiesta tecnica o richiesta di assistenza, il nostro team di supporto è pronto ad assistervi prontamente per ridurre al minimo i tempi di inattività e mantenere la produttività della ricerca.

FAQ:

Q1: Qual è il marchio e il modello di questo microscopio di forza atomica?

R1: Il Microscopio della Forza Atomica è del marchio Truth Instruments, e il numero di modello è AtomEdge Pro.

D2: Dove viene fabbricato l'AtomEdge Pro?

R2: Il microscopio AtomEdge Pro è prodotto in Cina.

Q3: Quali sono le principali applicazioni dell'AtomEdge Pro AFM?

R3: L'AtomEdge Pro è utilizzato per l'imaging superficiale ad alta risoluzione, la misurazione su nanoscala e la caratterizzazione dei materiali in ambienti di ricerca e industriali.

D4: Che tipo di campioni possono essere analizzati con l'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro può analizzare una vasta gamma di campioni, tra cui campioni biologici, polimeri, semiconduttori e nanomateriali.

D5: L'AtomEdge Pro supporta modalità di imaging multiple?

R5: Sì, l'AtomEdge Pro supporta varie modalità di imaging come la modalità di contatto, la modalità di tocco e la modalità senza contatto per soddisfare i diversi tipi di campioni e le esigenze di ricerca.