Flexível digitalização 3D para aplicações de electrónica, biomateriais e pesquisa de precisão

Descrição do produto:

O microscópio de força atômica (AFM) é um instrumento de última geração projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis no mapeamento de propriedades da superfície em nanoescala.Projetado para satisfazer os exigentes requisitos da investigação avançada e aplicações industriais, este AFM oferece um conjunto abrangente de características que o tornam uma ferramenta indispensável para cientistas e engenheiros que trabalham com semicondutores, materiais magnéticos e uma variedade de outras superfícies.

Uma das características marcantes deste microscópio de força atômica é a sua impressionante taxa de varredura, que varia de 0,1 a 30 Hz.Este amplo espectro de taxas de digitalização permite aos utilizadores adaptar a velocidade e a resolução das suas digitalizações de acordo com as necessidades específicas da sua amostra e experimentoQuer seja necessária uma análise de superfície detalhada e de alta resolução, quer uma varredura mais rápida e mais ampla, este AFM adapta-se perfeitamente à tarefa.

O microscópio utiliza um método avançado de varredura de amostras completas de três eixos XYZ, garantindo uma cobertura abrangente e um posicionamento preciso em toda a superfície da amostra.Esta capacidade é crítica para mapeamento preciso das propriedades da superfície, uma vez que permite a obtenção de imagens e medições detalhadas em grandes áreas sem comprometer a resolução ou precisão.

A versatilidade nos modos de trabalho é outra vantagem importante deste AFM. Ele suporta vários modos de trabalho, incluindo o modo de contato, o modo de toque, o modo de imagem de fase, o modo de elevação, o modo de transmissão, o modo de transmissão, o modo de transmissão, o modo de transmissão, o modo de transmissão, o modo de transmissão, o modo de transmissão, etc.e Modo de varredura multi-direcionalCada modo oferece mecanismos de interacção únicos entre a sonda e a amostra, permitindo a investigação de várias características da superfície.O modo de contato é ideal para imagens topográficas de alta resolução, enquanto o Modo Tap minimiza o dano da amostra por contato intermitente com a superfície.Modo de Imagem de Fase e Modo de Elevação fornecem mecanismos de contraste adicionais que revelam propriedades do material além da mera topografiaO modo de varredura multi-direcional aumenta ainda mais a flexibilidade da imagem, ao varrer a amostra a partir de diferentes orientações,Melhoria da fiabilidade e detalhe dos dados.

A precisão é primordial na microscopia de força atômica, e este produto se destaca com um nível de ruído notavelmente baixo na direção Z, medido em apenas 0,04 nm.Este piso de baixo ruído garante que mesmo as menores variações de altura da superfície sejam detectadas com uma clareza excepcional., que é crucial para aplicações que exigem precisão em nanoescala, como inspeção de wafer de semicondutores e caracterização de nanoestrutura.

Para além da imagem topográfica, este microscópio de força atómica está equipado com capacidades de medição multifuncionais que ampliam significativamente o seu âmbito de aplicação.Integra técnicas avançadas como a Microscopia de Força Electrostática (EFM), Microscopia de Força de Sondagem Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e medições da Curva de Força.Estas funcionalidades permitem aos utilizadores sondar, as propriedades magnéticas, piezoelétricas e mecânicas dos materiais na nanoescala.

A Microscopia de Força Magnética (MFM), em particular, é uma característica poderosa para estudar domínios magnéticos e interações dentro dos materiais.Esta capacidade é essencial no desenvolvimento e análise de dispositivos de armazenamento magnéticoEnquanto isso, técnicas como o EFM e o KPFM facilitam o mapeamento detalhado das propriedades elétricas,que é vital na pesquisa de semicondutores e estudos de carga superficial.

A microscopia de força piezoelétrica (PFM) permite o exame de materiais piezoelétricos e ferroelétricos, que são críticos em vários dispositivos eletrônicos e eletromecânicos.A inclusão de medições da curva de força permite a investigação de propriedades mecânicas, tais como rigidez e adesão a nível micro a nano, fornecendo uma visão abrangente do comportamento material.

Em geral, este microscópio de força atómica destaca-se como um instrumento versátil e de alto desempenho, concebido para o mapeamento avançado das propriedades da superfície.Capacidade total de varredura XYZ, modos de trabalho múltiplos, ruído ultra baixo e opções de medição multifuncionais tornam-na uma ferramenta essencial em campos que vão desde a tecnologia de semicondutores até a investigação de materiais magnéticos.Pesquisadores e profissionais que procuram ampliar os limites da análise em nanoescala encontrarão este AFM um recurso inestimável em seus laboratórios.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica (AFM)
• Não linearidade: 0,15% na direcção XY e 1% na direcção Z
• Tamanho da amostra: até 25 mm
• Ponto de amostragem da imagem: Resolução máxima da imagem da sonda de varredura é 4096*4096
• Capacidades de medição multifuncionais, incluindo microscópio de força eletrostática (EFM), microscópio de força de sonda de escaneamento Kelvin (KPFM), microscópio de força piezoelétrica (PFM),Microscópio de Força Magnética (MFM), e análise da curva de força
• Taxa de digitalização: ajustável de 0,1 a 30 Hz
• Suporta modo sem contacto para análise de superfície de alta resolução
• Microscopia avançada de força magnética para caracterização detalhada de propriedades magnéticas

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), originário da China,é um instrumento de última geração concebido para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação que exigem imagens e análises de resolução nanométricaOs seus modos de trabalho versáteis, incluindo o modo de contacto, o modo de toque, o modo de imagem de fase, o modo de elevação e o modo de varredura multidireccional,tornar-se uma ferramenta indispensável tanto nos ambientes de investigação como industriais.

Nos laboratórios de pesquisa acadêmica, o AtomEdge Pro é comumente usado para caracterização de superfícies e análise de materiais em nanoescala.A sua capacidade de obter imagens de alta resolução com um ponto de amostragem de imagem máximo de 4096*4096 permite aos investigadores estudar a topografia da superfícieEsta capacidade é particularmente valiosa em domínios como a ciência dos materiais, a física, a química e a biologia.onde a compreensão das interações e propriedades da superfície é crítica.

Nas indústrias de semicondutores e eletrônicos, o AtomEdge Pro suporta o controle de qualidade e a análise de falhas, fornecendo morfologia de superfície detalhada e mapeamento de propriedades elétricas.A inclusão de técnicas avançadas, como a microscopia de sonda de Kelvin de varredura, permite a medição precisa das variações de potencial de superfície, que é essencial para otimizar o desempenho e a fiabilidade do dispositivo.

Os centros de desenvolvimento e laboratórios de nanotecnologia também beneficiam da sensibilidade excepcional do AtomEdge Pro e do baixo nível de ruído na direcção Z (0,04 nm),que facilita medições precisas de películas ultrafinasA sua faixa de taxa de digitalização de 0,1 a 30 Hz permite velocidades de imagem flexíveis, equilibrando a resolução e o débito em função dos requisitos experimentais.

O instrumento tem um tamanho máximo de amostra de 25 mm e pode acolher uma grande variedade de amostras, desde pequenos nanomateriais até amostras biológicas maiores e dispositivos microfabricados.o modo de varredura multidirecional aumenta a flexibilidade de imagem, permitindo uma análise abrangente da superfície a partir de diferentes ângulos e perspectivas.

No geral, o Truth Instruments AtomEdge Pro AFM é adequado para diversas aplicações, como medição de rugosidade da superfície, análise de filme fino, caracterização de polímeros,e mapeamento de propriedades elétricas em nanoescalaAs suas características avançadas e o seu desempenho robusto tornam-na uma ferramenta crucial na investigação em nanotecnologia, fabrico de semicondutores, investigação de biomateriais,e muitas outras aplicações científicas e industriais de alta precisão.

Apoio e Serviços:

Nosso produto de microscópio de força atômica (AFM) vem com suporte técnico e serviços abrangentes para garantir o melhor desempenho e satisfação do cliente.A nossa equipa de peritos está dedicada a ajudá-lo com a instalação, calibração, manutenção e solução de problemas.

Fornecemos manuais detalhados e guias de software para ajudá-lo a operar o AFM com eficiência. Atualizações regulares de software estão disponíveis para melhorar a funcionalidade e introduzir novos recursos.

Além do suporte remoto através de e-mail e recursos online, oferecemos visitas de serviço no local para problemas complexos e manutenção de rotina.Também estão disponíveis sessões de formação e workshops para ajudar os utilizadores a maximizar as capacidades do sistema AFM..

O nosso compromisso estende-se ao fornecimento de peças de reposição e acessórios, garantindo a longevidade e confiabilidade do seu instrumento.Consulte a documentação fornecida com o seu AFM para obter os pormenores da garantia e os termos de serviço.

Para quaisquer consultas técnicas ou pedidos de serviço, nossa equipe de suporte está pronta para ajudá-lo prontamente para minimizar o tempo de inatividade e manter sua produtividade de pesquisa.

Perguntas frequentes:

P1: Qual é a marca e o modelo deste microscópio de força atômica?

R1: O Microscópio de Força Atômica é da marca Truth Instruments, e o número de modelo é AtomEdge Pro.

P2: Onde é fabricado o AtomEdge Pro?

R2: O Microscópio de Força Atómica AtomEdge Pro é fabricado na China.

P3: Quais são as principais aplicações do AFM AtomEdge Pro?

A3: O AtomEdge Pro é usado para imagens de superfície de alta resolução, medição em nanoescala e caracterização de materiais em ambientes de pesquisa e industriais.

P4: Que tipo de amostras podem ser analisadas com o AtomEdge Pro?

A4: O AtomEdge Pro pode analisar uma ampla gama de amostras, incluindo amostras biológicas, polímeros, semicondutores e nanomateriais.

P5: O AtomEdge Pro suporta vários modos de imagem?

R5: Sim, o AtomEdge Pro suporta vários modos de imagem, como modo de contato, modo de toque e modo sem contato, para atender a diferentes tipos de amostras e necessidades de pesquisa.