Flexibles 3D-Scannen für Elektronik, Biomaterialien und Präzisionsforschungsanwendungen

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das eine beispiellose Präzision und Vielseitigkeit bei der Kartierung von Oberflächenverhältnissen im Nanoskala bietet.Konzipiert, um den anspruchsvollen Anforderungen fortgeschrittener Forschung und industrieller Anwendungen gerecht zu werden, bietet dieses AFM eine umfassende Reihe von Funktionen, die es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure machen, die mit Halbleitern, magnetischen Materialien und einer Vielzahl anderer Oberflächen arbeiten.

Eines der herausragenden Merkmale dieses Atomkraftmikroskops ist seine beeindruckende Scanrate, die zwischen 0,1 und 30 Hz liegt.Dieses breite Spektrum der Scanning-Geschwindigkeiten ermöglicht es Benutzern, die Geschwindigkeit und Auflösung ihrer Scans an die spezifischen Bedürfnisse ihrer Proben und Experimente anzupassen.Ob eine detaillierte, hochauflösende Oberflächenanalyse oder ein schnelleres, breiteres Scannen erforderlich ist, dieser AFM passt sich nahtlos an die Aufgabe an.

Das Mikroskop verwendet eine fortschrittliche dreiachsige XYZ-Vollprobenscanning-Methode, die eine umfassende Abdeckung und eine präzise Positionierung der gesamten Probenoberfläche gewährleistet.Diese Fähigkeit ist entscheidend für eine genaue Kartierung der Oberfläche Eigenschaften, da es detaillierte Bildgebung und Messung über große Flächen ermöglicht, ohne die Auflösung oder Genauigkeit zu beeinträchtigen.

Die Vielseitigkeit in den Arbeitsmodi ist ein weiterer wichtiger Vorteil dieses AFM. Es unterstützt mehrere Arbeitsmodi, einschließlich Kontaktmodus, Tap-Modus, Phase Imaging-Modus, Lift-Modus,und Mehrrichtungsscanning-ModusJeder Modus bietet einzigartige Wechselwirkungsmechanismen zwischen Sonde und Probe, die die Untersuchung verschiedener Oberflächenmerkmale ermöglichen.Der Kontaktmodus ist ideal für hochauflösende Topographiebilder, während der Tapping-Modus durch intermittierenden Kontakt mit der Oberfläche die Probenschäden minimiert.Phase-Imaging-Modus und Lift-Modus bieten zusätzliche Kontrastmechanismen, die Material-Eigenschaften jenseits der bloßen Topographie offenbarenDer Mehrrichtungsscanning-Modus erhöht die Bildflexibilität durch das Scannen der Probe aus verschiedenen Richtungen.Verbesserung der Zuverlässigkeit und Detaillierung der Daten.

Die Präzision ist in der Atomkraftmikroskopie von größter Bedeutung, und dieses Produkt zeichnet sich durch eine bemerkenswert niedrige Geräuschbelastung in Z-Richtung aus, gemessen bei nur 0,04 nm.Ein solch geräuscharmer Boden sorgt dafür, daß selbst die geringsten Veränderungen der Oberflächenhöhe mit außergewöhnlicher Klarheit erkannt werden, was für Anwendungen, die eine Nano-Genauigkeit erfordern, wie z. B. die Inspektion von Halbleiterwafern und die Charakterisierung von Nanostrukturen, entscheidend ist.

Über die topographische Bildgebung hinaus verfügt dieses Atomkraftmikroskop über multifunktionale Messfunktionen, die seinen Anwendungsbereich erheblich erweitern.Es integriert fortschrittliche Techniken wie Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Magnetische Kraftmikroskopie (MFM) und Kraftkurvenmessungen.Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, elektrische, magnetische, piezoelektrische und mechanische Eigenschaften von Materialien im Nanobereich.

Vor allem die Magnetkraftmikroskopie (MFM) ist ein leistungsfähiges Verfahren zur Untersuchung magnetischer Bereiche und Wechselwirkungen innerhalb von Materialien.Diese Fähigkeit ist bei der Entwicklung und Analyse von Magnetspeichergeräten unerlässlich.In der Zwischenzeit erleichtern Techniken wie EFM und KPFM eine detaillierte Kartierung elektrischer Eigenschaften.der für Halbleiterforschung und Oberflächenladungsstudien von entscheidender Bedeutung ist.

Die Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM) ermöglicht die Untersuchung piezoelektrischer und ferroelektrischer Materialien, die in verschiedenen elektronischen und elektromechanischen Geräten von entscheidender Bedeutung sind.Die Einbeziehung von Kraftkurvenmessungen ermöglicht die Untersuchung mechanischer Eigenschaften wie Steifheit und Haftung auf Mikroskala bis Nanoskala, die einen umfassenden Einblick in das materielle Verhalten bieten.

Insgesamt zeichnet sich dieses Atomkraftmikroskop als ein vielseitiges, leistungsstarkes Instrument aus, das für die erweiterte Kartierung von Oberflächen-Eigenschaften entwickelt wurde.vollständige XYZ-Scanfähigkeit, mehrere Arbeitsmodi, ultra-niedriges Rauschen und multifunktionale Messmöglichkeiten machen es zu einem wesentlichen Werkzeug in Bereichen von der Halbleitertechnik bis zur Magnetmaterialforschung.Forscher und Fachkräfte, die die Grenzen der Nanomonitor-Analyse überschreiten möchten, werden dieses AFM in ihren Laboratorien als wertvolles Mittel finden..

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop (AFM)
• Nichtlinearität: 0,15% in XY-Richtung und 1% in Z-Richtung
• Probegröße: bis zu 25 mm
• Bildprobenpunkt: Die maximale Auflösung des Bildes der Scansonde beträgt 4096*4096.
• Multifunktionale Messfunktionen einschließlich Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM),Magnetkraftmikroskop (MFM), und Kraftkurvenanalyse
• Scanning Rate: von 0,1 bis 30 Hz einstellbar
• Unterstützt Kontaktlosmodus für hochauflösende Oberflächenanalyse
• Erweiterte Magnetkraftmikroskopie zur detaillierten Charakterisierung magnetischer Eigenschaften

Technische Parameter:

Anwendungen:

Die Wahrheit Instrumente AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), mit Ursprung in China,ist ein hochmodernes Gerät, das für eine Vielzahl von Anwendungsfällen und -szenarien entwickelt wurde, bei denen eine Bildgebung und Analyse mit nanometrischer Auflösung erforderlich ist. Seine vielseitigen Arbeitsmodi, einschließlich Kontaktmodus, Tap-Modus, Phase Imaging-Modus, Lift-Modus und Multi-directional Scanning-Modus,Sie soll sowohl in der Forschung als auch in der Industrie ein unverzichtbares Werkzeug werden..

In akademischen Forschungslaboren wird das AtomEdge Pro häufig für die Oberflächencharakterisierung und Nanoskala-Materialanalyse verwendet.Die Fähigkeit, hochauflösende Bilder mit einem maximalen Probenahmepunkt von 4096*4096 zu erzeugen, ermöglicht es Forschern, die Oberflächentopographie zu untersuchenDiese Fähigkeit ist in Bereichen wie Materialwissenschaft, Physik, Chemie und Biologie besonders wertvoll.wo das Verständnis von Oberflächeninteraktionen und -eigenschaften entscheidend ist.

In der Halbleiter- und Elektronikindustrie unterstützt der AtomEdge Pro die Qualitätskontrolle und die Fehleranalyse, indem er detaillierte Oberflächenmorphologie und elektrische Eigenschaften abbildet.Die Einbeziehung fortschrittlicher Techniken wie der Scanning-Kelvin-Sonde-Mikroskopie ermöglicht eine präzise Messung von Oberflächenpotenzialvariationen, was für die Optimierung der Leistung und Zuverlässigkeit des Geräts unerlässlich ist.

Auch Nanotechnologie-Entwicklungszentren und -Labore profitieren von der außergewöhnlichen Empfindlichkeit und dem geringen Geräuschpegel des AtomEdge Pro in der Z-Richtung (0,04 nm).mit einer Breite von mehr als 20 mm,Der Scanning-Rate-Bereich von 0,1 bis 30 Hz ermöglicht flexible Bildgeschwindigkeiten, eine ausgewogene Auflösung und Durchsatz je nach experimentellen Anforderungen.

Das Gerät hat eine maximale Probengröße von 25 mm und bietet Platz für eine Vielzahl von Proben, von kleinen Nanomaterialien bis hin zu größeren biologischen Proben und mikrofertilierten Geräten.Der mehrrichtungsfähige Scanmodus erhöht die Bildflexibilität, die eine umfassende Oberflächenanalyse aus verschiedenen Blickwinkeln und Perspektiven ermöglicht.

Insgesamt eignet sich die Truth Instruments AtomEdge Pro AFM für verschiedene Anwendungen wie die Messung der Oberflächenrauheit, Dünnschichtanalyse, Polymercharakterisierung,und die Kartierung elektrischer Eigenschaften im NanobereichSeine fortschrittlichen Eigenschaften und robuste Leistung machen es zu einem entscheidenden Instrument für die Nanotechnologieforschung, Halbleiterherstellung, Biomaterialienforschung,und viele andere hochpräzise wissenschaftliche und industrielle Anwendungen.

Unterstützung und Dienstleistungen:

Unser Atomic Force Microscope (AFM) Produkt wird mit umfassender technischer Unterstützung und Dienstleistungen geliefert, um eine optimale Leistung und Kundenzufriedenheit zu gewährleisten.Unser Expertenteam ist bestrebt, Ihnen bei der Installation zu helfen., Kalibrierung, Wartung und Fehlerbehebung.

Wir bieten detaillierte Benutzerhandbücher und Software-Anleitungen, um Ihnen zu helfen, den AFM effizient zu bedienen.

Zusätzlich zu der Remote-Unterstützung über E-Mail und Online-Ressourcen bieten wir Servicebesuche vor Ort für komplexe Probleme und Routinewartung an.Außerdem stehen Schulungen und Workshops zur Verfügung, um den Nutzern zu helfen, die Fähigkeiten des AFM-Systems zu maximieren..

Unser Engagement erstreckt sich auch auf Ersatzteile und Zubehör, um die Langlebigkeit und Zuverlässigkeit Ihres Instruments zu gewährleisten.Bitte beachten Sie die Dokumentation, die mit Ihrem Luftfahrtmanager geliefert wurde, um Garantieinformationen und Servicebedingungen zu erhalten..

Bei technischen Anfragen oder Serviceanfragen ist unser Support-Team bereit, Sie umgehend zu unterstützen, um Ausfallzeiten zu minimieren und Ihre Forschungsergebnisse zu erhalten.

Häufige Fragen:

F1: Was ist die Marke und das Modell dieses Atomkraftmikroskops?

A1: Das Atomic Force Microscope stammt von der Marke Truth Instruments und hat die Modellnummer AtomEdge Pro.

F2: Wo wird der AtomEdge Pro hergestellt?

A2: Das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope wird in China hergestellt.

F3: Was sind die wichtigsten Anwendungen des AtomEdge Pro AFM?

A3: Das AtomEdge Pro wird für hochauflösende Oberflächenbilder, Nanomessungen und Materialcharakterisierung in Forschungs- und Industrieumgebungen verwendet.

F4: Welche Art von Proben kann mit dem AtomEdge Pro analysiert werden?

A4: Das AtomEdge Pro kann eine Vielzahl von Proben analysieren, darunter biologische Proben, Polymere, Halbleiter und Nanomaterialien.

F5: Unterstützt das AtomEdge Pro mehrere Bildmodus?

A5: Ja, das AtomEdge Pro unterstützt verschiedene Bildgebungsmodi wie Kontaktmodus, Tapping-Modus und Kontaktlosmodus, um verschiedenen Probentypen und Forschungsbedürfnissen gerecht zu werden.