Escaneo 3D flexible para aplicaciones de investigación de electrónica, biomateriales y precisión

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de última generación diseñado para proporcionar una precisión y versatilidad sin precedentes en el mapeo de propiedades superficiales a nanoescala.Diseñado para satisfacer los exigentes requisitos de la investigación avanzada y las aplicaciones industriales, este AFM ofrece un conjunto completo de características que lo convierten en una herramienta indispensable para científicos e ingenieros que trabajan con semiconductores, materiales magnéticos y una variedad de otras superficies.

Una de las características más destacadas de este microscopio de fuerza atómica es su impresionante velocidad de escaneo, que oscila entre 0,1 y 30 Hz.Este amplio espectro de velocidad de escaneo permite a los usuarios adaptar la velocidad y la resolución de sus escáneres de acuerdo con las necesidades específicas de su muestra y experimentoYa sea que se requiera un análisis de superficie detallado y de alta resolución o un escaneo más rápido y más amplio, este AFM se adapta perfectamente a la tarea.

El microscopio emplea un avanzado método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, lo que garantiza una cobertura completa y un posicionamiento preciso en toda la superficie de la muestra.Esta capacidad es crítica para el mapeo preciso de las propiedades de la superficie, ya que permite obtener imágenes y mediciones detalladas en grandes áreas sin comprometer la resolución o la precisión.

La versatilidad en los modos de trabajo es otra ventaja clave de este AFM.y Modo de escaneo multidireccionalCada modo ofrece mecanismos únicos de interacción entre la sonda y la muestra, lo que permite la investigación de diversas características de la superficie.Modo de contacto es ideal para imágenes topográficas de alta resolución, mientras que el modo Tap minimiza el daño de la muestra al entrar en contacto intermitente con la superficie.Modo de Imagen de Fase y Modo de Elevación proporcionan mecanismos de contraste adicionales que revelan propiedades del material más allá de la mera topografíaEl modo de escaneo multidireccional mejora aún más la flexibilidad de las imágenes mediante el escaneo de la muestra desde diferentes orientaciones,mejorar la fiabilidad y el detalle de los datos.

La precisión es primordial en la microscopía de fuerza atómica, y este producto sobresale con un nivel de ruido notablemente bajo en la dirección Z, medido a solo 0,04 nm.Este piso de bajo ruido garantiza que incluso las más pequeñas variaciones de la altura de la superficie se detecten con una claridad excepcional, que es crucial para aplicaciones que requieren precisión a nanoescala, como la inspección de obleas semiconductoras y la caracterización de nanoestructuras.

Más allá de la toma de imágenes topográficas, este microscopio de fuerza atómica está equipado con capacidades de medición multifuncionales que amplían significativamente su alcance de aplicación.Incluye técnicas avanzadas como la microscopía de fuerzas electrostáticas (EFM)., Microscopía de la fuerza de la sonda de escaneo de Kelvin (KPFM), Microscopía de la fuerza piezoeléctrica (PFM), Microscopía de la fuerza magnética (MFM) y mediciones de la curva de fuerza.Estas funcionalidades permiten a los usuarios sondear, propiedades magnéticas, piezoeléctricas y mecánicas de los materiales a nanoescala.

La microscopía de fuerza magnética (MFM), en particular, es una característica poderosa para estudiar los dominios magnéticos y las interacciones dentro de los materiales.Esta capacidad es esencial en el desarrollo y análisis de dispositivos de almacenamiento magnéticoMientras tanto, técnicas como el EFM y el KPFM facilitan el mapeo detallado de propiedades eléctricas,que es vital en la investigación de semiconductores y estudios de carga superficial.

La microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM) permite el examen de materiales piezoeléctricos y ferroeléctricos, que son críticos en varios dispositivos electrónicos y electromecánicos.La inclusión de las mediciones de la curva de fuerza permite la investigación de propiedades mecánicas como la rigidez y la adhesión a nivel de micro a nanoescala, proporcionando una visión completa del comportamiento material.

En general, este microscopio de fuerza atómica se destaca como un instrumento versátil y de alto rendimiento diseñado para el mapeo avanzado de las propiedades de la superficie.capacidad de escaneo XYZ completa, múltiples modos de trabajo, ruido ultra bajo y opciones de medición multifuncionales hacen que sea una herramienta esencial en campos que van desde la tecnología de semiconductores hasta la investigación de materiales magnéticos.Los investigadores y profesionales que buscan ampliar los límites del análisis a nanoescala encontrarán este AFM un activo invaluable en sus laboratorios.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica (AFM)
• No linealidad: 0,15% en dirección XY y 1% en dirección Z
• Tamaño de la muestra: hasta 25 mm
• Punto de muestreo de imagen: la resolución máxima de la imagen de la sonda de exploración es 4096*4096
• Capacidades de medición multifuncionales que incluyen el microscopio de fuerza electrostática (EFM), el microscopio de fuerza de la sonda de escaneo Kelvin (KPFM), el microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM),Microscopio de fuerza magnética (MFM), y el análisis de la curva de fuerza
• Tasa de escaneo: ajustable de 0,1 a 30 Hz
• Apoya el modo sin contacto para el análisis de superficie de alta resolución
• Microscopía avanzada de la fuerza magnética para la caracterización detallada de las propiedades magnéticas

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), originario de China,es un instrumento de última generación diseñado para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación que requieren imágenes y análisis de resolución nanométricaSus modos de trabajo versátiles, incluidos el modo de contacto, el modo de toque, el modo de imagen de fase, el modo de elevación y el modo de escaneo multidireccional,hacerla una herramienta indispensable tanto en el ámbito de la investigación como en el industrial.

En los laboratorios de investigación académica, el AtomEdge Pro se usa comúnmente para la caracterización de superficies y el análisis de materiales a nanoescala.Su capacidad para obtener imágenes de alta resolución con un punto de muestreo de imagen máximo de 4096*4096 permite a los investigadores estudiar la topografía de la superficieEsta capacidad es particularmente valiosa en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología.donde la comprensión de las interacciones y propiedades de la superficie es crítica.

En las industrias de semiconductores y electrónica, el AtomEdge Pro admite el control de calidad y el análisis de fallas al proporcionar una morfología de superficie detallada y un mapeo de propiedades eléctricas.La inclusión de técnicas avanzadas como la microscopía de sonda de escaneo de Kelvin permite una medición precisa de las variaciones de potencial de superficie, que es esencial para optimizar el rendimiento y la fiabilidad del dispositivo.

Los centros y laboratorios de desarrollo de nanotecnología también se benefician de la excepcional sensibilidad y del bajo nivel de ruido del AtomEdge Pro en la dirección Z (0,04 nm).que facilita las mediciones precisas de las películas ultrafinasSu rango de velocidad de escaneo de 0,1-30 Hz permite velocidades de imagen flexibles, balanceando la resolución y el rendimiento dependiendo de los requisitos experimentales.

El tamaño máximo de la muestra del instrumento, de 25 mm, permite una amplia variedad de muestras, desde pequeños nanomateriales hasta muestras biológicas más grandes y dispositivos microfabricados.el modo de escaneo multidireccional mejora la flexibilidad de las imágenes, lo que permite un análisis exhaustivo de la superficie desde diferentes ángulos y perspectivas.

En general, el Truth Instruments AtomEdge Pro AFM es adecuado para diversas aplicaciones como la medición de rugosidad superficial, análisis de película delgada, caracterización de polímeros,y el mapeo de propiedades eléctricas a nanoescalaSus características avanzadas y su robusto rendimiento lo convierten en una herramienta crucial en investigación de nanotecnología, fabricación de semiconductores, investigación de biomateriales,y muchas otras aplicaciones científicas e industriales de alta precisión.

Apoyo y servicios:

Nuestro producto de microscopio de fuerza atómica (AFM) viene con soporte técnico y servicios integrales para garantizar un rendimiento óptimo y la satisfacción del cliente.Nuestro equipo de expertos está dedicado a ayudarle con la instalación, calibración, mantenimiento y solución de problemas.

Proporcionamos manuales detallados y guías de software para ayudarle a operar el AFM de manera eficiente.

Además del soporte remoto a través de correo electrónico y recursos en línea, ofrecemos visitas de servicio in situ para problemas complejos y mantenimiento de rutina.También se ofrecen sesiones de formación y talleres para ayudar a los usuarios a maximizar las capacidades del sistema AFM..

Nuestro compromiso se extiende a proporcionar piezas de repuesto y accesorios, asegurando la longevidad y fiabilidad de su instrumento.Consulte la documentación proporcionada con su AFM para obtener detalles de la garantía y los términos de servicio..

Para cualquier consulta técnica o solicitud de servicio, nuestro equipo de soporte está listo para ayudarle rápidamente para minimizar el tiempo de inactividad y mantener la productividad de su investigación.

Preguntas frecuentes:

P1: ¿Cuál es la marca y el modelo de este microscopio de fuerza atómica?

R1: El microscopio de la Fuerza Atómica es de la marca Truth Instruments, y el número de modelo es AtomEdge Pro.

P2: ¿Dónde se fabrica el AtomEdge Pro?

R2: El AtomEdge Pro Microscopio de Fuerza Atómica es fabricado en China.

P3: ¿Cuáles son las principales aplicaciones del AFM AtomEdge Pro?

R3: El AtomEdge Pro se utiliza para imágenes de superficie de alta resolución, medición a nanoescala y caracterización de materiales en entornos de investigación e industriales.

P4: ¿Qué tipo de muestras se pueden analizar con el AtomEdge Pro?

A4: El AtomEdge Pro puede analizar una amplia gama de muestras, incluidas muestras biológicas, polímeros, semiconductores y nanomateriales.

P5: ¿El AtomEdge Pro admite múltiples modos de imagen?

R5: Sí, el AtomEdge Pro admite varios modos de imagen como el modo de contacto, el modo de toque y el modo sin contacto para adaptarse a diferentes tipos de muestras y necesidades de investigación.