اسکن سه بعدی انعطاف پذیر برای الکترونیک، مواد زیستی و کاربردهای تحقیق دقیق

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه دقت بی نظیر و قابلیت های گوناگون در نقشه برداری ویژگی های سطحی در مقیاس نانو طراحی شده است.طراحی شده برای برآورده کردن الزامات پیشرفته تحقیقات و کاربردهای صنعتی، این AFM مجموعه ای جامع از ویژگی ها را ارائه می دهد که آن را یک ابزار ضروری برای دانشمندان و مهندسان کار با نیمه هادی ها، مواد مغناطیسی و انواع سطوح دیگر می کند.

یکی از ویژگی های برجسته این میکروسکوپ نیروی اتمی میزان اسکن چشمگیر آن است که از 0.1 تا 30 هرتز می باشد.این طیف گسترده ای از نرخ اسکن به کاربران اجازه می دهد تا سرعت و وضوح اسکن های خود را با توجه به نیازهای خاص نمونه و آزمایش خود تنظیم کنند.چه تجزیه و تحلیل سطحی دقیق و با وضوح بالا و چه اسکن سریع تر و گسترده تری مورد نیاز باشد، این AFM به طور یکپارچه به کار خود تطبیق می یابد.

این میکروسکوپ از یک روش اسکن کامل نمونه سه محور پیشرفته XYZ استفاده می کند، که پوشش جامع و موقعیت دقیق را در سراسر سطح نمونه تضمین می کند.این قابلیت برای نقشه برداری دقیق ویژگی های سطح بسیار مهم است.این امکان تصویربرداری و اندازه گیری دقیق را در مناطق بزرگ بدون به خطر انداختن وضوح یا دقت فراهم می کند.

انعطاف پذیری در حالت های کاری یکی دیگر از مزیت های اصلی این AFM است.و حالت اسکن چند جهتهر حالت مکانیسم های تعامل منحصر به فرد بین پروب و نمونه را ارائه می دهد، که امکان بررسی ویژگی های مختلف سطح را فراهم می کند.حالت تماس برای تصویربرداری توپوگرافی با وضوح بالا ایده آل است، در حالی که حالت ضربه به حداقل رساندن آسیب نمونه با تماس متناوب با سطح است.حالت تصویربرداری فاز و حالت بالا بردن مکانیسم های کنتراست اضافی را فراهم می کنند که ویژگی های مواد را فراتر از توپوگرافی آشکار می کنند.حالت اسکن چند جهت ای بیشتر انعطاف پذیری تصویربرداری را با اسکن نمونه از جهت های مختلف افزایش می دهد.بهبود قابلیت اطمینان و جزئیات داده ها.

دقت در میکروسکوپی نیروی اتمی بسیار مهم است، و این محصول با یک سطح کم سر و صدا در جهت Z، در 0.04 نانومتر اندازه گیری می شود.چنین یک کف کم سر و صدا تضمین می کند که حتی کوچک ترین تغییرات در ارتفاع سطح با وضوح استثنایی تشخیص داده می شود.که برای کاربردهایی که نیاز به دقت در مقیاس نانو دارند، مانند بازرسی و توصیف ساختار نانو، بسیار مهم است.

فراتر از تصویربرداری توپوگرافی، این میکروسکوپ نیروی اتمی مجهز به قابلیت های اندازه گیری چند منظوره است که دامنه کاربرد آن را به طور قابل توجهی گسترش می دهد.این تکنولوژی شامل تکنیک های پیشرفته ای مانند میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) است.، اسکنینگ کلوین پروب فورس میکروسکوپی (KPFM) ، پیزو الکتریک فورس میکروسکوپی (PFM) ، مغناطیسی فورس میکروسکوپی (MFM) ، و اندازه گیری های منحنی نیروی.این قابلیت ها کاربران را قادر می سازند کهویژگی های مغناطیسی، پیزو الکتریکی و مکانیکی مواد در مقیاس نانو.

میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM) ، به ویژه، یک ویژگی قدرتمند برای مطالعه دامنه های مغناطیسی و تعاملات در مواد است.این قابلیت در توسعه و تحلیل دستگاه های ذخیره سازی مغناطیسی ضروری است.در همین حال، تکنیک هایی مانند EFM و KPFM نقشه برداری خاصیت الکتریکی دقیق را تسهیل می کنند.که در تحقیقات نیمه هادی و مطالعات شارژ سطحی ضروری است..

میکروسکوپی نیروی پیزو الکتریکی (PFM) اجازه می دهد برای بررسی مواد پیزو الکتریکی و فیرو الکتریکی، که در دستگاه های مختلف الکترونیکی و الکترومکانیکی مهم هستند.گنجاندن اندازه گیری های منحنی نیروی، امکان بررسی خواص مکانیکی مانند سفتی و چسبندگی را در سطح میکرو تا نانوسکیل فراهم می کند.، فراهم کردن بینش جامع در رفتار مواد.

به طور کلی، این میکروسکوپ نیروی اتمی به عنوان یک ابزار انعطاف پذیر و با کارایی بالا که برای نقشه برداری ویژگی های پیشرفته سطح طراحی شده است، برجسته است.قابلیت اسکن کامل XYZ، حالت های کاری متعدد، سر و صدا بسیار کم و گزینه های اندازه گیری چند منظوره باعث می شود که این یک ابزار ضروری در زمینه هایی از فن آوری نیمه هادی تا تحقیقات مواد مغناطیسی باشد.محققان و متخصصان که به دنبال گسترش محدوده تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو هستند، این AFM را یک دارایی ارزشمند در آزمایشگاه های خود خواهند یافت..

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
• عدم خطی بودن: 0.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z
• اندازه نمونه: تا 25mm
• نقطه نمونه گیری تصویر: حداکثر وضوح تصویر سُند اسکن 4096*4096 است.
• قابلیت های اندازه گیری چند منظوره از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، اسکنینگ کلوین پروب نیروی میکروسکوپی (KPFM) ، میکروسکوپ نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ،میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)، و تجزیه و تحلیل منحنی نیروی
• نرخ اسکن: قابل تنظیم از 0.1 تا 30 هرتز
• از حالت بدون تماس برای تحلیل سطح با وضوح بالا پشتیبانی می کند
• میکروسکوپی پیشرفته نیروی مغناطیسی برای مشخص کردن ویژگی های دقیق مغناطیسی

پارامترهای فنی:

کاربردها:

ابزار حقیقت میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از چینیک ابزار پیشرفته طراحی شده برای طیف گسترده ای از موارد و سناریوهای کاربردی است که نیاز به تصویربرداری و تجزیه و تحلیل رزولوشن نانومتر دارند.حالت های کاری بسیار متنوعی دارد، از جمله حالت تماس، حالت ضربه، حالت تصویربرداری فاز، حالت بالا بردن، و حالت اسکن چند جهت.آن را یک ابزار ضروری در هر دو محیط های تحقیقاتی و صنعتی..

در آزمایشگاه های تحقیقاتی آکادمیک، AtomEdge Pro به طور معمول برای توصیف سطح و تجزیه و تحلیل مواد نانو استفاده می شود.توانایی آن برای دستیابی به تصویربرداری با وضوح بالا با حداکثر نقطه نمونه گیری تصویر 4096*4096 به محققان اجازه می دهد تا توپوگرافی سطح را مطالعه کنند.این قابلیت به ویژه در زمینه هایی مانند علوم مواد، فیزیک، شیمی و زیست شناسی ارزشمند است.جایی که درک تعاملات و خواص سطح بسیار مهم است..

در صنایع نیمه هادی و الکترونیک، AtomEdge Pro از کنترل کیفیت و تجزیه و تحلیل شکست با ارائه مورفولوژی سطحی دقیق و نقشه برداری خاصیت الکتریکی پشتیبانی می کند.گنجاندن تکنیک های پیشرفته ای مانند اسکنینگ کلوین پروب میکروسکوپی، اندازه گیری دقیق تغییرات بالقوه سطحی را امکان پذیر می کند.که برای بهینه سازی عملکرد و قابلیت اطمینان دستگاه ضروری است.

مراکز توسعه فناوری نانو و آزمایشگاه ها نیز از حساسیت استثنایی و سطح کم سر و صدا در جهت Z (0.04 نانومتر) AtomEdge Pro بهره مند می شوند.که اندازه گیری دقیق فیلم های بسیار نازک را تسهیل می کنددامنه نرخ اسکن آن از 0.1 تا 30 هرتز اجازه می دهد سرعت تصویربرداری انعطاف پذیر، تعادل وضوح و خروجی بسته به الزامات تجربی را داشته باشد.

حداکثر اندازه نمونه ی این ابزار 25 میلی متری است که می تواند انواع مختلفی از نمونه ها را از نانومواد های کوچک گرفته تا نمونه های بیولوژیکی بزرگتر و دستگاه های میکروفابریک شده را در خود جای دهد.حالت اسکن چند جهت دار انعطاف پذیری تصویربرداری را افزایش می دهد.، امکان تجزیه و تحلیل سطح جامع از زاویه ها و دیدگاه های مختلف.

به طور کلی، ابزار حقیقت AtomEdge Pro AFM برای کاربردهای متنوعی مانند اندازه گیری خشکی سطح، تجزیه و تحلیل فیلم نازک، مشخصه سازی پلیمر،و نقشه برداری خاصیت الکتریکی در مقیاس نانوویژگی های پیشرفته و عملکرد قوی آن را به ابزاری مهم در تحقیقات نانوتکنولوژی، تولید نیمه هادی، تحقیقات مواد زیستی تبدیل می کند.و بسیاری دیگر از کاربردهای علمی و صنعتی با دقت بالا.

پشتیبانی و خدمات:

محصول ما از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) با پشتیبانی فنی و خدمات جامع برای اطمینان از عملکرد بهینه و رضایت مشتری همراه است.تیم ما از کارشناسان متعهد به کمک به شما با نصب، کالیبراسیون، تعمیر و نگهداری و رفع مشکل.

ما دستورالعمل های کاربری و راهنمای نرم افزاری مفصل را برای کمک به شما در کار با AFM به طور کارآمد ارائه می دهیم. به روز رسانی های نرم افزاری منظم برای بهبود عملکرد و معرفی ویژگی های جدید در دسترس هستند.

علاوه بر پشتیبانی از راه دور از طریق ایمیل و منابع آنلاین، ما بازدید از خدمات در محل برای مسائل پیچیده و تعمیرات معمول را ارائه می دهیم.جلسات آموزشی و کارگاه ها نیز در دسترس هستند تا به کاربران کمک کنند تا قابلیت های سیستم AFM را به حداکثر برسانند..

تعهد ما به ارائه قطعات جایگزین و لوازم جانبی گسترش می یابد، تضمین طول عمر و قابلیت اطمینان ابزار شما.لطفا به اسناد ارائه شده با AFM خود را برای جزئیات گارانتی و شرایط خدمات مراجعه کنید.

برای هر گونه پرسش های فنی یا درخواست های سرویس، تیم پشتیبانی ما آماده است تا به سرعت به شما کمک کند تا زمان توقف را به حداقل برسانید و بهره وری تحقیق خود را حفظ کنید.

سوالات متداول:

سوال1: مارک و مدل این میکروسکوپ نیروی اتمی چیست؟

A1: میکروسکوپ نیروی اتمی از برند ابزار حقیقت است، و شماره مدل AtomEdge Pro است.

سوال2: AtomEdge Pro در کجا تولید می شود؟

A2: میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro در چین ساخته شده است.

Q3: کاربردهای اصلی AtomEdge Pro AFM چیست؟

A3: AtomEdge Pro برای تصویربرداری سطح با وضوح بالا، اندازه گیری در مقیاس نانو، و توصیف مواد در محیط های تحقیقاتی و صنعتی استفاده می شود.

س4: چه نوع نمونه هایی را می توان با AtomEdge Pro تجزیه و تحلیل کرد؟

A4: The AtomEdge Pro می تواند طیف گسترده ای از نمونه ها را شامل نمونه های بیولوژیکی، پلیمرها، نیمه هادی ها و مواد نانویی تجزیه و تحلیل کند.

س5: آیا AtomEdge Pro از چند حالت تصویربرداری پشتیبانی می کند؟

A5: بله، AtomEdge Pro از حالت های مختلف تصویربرداری مانند حالت تماس، حالت ضربه زدن و حالت بدون تماس پشتیبانی می کند تا متناسب با انواع نمونه های مختلف و نیازهای تحقیقاتی باشد.