Flexibele 3D-scanning voor elektronica, biomaterialen en precisieonderzoekstoepassingen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een state-of-the-art instrument dat is ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden bij het in kaart brengen van oppervlakte-eigenschappen op nanoschaal.Ontworpen om te voldoen aan de veeleisende eisen van geavanceerd onderzoek en industriële toepassingen, biedt deze AFM een uitgebreide reeks functies die het een onmisbaar hulpmiddel maken voor wetenschappers en ingenieurs die werken met halfgeleiders, magnetische materialen en een verscheidenheid aan andere oppervlakken.

Een van de opvallende kenmerken van deze Atoomkrachtmicroscoop is de indrukwekkende scansnelheid, die varieert van 0,1 tot 30 Hz.Dit brede spectrum van scansnelheden stelt gebruikers in staat de snelheid en resolutie van hun scans af te stemmen op de specifieke behoeften van hun monster en experimentOf het nu gaat om een gedetailleerde oppervlaktanalyse met hoge resolutie of om een snellere, bredere scan, deze AFM past zich naadloos aan de taak aan.

De microscoop maakt gebruik van een geavanceerde XYZ-drie-assige volmonsterscansmethode, die een uitgebreide dekking en een nauwkeurige positionering over het gehele monsteroppervlak garandeert.Deze mogelijkheid is van cruciaal belang voor nauwkeurige oppervlakte eigenschappen mapping, omdat het gedetailleerde afbeeldingen en metingen over grote gebieden mogelijk maakt zonder afbreuk te doen aan resolutie of nauwkeurigheid.

Verscheidenheid in werkwijzen is een ander belangrijk voordeel van deze AFM. Het ondersteunt meerdere werkwijzen, waaronder contactmodus, tapmodus, fase-imagingmodus, liftmodus,en meerrichtingsscanmodusElke modus biedt unieke interactie-mechanismen tussen de sonde en het monster, waardoor verschillende oppervlakte-eigenschappen kunnen worden onderzocht.Contactmodus is ideaal voor topografische afbeeldingen met hoge resolutie, terwijl Tap Mode de monsterbeschadiging minimaliseert door intermitterend contact op te nemen met het oppervlak.Fase Imaging Mode en Lift Mode bieden extra contrastmechanismen die materiaal eigenschappen buiten louter topografie onthullen, zoals hechting, stijfheid en magnetische interacties.verbetering van de betrouwbaarheid en de gedetailleerde gegevens.

In de atoomkrachtmicroscopie is nauwkeurigheid van het allergrootste belang, en dit product staat uit met een opmerkelijk laag geluidsniveau in de Z-richting, gemeten op slechts 0,04 nm.Een dergelijke lage geluidsvloer zorgt ervoor dat zelfs de geringste variaties in oppervlaktehoogte met uitzonderlijke helderheid worden gedetecteerd, wat cruciaal is voor toepassingen die nauwkeurigheid op nanoschaal vereisen, zoals het inspecteren van halfgeleiderwafers en het karakteriseren van nanostructuur.

Naast topografische beeldvorming is deze atoomkrachtmicroscoop uitgerust met multifunctionele meetmogelijkheden die het toepassingsgebied aanzienlijk vergroten.Het integreert geavanceerde technieken zoals elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), magnetische krachtmicroscopie (MFM) en Force Curve-metingen.Deze functionaliteiten stellen gebruikers in staat om elektrische, magnetische, piezo-elektrische en mechanische eigenschappen van materialen op nanoschaal.

Magnetic Force Microscopy (MFM) is in het bijzonder een krachtige functie voor het bestuderen van magnetische domeinen en interacties binnen materialen.Dit vermogen is essentieel bij de ontwikkeling en analyse van magnetische opslagapparaten.Inmiddels vergemakkelijken technieken als EFM en KPFM gedetailleerde elektrische eigenschappen in kaart brengen,die van vitaal belang is in halfgeleideronderzoek en oppervlakteladingsstudies.

Met de piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM) kunnen piezo- en ferro-elektrische materialen worden onderzocht, die van cruciaal belang zijn voor verschillende elektronische en elektromechanische apparaten.De opname van krachtcurve-metingen maakt het mogelijk om mechanische eigenschappen zoals stijfheid en hechting op micro- tot nanoschaalniveau te onderzoeken, die een uitgebreid inzicht geeft in materiaalgedrag.

Over het algemeen onderscheidt deze atoomkrachtmicroscoop zich als een veelzijdig, krachtig instrument dat is ontworpen voor geavanceerde oppervlakte cartografie.volledige XYZ-scancapaciteit, meerdere werkwijzen, ultra-laag geluidsniveau en multifunctionele meetmogelijkheden maken het een essentieel hulpmiddel op gebieden variërend van halfgeleidertechnologie tot onderzoek naar magnetische materialen.Onderzoekers en professionals die de grenzen van nanoschaalanalyse willen verleggen, zullen dit AFM een onschatbare troef in hun laboratoria vinden.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope (AFM)
• Niet-lineariteit: 0,15% in XY-richting en 1% in Z-richting
• Grootte van het monster: tot 25 mm
• Beeldmonsteringspunt: maximale resolutie van het beeld van de scansonde is 4096*4096
• Multifunctionele meetmogelijkheden, waaronder elektrostatische krachtmicroscoop (EFM), scanning Kelvin probe force microscopie (KPFM), piezo-elektrische krachtmicroscoop (PFM),Magnetische krachtmicroscoop (MFM), en krachtcurve analyse
• Scansnelheid: instelbaar van 0,1 tot 30 Hz
• Ondersteunt contactloze modus voor oppervlaktanalyse met hoge resolutie
• Geavanceerde magnetische krachtmicroscopie voor gedetailleerde karakterisering van magnetische eigenschappen

Technische parameters:

Toepassingen:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), van oorsprong uit China,is een state-of-the-art instrument ontworpen voor een breed scala aan toepassingsgebeurtenissen en -scenario's die beeldvorming en analyse met een nanometerresolutie vereisenDe veelzijdige werkwijzen, waaronder contactmodus, tapmodus, fase-imagingmodus, liftmodus en multi-directionele scanningmodus,het een onmisbaar instrument maken in zowel onderzoek als industrie.

In academische onderzoekslaboratoria wordt de AtomEdge Pro vaak gebruikt voor oppervlakkenkarakterisering en nanoschaalmateriaalanalyse.Het vermogen om een hoge resolutie te verkrijgen met een maximaal beeldmonsteringspunt van 4096*4096 stelt onderzoekers in staat de topografie van het oppervlak te bestuderenDeze mogelijkheid is bijzonder waardevol op gebieden als materiaalwetenschappen, fysica, chemie en biologie.waar het begrijpen van oppervlakte-interacties en eigenschappen van cruciaal belang is.

In de halfgeleider- en elektronica-industrie ondersteunt de AtomEdge Pro kwaliteitscontrole en storingsanalyse door gedetailleerde oppervlaktemorfologie en elektrische eigenschappen in kaart te brengen.De opname van geavanceerde technieken zoals Scanning Kelvin Probe Microscopy maakt een nauwkeurige meting van oppervlaktepotentiële variaties mogelijk, wat essentieel is voor het optimaliseren van de prestaties en betrouwbaarheid van het apparaat.

Nanotechnologieontwikkelingscentra en -laboratoria profiteren eveneens van de uitzonderlijke gevoeligheid en het lage geluidsniveau van de AtomEdge Pro in de Z-richting (0,04 nm),die nauwkeurige metingen van ultradunne films mogelijk maaktHet scansnelheidsbereik van 0,1-30 Hz maakt het mogelijk om flexibele beeldsnelheden, een evenwichtige resolutie en doorvoer te bieden, afhankelijk van de experimentele vereisten.

Het instrument heeft een maximale steekproefomvang van 25 mm en is geschikt voor een grote verscheidenheid aan monsters, van kleine nanomaterialen tot grotere biologische monsters en microfabricated devices.de meerrichtingsscanmodus verbetert de beeldflexibiliteit, waardoor een uitgebreide oppervlaktanalyse vanuit verschillende hoeken en perspectieven mogelijk is.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomEdge Pro AFM geschikt voor diverse toepassingen, zoals oppervlakkrapte meting, dunne film analyse, polymer karakterisering,en nanoschaal elektrische eigenschappen mappingDe geavanceerde kenmerken en de robuuste prestaties maken het een cruciaal hulpmiddel in nanotechnologieonderzoek, halfgeleiderproductie, onderzoek naar biomaterialen,en vele andere wetenschappelijke en industriële toepassingen met hoge precisie.

Ondersteuning en diensten:

Ons product Atomic Force Microscope (AFM) wordt geleverd met uitgebreide technische ondersteuning en diensten om optimale prestaties en klanttevredenheid te garanderen.Ons team van experts is toegewijd aan u te helpen met de installatie, kalibratie, onderhoud en probleemoplossing.

We bieden gedetailleerde gebruikershandleidingen en softwarehandleidingen om u te helpen de AFM efficiënt te bedienen.

Naast ondersteuning op afstand via e-mail en online bronnen, bieden we servicebezoeken ter plaatse voor complexe problemen en routinematig onderhoud.Er zijn ook trainingen en workshops beschikbaar om gebruikers te helpen de mogelijkheden van het AFM-systeem te maximaliseren..

Onze toewijding strekt zich uit tot het leveren van reserveonderdelen en accessoires, waardoor de levensduur en betrouwbaarheid van uw instrument worden gewaarborgd.Zie de bij uw AFM verstrekte documentatie voor garantiegegevens en servicevoorwaarden.

Voor technische vragen of serviceverzoeken staat ons supportteam klaar om u onmiddellijk te helpen om uitvaltijd te minimaliseren en uw onderzoeksproductiviteit te behouden.

Vragen:

V1: Wat is het merk en model van deze Atomic Force Microscope?

A1: De Atomic Force Microscope is van het merk Truth Instruments, en het modelnummer is AtomEdge Pro.

V2: Waar wordt de AtomEdge Pro geproduceerd?

A2: De AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is vervaardigd in China.

V3: Wat zijn de belangrijkste toepassingen van de AtomEdge Pro AFM?

A3: De AtomEdge Pro wordt gebruikt voor oppervlaktebeeldvorming met hoge resolutie, nanometen en materiaalkarakterisering in onderzoeks- en industriële omgevingen.

V4: Welk soort monsters kunnen met de AtomEdge Pro worden geanalyseerd?

A4: De AtomEdge Pro kan een breed scala aan monsters analyseren, waaronder biologische monsters, polymeren, halfgeleiders en nanomaterialen.

V5: Ondersteunt de AtomEdge Pro meerdere beeldmodus?

A5: Ja, de AtomEdge Pro ondersteunt verschillende beeldvormende modi zoals contactmodus, tapmodus en niet-contactmodus om aan verschillende monstertypen en onderzoeksbehoeften te voldoen.