Atomaire krachtmicroscoop

Multifunctionele atoomkrachtmicroscoop

Multifunctioneel atoomkrachtmicroscoop Productmodel: AtomEdge Pro Productbeschrijving: De multifunctionele atoomkrachtmicroscoop AtomEdge Pro kan driedimensionale scans maken van materialen, elektronische apparaten, biologische monsters, enz.Het heeft meerdere werkwijzen zoals contactHet systeem is ...

Atomic-krachtmicroscoop op waferniveau

Wafelniveau atoomKrachtmicroscoop Productmodel: Atommax Productoverzicht: Met behulp van micro-cantilever sondestructuren maakt dit instrument 3D-morfologiekarakterisering mogelijk van geleidende, halfgeleidende en isolerende vaste materialen, het bereiken van wafelniveau-karakterisering op grote ...

Atomic Force Microscope van basistype

Productnaam Basic-type Atomic Force Microscope - AtomExplorer Productintroductie De AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope levert sub-nanometer resolutie voor het observeren van de oppervlakte topografie en textuur van materialen. Het legt fijne structuren en minuscule kenmerken vast op ...

Multi Functionele Atomic Kracht Microscoop Low Noise Materialen Microscoop Met MFM EFM PFM Modi

Multifunctionele Atomic Force Microscoop met MFM EFM PFM Modi Productbeschrijving: Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM zijn de lage ruisniveaus in zowel de Z- als de XY-richting, wat zorgt voor nauwkeurige en betrouwbare metingen. Het ruisniveau in de Z-richting is een indrukwekkende 0,04 ...

High Scanning Force Microscope 0,15 nm High Resolution Microscope voor Wafe

Hoge Scanning Force Microscoop voor Wafer Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat wordt gebruikt voor beeldvorming met hoge resolutie en oppervlakteanalyse in verschillende gebieden zoals nanotechnologie, materiaalkunde en biologie. Met zijn geavanceer...

All-in-one atoomKrachtmicroscoop multifunctioneel biologisch microscoop voor flexibele en precieze werking

All-in-one atoomKrachtmicroscoop voor flexibele en precieze werking Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor elektrische metingen en analyses op nanoschaal.Dit geavanceerde instrument biedt ongeëvenaarde mogelijkheden in het scannen en ...

0.15 nm High Resolution Microscopes Op maat gemaakte atoommicroscopen

Geavanceerde Atomic Force Microscoop voor Hoge-Resolutie Beeldvorming Productbeschrijving: De Atomic Force Microscoop is een geavanceerd hulpmiddel ontworpen voor beeldvorming met hoge resolutie en analyse op nanoschaal. Met een scanbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm biedt deze AFM beeldvormingsmoge...

Biologische atoomKrachtmicroscoop Hoogprecisie Scanning Probe Microscoop 0,15 nm Resolutie

Hoge precisie scanning sonde microscoop 0,15 nm resolutie Productbeschrijving: De atomaire krachtmicroscoop (AFM) is een geavanceerd instrument dat uitzonderlijke mogelijkheden biedt voor oppervlakte-analyse van nanometerresolutie. Met een scangebereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm biedt dit AFM ...

Hoge resolutie atoomKrachtmicroscoop 0,04 nm industriële microscoop voor nanoschaalanalyse

Hoge-resolutie Atomic Force Microscope voor nanoscale analyse Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een veelzijdig hulpmiddel voor oppervlakteanalyse, veelgebruikt in diverse wetenschappelijke en industriële toepassingen. Dit geavanceerde apparaat biedt uitzonderlijke scanmogelijk...

1 2 3 4 5 › »