Atomaire krachtmicroscoop

AtomExplorer: De ideale atoomKrachtmicroscoop voor R&D-laboratoria

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscoop van het basistype is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om nauwkeurige oppervlakteanalyse met hoge resolutie te leveren door middel van geavanceerde scanmogelijkheden. Met behulp van een XYZ-drie-assige full-sample scanmethode maakt deze ...

Betrouwbare oppervlaktextuuranalyse: AtomExplorer Basic-type AFM

Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd laboratorium-AFM-apparatuur dat is ontworpen om een nauwkeurige en betrouwbare oppervlaktekarakterisering van een breed scala aan materialen te leveren.Gemaakt met AFM-technologie met een hoge stabiliteit, biedt dit ...

Master Nanoscale Oppervlaktekarakterisering met AtomExplorer AFM

Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer veelzijdige en betrouwbare Scanning Probe Microscope die speciaal is ontworpen voor laboratoria die geavanceerde, maar toch gebruiksvriendelijke AFM-apparatuur zoeken.Dit model biedt uitgebreide mogelijkheden voor het ...

AtomExplorer: Precision Topography Tool voor chips en nanomaterialen

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een veelzijdig en hoogwaardig instrument dat is ontworpen om te voldoen aan de diverse behoeften van wetenschappelijk onderzoek en industriële R&D-toepassingen. Deze multifunctionele AFM is uitgerust met geavanceerde meetmodi, ...

AFM met hoge stabiliteit met MFM/EFM-modus voor wetenschappelijk onderzoek

Productbeschrijving:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsDit AFM-model combineert precisie, flexibiliteit en gebruiksgemak en ...

AtomExplorer AFM: geïntegreerde MFM, EFM en KFM voor materiaalanalyse

Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om uitzonderlijke prestaties en veelzijdigheid te leveren voor een breed scala aan oppervlakteanalyse-toepassingen. Deze AFM-microscoop is ontwikkeld met geavanceerde technologie en ...

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen

Product Introductie De AtomEdge Pro Multifunctionele Atomic Force Microscoop maakt 3D-scanning, beeldvorming en karakterisering van materialen, elektronische apparaten, biologische monsters en andere specimens op sub-nanometerschaal mogelijk en wordt veel gebruikt in gebieden als materiaalkunde, ...

Aanpasbaar AFM-systeem Wetenschappelijke industriële materialen Microscopen met een sterke schaalbaarheid

Aanpasbaar AFM-systeem met sterke schaalbaarheid voor uw onderzoek Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor zeer nauwkeurige beeldvorming en analyse in verschillende wetenschappelijke en industriële toepassingen. Met zijn geavanceerde ...

Contact-/tapmodus voor nanoschaalanalyse van subnanometermaterialen

Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerde Scanning Force Microscope die is ontworpen om uitzonderlijke beeldvorming en meetmogelijkheden op de nanoschaal te bieden. Dit AFM-model is ontworpen voor precisie en veelzijdigheid en ondersteunt een breed scala aan ...

« ‹ 1 2 3 4 5 › »