Aanpasbaar AFM-systeem Wetenschappelijke industriële materialen Microscopen met een sterke schaalbaarheid

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor zeer nauwkeurige beeldvorming en analyse in verschillende wetenschappelijke en industriële toepassingen. Met zijn geavanceerde technologie en superieure prestaties biedt dit instrument ongeëvenaarde mogelijkheden voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn op gebieden als nanotechnologie, materiaalkunde en onderzoek naar halfgeleiders.

Een van de belangrijkste kenmerken van de Atomic Force Microscope is het uitzonderlijke ruisniveau in de XY-richting, dat is beoordeeld op een indrukwekkende 0,4 Nm. Dit lage ruisniveau zorgt voor nauwkeurige en betrouwbare metingen, vooral bij het werken met gevoelige monsters of kleinschalige structuren. Of u nu onderzoek doet naar halfgeleiders of de eigenschappen van geavanceerde materialen onderzoekt, het precieze ruisniveau in de XY-richting van deze microscoop geeft u het vertrouwen en de nauwkeurigheid die u nodig heeft.

Naast de superieure ruisprestaties biedt de Atomic Force Microscope een royale scanafstand van 100 μm x 100 μm x 10 μm. Met dit brede scangebied kunt u gedetailleerde beelden en gegevens vastleggen van een verscheidenheid aan monstergroottes en -vormen, waardoor het een ideaal hulpmiddel is voor het bestuderen van een breed scala aan materialen en structuren. Of u nu nanostructuren analyseert of oppervlakteruwheidsmetingen uitvoert, het veelzijdige scangebied van deze microscoop zorgt ervoor dat u nauwkeurige en uitgebreide resultaten kunt behalen.

De Atomic Force Microscope is ook uitgerust met geavanceerde functies voor multi-mode meting, waardoor u met gemak een verscheidenheid aan beeldvormings- en analysetechnieken kunt uitvoeren. Of u nu topografische mapping, forcespectroscopie of andere gespecialiseerde metingen moet uitvoeren, deze microscoop biedt de flexibiliteit en prestaties die u nodig heeft om uw onderzoeksdoelen te bereiken. Met zijn meerdere modi en veelzijdige mogelijkheden is de Atomic Force Microscope een waardevol hulpmiddel voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn op diverse gebieden.

Als het gaat om de compatibiliteit van de monstergrootte, biedt de Atomic Force Microscope voldoende ruimte met een monstergrootte van 25 mm. Met deze royale monstergrootte kunt u werken met een breed scala aan monsters, van kleinschalige structuren tot grotere exemplaren, waardoor het een veelzijdig hulpmiddel is voor verschillende onderzoekstoepassingen. Of u nu biologische monsters, dunne films of halfgeleiderapparaten bestudeert, de ruime monstergrootte van deze microscoop biedt u de flexibiliteit en het gemak om aan uw onderzoeksbehoeften te voldoen.

Een ander belangrijk kenmerk van de Atomic Force Microscope is de uitstekende lineariteit, met non-lineariteitsclassificaties van 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting. Dit hoge niveau van lineariteit zorgt ervoor dat uw metingen nauwkeurig en betrouwbaar zijn, zelfs bij het werken met complexe of uitdagende monsters. Of u nu oppervlakteprofielen analyseert, materiaaleigenschappen meet of kracht-afstandscurven uitvoert, de uitzonderlijke lineariteit van deze microscoop garandeert precieze en consistente resultaten in een breed scala aan toepassingen.

Ten slotte heeft de Atomic Force Microscope een laag ruisniveau in de Z-richting, beoordeeld op slechts 0,04 Nm. Met dit minimale ruisniveau kunt u gedetailleerde beelden en gegevens vastleggen met een hoge resolutie en helderheid, met name bij het werken met monsters die precieze verticale metingen vereisen. Of u nu oppervlakteruwheid onderzoekt, de filmdikte bestudeert of dunne films analyseert, het lage ruisniveau in de Z-richting van deze microscoop zorgt ervoor dat u met vertrouwen nauwkeurige en betrouwbare resultaten kunt behalen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Ruisniveau in de XY-richting: 0,4 Nm
• Scanmethode: XYZ drievoudige as volledige monster scanning
• Non-lineariteit: 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting
• Scangebied: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Ruisniveau in de Z-richting: 0,04 Nm

Technische parameters:

Toepassingen:

De Atomic Force Microscope van Truth Instruments, model AtomEdge Pro, is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor zeer nauwkeurige beeldvorming en analyse op nanoschaal. Met zijn oorsprong in CHINA biedt deze geavanceerde AFM ongeëvenaarde mogelijkheden voor een breed scala aan toepassingen in verschillende industrieën.

Een van de belangrijkste kenmerken van de AtomEdge Pro is de uitzonderlijke scansnelheid, variërend van 0,1 tot 30 Hz. Hierdoor kunnen gebruikers gedetailleerde beelden vastleggen met atomaire resolutie, waardoor het ideaal is voor het uitvoeren van analyse op nanoschaal in onderzoekslaboratoria, academische instellingen en industriële R&D-afdelingen.

De non-lineariteit van de AtomEdge Pro is opmerkelijk laag, namelijk 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting. Dit zorgt voor precieze en nauwkeurige beeldvorming, cruciaal voor toepassingen die atomaire resolutie vereisen, zoals studies naar oppervlaktetopografie, materiaalkarakterisering en biologische beeldvorming.

Uitgerust met een scangebied van 100 μm x 100 μm x 10 μm en de XYZ drievoudige as volledige monster scanmethode, biedt de AtomEdge Pro veelzijdigheid in monsteranalyse. Of het nu gaat om het onderzoeken van nanostructuren, dunne films of biologische monsters, deze AFM biedt gedetailleerde inzichten in oppervlakte-eigenschappen met uitzonderlijke resolutie.

Verder is het ruisniveau in de Z-richting zo laag als 0,04 Nm, wat een hoge signaal-ruisverhouding en betrouwbare data-acquisitie garandeert. Dit maakt de AtomEdge Pro geschikt voor veeleisende toepassingen die precieze krachtmetingen en nauwkeurige topografische mapping op atomaire schaal vereisen.

Kortom, de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is een krachtig hulpmiddel voor onderzoekers, wetenschappers en ingenieurs die betrokken zijn bij nanotechnologie, materiaalkunde en biologisch onderzoek. De geavanceerde mogelijkheden, waaronder beeldvorming met atomaire resolutie en analyse op nanoschaal, maken het tot het instrument bij uitstek voor een breed scala aan toepassingen en scenario's waar hoge precisie en resolutie essentieel zijn.