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カスタマイズ可能なAFMシステム 科学産業材料顕微鏡 強力なスケーラビリティ

Customizable AFM System with Strong Scalability for Your Research Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-precision imaging and analysis in various scientific and industrial applications. With its advanced technology and superior performance, this instrument offers unparalleled capabilities for researchers and engineers working in fields such as nanotechnology, materials science, and semiconductor research. One of the key
製品詳細
ハイライト:

カスタマイズ可能なAFMシステム

,

科学材料顕微鏡

,

産業材料顕微鏡

Name: AFMシステム
Scanning Rate: 0.1〜30 Hz
Sample Size: 25 mm
Scanning Method: XYZ 3軸フルサンプルスキャン
Noise Level In The XY Direction: 0.4 nm
Nonlinearity: XY方向に0.02%、Z方向に0.08%
Scanning Range: 100μmx100μmx10μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm

基本的な特性

ブランド名: Truth Instruments
モデル番号: Atomedge Pro

取引物件

価格: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
支払条件: T/T
製品の説明

研究に最適な、高いスケーラビリティを備えたカスタマイズ可能なAFMシステム

製品説明:

原子間力顕微鏡は、さまざまな科学および産業用途における高精度なイメージングと分析のために設計された最先端のツールです。その高度な技術と優れた性能により、この機器は、ナノテクノロジー、材料科学、半導体研究などの分野で働く研究者やエンジニアに比類のない能力を提供します。

原子間力顕微鏡の重要な特徴の1つは、XY方向における優れたノイズレベルであり、0.4 Nmという驚異的な評価を受けています。この低いノイズレベルは、特に感度の高いサンプルや小規模構造を扱う場合に、正確で信頼性の高い測定を保証します。半導体の研究を行っている場合でも、高度な材料の特性を調査している場合でも、この顕微鏡の正確なXY方向のノイズレベルは、必要な自信と精度を提供します。

優れたノイズ性能に加えて、原子間力顕微鏡は、100 μm x 100 μm x 10 μmの広い走査範囲を提供します。この広い走査範囲により、さまざまなサンプルサイズと形状から詳細な画像とデータを取得できるため、幅広い材料と構造の研究に理想的なツールとなります。ナノ構造を分析する場合でも、表面粗さの測定を行う場合でも、この顕微鏡の汎用性の高い走査範囲により、正確で包括的な結果を確実に得ることができます。

原子間力顕微鏡は、マルチモード測定のための高度な機能も備えており、さまざまなイメージングおよび分析技術を容易に実行できます。トポグラフィーマッピング、フォース分光法、またはその他の特殊な測定を行う必要がある場合でも、この顕微鏡は、研究目標を達成するために必要な柔軟性と性能を提供します。複数のモードと多様な機能により、原子間力顕微鏡は、さまざまな分野で働く研究者やエンジニアにとって貴重なツールです。

サンプルサイズの互換性に関しては、原子間力顕微鏡は25 mmのサンプルサイズで十分なスペースを提供します。この十分なサンプルサイズにより、小規模構造から大きな標本まで、幅広いサンプルを扱うことができ、さまざまな研究用途に役立つ汎用性の高いツールとなります。生物学的サンプル、薄膜、または半導体デバイスを研究している場合でも、この顕微鏡の十分なサンプルサイズは、研究ニーズに対応するための柔軟性と利便性を提供します。

原子間力顕微鏡のもう1つの重要な属性は、優れた直線性性能であり、XY方向で0.02%、Z方向で0.08%の非線形性評価を受けています。この高い直線性レベルは、複雑または困難なサンプルを扱っている場合でも、測定が正確で信頼できることを保証します。表面プロファイルを分析する場合でも、材料特性を測定する場合でも、フォース距離曲線を実行する場合でも、この顕微鏡の優れた直線性により、幅広い用途で正確で一貫した結果が保証されます。

最後に、原子間力顕微鏡は、Z方向でわずか0.04 Nmという低いノイズレベルを誇っています。この最小限のノイズレベルにより、特に正確な垂直測定が必要なサンプルを扱う場合に、高解像度と鮮明さで詳細な画像とデータを取得できます。表面粗さを調査する場合でも、膜厚を研究する場合でも、薄膜を分析する場合でも、この顕微鏡の低いZ方向のノイズレベルにより、自信を持って正確で信頼性の高い結果を確実に得ることができます。

 

特徴:

  • 製品名:原子間力顕微鏡
  • XY方向のノイズレベル:0.4 Nm
  • 走査方法:XYZ三軸フルサンプル走査
  • 非線形性:XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
  • 走査範囲:100 μm X100 μm x 10 μm
  • Z方向のノイズレベル:0.04 Nm
 

技術的パラメータ:

走査速度 0.1~30 Hz
非線形性 XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
走査範囲 100 μm x 100 μm x 10 μm
XY方向のノイズレベル 0.4 Nm
Z方向のノイズレベル 0.04 Nm
サンプルサイズ 25 mm
走査方法 XYZ三軸フルサンプル走査
 

用途:

Truth Instrumentsの原子間力顕微鏡、モデルAtomEdge Proは、ナノスケールレベルでの高精度なイメージングと分析のために設計された最先端の機器です。中国発のこの高度なAFMは、さまざまな業界の幅広い用途に比類のない能力を提供します。

AtomEdge Proの重要な特徴の1つは、0.1~30 Hzの優れた走査速度です。これにより、ユーザーは原子分解能で詳細な画像をキャプチャできるため、研究室、学術機関、および産業界の研究開発部門でのナノスケール分析に最適です。

AtomEdge Proの非線形性は非常に低く、XY方向で0.02%、Z方向で0.08%です。これにより、表面トポグラフィーの研究、材料特性評価、および生物学的イメージングなど、原子分解能を必要とする用途に不可欠な、正確で正確なイメージングが保証されます。

100 μm x 100 μm x 10 μmの走査範囲とXYZ三軸フルサンプル走査方法を備えたAtomEdge Proは、サンプル分析における汎用性を提供します。ナノ構造、薄膜、または生物学的サンプルを検査する場合でも、このAFMは、優れた解像度で表面特性に関する詳細な洞察を提供します。

さらに、Z方向のノイズレベルは0.04 Nmと低く、高い信号対雑音比と信頼性の高いデータ取得が保証されます。これにより、AtomEdge Proは、原子スケールでの正確な力測定と正確なトポグラフィーマッピングを必要とする要求の厳しい用途に適しています。

結論として、Truth Instruments AtomEdge Pro原子間力顕微鏡は、ナノテクノロジー、材料科学、および生物学研究に関わる研究者、科学者、およびエンジニアにとって強力なツールです。原子分解能イメージングやナノスケール分析などの高度な機能により、高精度と解像度が不可欠な幅広い用途とシナリオに最適な機器となっています。

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