Sistema AFM personalizable para materiales científicos e industriales de microscopía con gran escalabilidad

Descripción del producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica es una herramienta de vanguardia diseñada para la obtención de imágenes y el análisis de alta precisión en diversas aplicaciones científicas e industriales. Con su tecnología avanzada y rendimiento superior, este instrumento ofrece capacidades sin precedentes para investigadores e ingenieros que trabajan en campos como la nanotecnología, la ciencia de materiales y la investigación de semiconductores.

Una de las características clave del Microscopio de Fuerza Atómica es su excepcional nivel de ruido en la dirección XY, que está clasificado en unos impresionantes 0,4 Nm. Este bajo nivel de ruido garantiza mediciones precisas y fiables, especialmente cuando se trabaja con muestras sensibles o estructuras a pequeña escala. Ya sea que esté realizando investigaciones sobre semiconductores o investigando las propiedades de materiales avanzados, el preciso nivel de ruido en la dirección XY de este microscopio le proporcionará la confianza y la precisión que necesita.

Además de su rendimiento superior en cuanto al ruido, el Microscopio de Fuerza Atómica ofrece un amplio rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm. Este amplio rango de escaneo le permite capturar imágenes y datos detallados de una variedad de tamaños y formas de muestras, lo que lo convierte en una herramienta ideal para estudiar una amplia gama de materiales y estructuras. Ya sea que esté analizando nanoestructuras o realizando mediciones de rugosidad superficial, el versátil rango de escaneo de este microscopio le asegura que puede obtener resultados precisos y completos.

El Microscopio de Fuerza Atómica también está equipado con funciones avanzadas para la medición multimodo, lo que le permite realizar una variedad de técnicas de obtención de imágenes y análisis con facilidad. Ya sea que necesite realizar mapeo de topografía, espectroscopía de fuerza u otras mediciones especializadas, este microscopio ofrece la flexibilidad y el rendimiento que necesita para cumplir con sus objetivos de investigación. Con sus múltiples modos y capacidades versátiles, el Microscopio de Fuerza Atómica es una valiosa herramienta para investigadores e ingenieros que trabajan en diversos campos.

Cuando se trata de la compatibilidad con el tamaño de la muestra, el Microscopio de Fuerza Atómica ofrece un amplio espacio con un tamaño de muestra de 25 mm. Este generoso tamaño de muestra le permite trabajar con una amplia gama de muestras, desde estructuras a pequeña escala hasta especímenes más grandes, lo que lo convierte en una herramienta versátil para diversas aplicaciones de investigación. Ya sea que esté estudiando muestras biológicas, películas delgadas o dispositivos semiconductores, el amplio tamaño de muestra de este microscopio le proporciona la flexibilidad y la conveniencia para adaptarse a sus necesidades de investigación.

Otro atributo importante del Microscopio de Fuerza Atómica es su excelente rendimiento de linealidad, con clasificaciones de no linealidad de 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z. Este alto nivel de linealidad asegura que sus mediciones sean precisas y fiables, incluso cuando se trabaja con muestras complejas o desafiantes. Ya sea que esté analizando perfiles de superficie, midiendo las propiedades de los materiales o realizando curvas de fuerza-distancia, la excepcional linealidad de este microscopio garantiza resultados precisos y consistentes en una amplia gama de aplicaciones.

Por último, el Microscopio de Fuerza Atómica cuenta con un bajo nivel de ruido en la dirección Z, clasificado en solo 0,04 Nm. Este mínimo nivel de ruido le permite capturar imágenes y datos detallados con alta resolución y claridad, particularmente cuando se trabaja con muestras que requieren mediciones verticales precisas. Ya sea que esté investigando la rugosidad de la superficie, estudiando el espesor de la película o analizando películas delgadas, el bajo nivel de ruido en la dirección Z de este microscopio le asegura que puede obtener resultados precisos y fiables con confianza.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• Nivel de ruido en la dirección XY: 0,4 Nm
• Método de escaneo: Escaneo completo de muestra de tres ejes XYZ
• No linealidad: 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z
• Rango de escaneo: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Nivel de ruido en la dirección Z: 0,04 Nm

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica de Truth Instruments, modelo AtomEdge Pro, es un instrumento de vanguardia diseñado para la obtención de imágenes y el análisis de alta precisión a nivel de nanoescala. Con su origen en CHINA, este AFM avanzado ofrece capacidades sin precedentes para una amplia gama de aplicaciones en diversas industrias.

Una de las características clave del AtomEdge Pro es su excepcional velocidad de escaneo, que oscila entre 0,1 y 30 Hz. Esto permite a los usuarios capturar imágenes detalladas con resolución atómica, lo que lo hace ideal para realizar análisis a nanoescala en laboratorios de investigación, instituciones académicas y departamentos de I+D industrial.

La no linealidad del AtomEdge Pro es notablemente baja, situándose en el 0,02% en la dirección XY y el 0,08% en la dirección Z. Esto asegura una obtención de imágenes precisa y exacta, crucial para aplicaciones que requieren resolución atómica, como estudios de topografía de superficies, caracterización de materiales e imágenes biológicas.

Equipado con un rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm y un método de escaneo completo de muestra de tres ejes XYZ, el AtomEdge Pro ofrece versatilidad en el análisis de muestras. Ya sea que se examinen nanoestructuras, películas delgadas o muestras biológicas, este AFM proporciona información detallada sobre las propiedades de la superficie con una resolución excepcional.

Además, el nivel de ruido en la dirección Z es tan bajo como 0,04 Nm, lo que garantiza una alta relación señal-ruido y una adquisición de datos fiable. Esto hace que el AtomEdge Pro sea adecuado para aplicaciones exigentes que requieren mediciones de fuerza precisas y mapeo topográfico preciso a escala atómica.

En conclusión, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es una herramienta poderosa para investigadores, científicos e ingenieros involucrados en nanotecnología, ciencia de materiales e investigación biológica. Sus capacidades avanzadas, que incluyen imágenes de resolución atómica y análisis a nanoescala, lo convierten en el instrumento de elección para una amplia gama de aplicaciones y escenarios donde la alta precisión y resolución son esenciales.