Настраиваемая АСМ система для научных и промышленных материалов, микроскопы с высокой масштабируемостью

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточной визуализации и анализа в различных научных и промышленных областях. Благодаря передовым технологиям и превосходным характеристикам, этот прибор предлагает непревзойденные возможности для исследователей и инженеров, работающих в таких областях, как нанотехнологии, материаловедение и исследования полупроводников.

Одной из ключевых особенностей атомно-силового микроскопа является его исключительный уровень шума в направлении XY, который составляет впечатляющие 0,4 нм. Этот низкий уровень шума обеспечивает точные и надежные измерения, особенно при работе с чувствительными образцами или мелкомасштабными структурами. Независимо от того, проводите ли вы исследования полупроводников или изучаете свойства передовых материалов, точный уровень шума в направлении XY этого микроскопа обеспечит вам уверенность и точность, которые вам необходимы.

В дополнение к превосходным характеристикам по шуму, атомно-силовой микроскоп предлагает щедрый диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм. Этот широкий диапазон сканирования позволяет получать детальные изображения и данные с образцов различных размеров и форм, что делает его идеальным инструментом для изучения широкого спектра материалов и структур. Независимо от того, анализируете ли вы наноструктуры или проводите измерения шероховатости поверхности, универсальный диапазон сканирования этого микроскопа гарантирует получение точных и всесторонних результатов.

Атомно-силовой микроскоп также оснащен передовыми функциями для многорежимных измерений, что позволяет с легкостью выполнять различные методы визуализации и анализа. Независимо от того, нужно ли вам проводить картографирование топографии, силовую спектроскопию или другие специализированные измерения, этот микроскоп предлагает гибкость и производительность, необходимые для достижения ваших исследовательских целей. Благодаря множеству режимов и универсальным возможностям, атомно-силовой микроскоп является ценным инструментом для исследователей и инженеров, работающих в различных областях.

Когда дело доходит до совместимости с размером образца, атомно-силовой микроскоп предлагает достаточно места с размером образца 25 мм. Этот щедрый размер образца позволяет работать с широким спектром образцов, от мелкомасштабных структур до более крупных образцов, что делает его универсальным инструментом для различных исследовательских применений. Независимо от того, изучаете ли вы биологические образцы, тонкие пленки или полупроводниковые приборы, достаточный размер образца этого микроскопа обеспечивает гибкость и удобство для удовлетворения ваших исследовательских потребностей.

Еще одним важным атрибутом атомно-силового микроскопа является его отличная линейность, с показателями нелинейности 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z. Этот высокий уровень линейности гарантирует, что ваши измерения будут точными и надежными, даже при работе со сложными или проблемными образцами. Независимо от того, анализируете ли вы профили поверхности, измеряете свойства материала или проводите кривые сила-расстояние, исключительная линейность этого микроскопа гарантирует точные и последовательные результаты в широком спектре применений.

Наконец, атомно-силовой микроскоп может похвастаться низким уровнем шума в направлении Z, составляющим всего 0,04 нм. Этот минимальный уровень шума позволяет получать детальные изображения и данные с высоким разрешением и четкостью, особенно при работе с образцами, требующими точных вертикальных измерений. Независимо от того, исследуете ли вы шероховатость поверхности, изучаете толщину пленки или анализируете тонкие пленки, низкий уровень шума в направлении Z этого микроскопа гарантирует, что вы сможете добиться точных и надежных результатов с уверенностью.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Уровень шума в направлении XY: 0,4 нм
• Метод сканирования: XYZ трехкоординатное сканирование всего образца
• Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
• Диапазон сканирования: 100 мкм X100 мкм x 10 мкм
• Уровень шума в направлении Z: 0,04 нм

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments, модель AtomEdge Pro, - это передовой прибор, предназначенный для высокоточной визуализации и анализа на наноуровне. Этот передовой АСМ, разработанный в Китае, предлагает непревзойденные возможности для широкого спектра применений в различных отраслях.

Одной из ключевых особенностей AtomEdge Pro является исключительная скорость сканирования, варьирующаяся от 0,1 до 30 Гц. Это позволяет пользователям получать детальные изображения с атомным разрешением, что делает его идеальным для проведения наномасштабного анализа в исследовательских лабораториях, академических учреждениях и отделах исследований и разработок промышленных предприятий.

Нелинейность AtomEdge Pro чрезвычайно низка и составляет 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z. Это обеспечивает точную и аккуратную визуализацию, что имеет решающее значение для применений, требующих атомного разрешения, таких как исследования топографии поверхности, характеристика материалов и биологическая визуализация.

Оснащенный диапазоном сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм и методом трехкоординатного сканирования всего образца XYZ, AtomEdge Pro предлагает универсальность в анализе образцов. Будь то изучение наноструктур, тонких пленок или биологических образцов, этот АСМ предоставляет подробную информацию о свойствах поверхности с исключительным разрешением.

Кроме того, уровень шума в направлении Z составляет всего 0,04 нм, что гарантирует высокое отношение сигнал/шум и надежный сбор данных. Это делает AtomEdge Pro подходящим для требовательных применений, требующих точных измерений силы и точного картографирования топографии в атомном масштабе.

В заключение, атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro - это мощный инструмент для исследователей, ученых и инженеров, занимающихся нанотехнологиями, материаловедением и биологическими исследованиями. Его передовые возможности, включая визуализацию с атомным разрешением и наномасштабный анализ, делают его инструментом выбора для широкого спектра применений и сценариев, где важны высокая точность и разрешение.