logo

Атомный силовый микроскоп

Качество Многофункциональный микроскоп атомной силы Фабрика

Многофункциональный микроскоп атомной силы

Многофункциональный микроскоп атомной силы Модель продукта: AtomEdge Pro Описание продукта: Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как кон...

Качество Микроскоп атомной силы на уровне пластины Фабрика

Микроскоп атомной силы на уровне пластины

Микроскоп атомной силы на уровне пластины Модель продукта: Atommax Обзор продукта: Используя микро-кантилеверные структуры зондов, этот инструмент позволяет проводить трехмерную морфологическую характеристику проводящих, полупроводящих и изолирующих твердых материалов.достижение морфологической хара...

Качество Атомно-силовой микроскоп базового типа Фабрика

Атомно-силовой микроскоп базового типа

Название продукта Атомно-силовой микроскоп базового типа - AtomExplorer Введение в продукт Атомно-силовой микроскоп базового типа AtomExplorer обеспечивает разрешение субнанометрового уровня для наблюдения за топографией и текстурой поверхности материала. Он захватывает тонкие структуры и мельчайшие ...

Качество Многофункциональный атомно-силовой микроскоп для материалов с низким уровнем шума, с режимами MFM, EFM, PFM Фабрика

Многофункциональный атомно-силовой микроскоп для материалов с низким уровнем шума, с режимами MFM, EFM, PFM

Многофункциональный атомно-силовой микроскоп с режимами MFM, EFM, PFM Описание продукта: Одной из ключевых особенностей АСМ являются низкие уровни шума как в направлении Z, так и в направлении XY, что обеспечивает точные и надежные измерения. Уровень шума в направлении Z составляет впечатляющие 0,04 ...

Качество Микроскоп высокой сканирующей силы 0,15 Нм Микроскоп высокого разрешения для волокна Фабрика

Микроскоп высокой сканирующей силы 0,15 Нм Микроскоп высокого разрешения для волокна

Микроскоп с высокой сканирующей силой для волокна Описание продукта: Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, используемый для получения изображений с высоким разрешением и анализа поверхности в различных областях, таких как нанотехнология, наука о материалах и биология.С его передов...

Качество Все в одном Микроскоп атомной силы Многофункциональные биологические микроскопы для гибкой и точной работы Фабрика

Все в одном Микроскоп атомной силы Многофункциональные биологические микроскопы для гибкой и точной работы

Атомно-силовой микроскоп «Все в одном» для гибкой и точной работы Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — это передовой инструмент, предназначенный для наноразмерных электрических измерений и анализа. Этот усовершенствованный прибор предлагает непревзойденные возможности сканирования и в...

Качество 0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы Фабрика

0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы

Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлага...

Качество Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм Фабрика

Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм

Высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм Описание продукта: Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, который предлагает исключительные возможности для анализа поверхности с нанометровым разрешением.данный продукт AFM обеспечивает точную визуализацию и измерение ...

Качество Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе Фабрика

Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе

Микроскоп атомной силы высокого разрешения для анализа на наномасштабе Описание продукта: Микроскоп атомной силы (AFM) - универсальный инструмент для анализа поверхности, обычно используемый в различных научных и промышленных приложениях.Это передовое устройство предлагает исключительные возможности ...

1 2 3 4 5 »