Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, который предлагает исключительные возможности для анализа поверхности с нанометровым разрешением.данный продукт AFM обеспечивает точную визуализацию и измерение образцов размером до 200 мм.

Одной из ключевых особенностей этого AFM является его универсальность в типах зондов.позволяет применять индивидуальные подходы к различным типам образцов и потребностям в визуализации.

Когда дело доходит до режимов визуализации, микроскоп атомной силы превосходит в предоставлении множества вариантов для различных применений.Доступные режимы съемки включают контактный режим для топографической съемки высокого разрешения, режим прослушивания для нежной визуализации деликатных образцов, режим без контакта для неинвазивного анализа поверхности, режим боковой силы для картографирования трения,Режим модуляции силы для отображения механических свойств, и режим фазовой визуализации для улучшения контрастной визуализации.

Благодаря замечательному разрешению 0,15 нм, этот продукт AFM обеспечивает детальное и точное изображение образцов на наноуровне.Исследователи и ученые могут рассчитывать на этот точный прибор для изучения свойств поверхности, характеризовать материалы и изучать наноструктуры с высокой ясностью и разрешением.

Подводя итог, можно сказать, что микроскоп атомной силы обладает непревзойденными возможностями в области анализа поверхности с нанометровым разрешением.универсальные режимы изображения, и исключительное разрешение делают его ценным инструментом для научных исследований, анализа материалов и применения нанотехнологий.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Размер образца: до 200 мм
• Диапазон сканирования: 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм
• Режимы съемки:
  • Контакт
  • Прослушивание
  • Без контакта
  • Боковая сила
  • Модуляция силы
  • Фазовое изображение
• Тип зонды:
  • Кремний
  • Диамант
  • Золото
  • Платина
  • Нанотрубка углерода
• Угол сканирования: 0-360°

Технические параметры:

Применение:

Truth Instruments представляет AtomMax Atomic Force Microscope, передовой инструмент, разработанный и изготовленный в КНР.Этот современный сканирующий микроскоп предлагает широкий спектр применений в различных областях благодаря своим исключительным характеристикам и возможностям.

Случаи и сценарии применения продукта:

1Нанотехнологические исследования:AtomMax идеально подходит для исследований в области нанотехнологий в академических учреждениях и исследовательских лабораториях.и углеродные нанотрубки для изучения материалов на наноуровне.

2Материальные науки:Режимы визуализации с высоким разрешением, такие как контакт, нажатие, бесконтактный контакт, боковая сила, модуляция силы и фазовая визуализация, делают AtomMax подходящим для применения в области материаловедения.Он может анализировать свойства поверхности., дефекты и конструкции различных материалов.

3Промышленность полупроводников:В полупроводниковой промышленности AtomMax играет решающую роль в анализе полупроводниковых материалов и устройств.Его диапазон сканирования 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм и угол сканирования 0-360° позволяют точно измерять и изображать полупроводниковые компоненты.

4Биологические исследования:Исследователи в области биологии могут воспользоваться AtomMax для изучения биологических образцов в наноразмере.15 Нм позволяет детально изобразить биологические структуры и взаимодействия.

5Анализ поверхности:В академических исследованиях или промышленном применении AtomMax может использоваться для анализа поверхности различных материалов.сцепление, и механические свойства.

В целом, микроскоп атомной силы Truth Instruments AtomMax является универсальным и высокопроизводительным инструментом, подходящим для широкого спектра применений.Его передовые функции и возможности делают его незаменимым инструментом для исследователей и специалистов, работающих в таких областях, как нанотехнологии, материаловедение, полупроводники и биологические исследования.