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Microscope de force atomique biologique Microscope de sonde de balayage de haute précision Résolution 0,15 Nm

High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 Nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides precise imaging and measurement of samples with dimensions up to 200 mm. One of the key features of this AFM is its versatility in probe types. Users can choose from a variety of
Détails de produit
Mettre en évidence:

Microscope de force atomique biologique

,

Microscope à sonde à balayage de haute précision

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Microscope à sonde de balayage 0

Name: Microscope à force atomique
Resolution: 0,15 nm
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Imaging Modes: Contact, tapotement, sans contact, force latérale, modulation de la force, imagerie de phase
Sample Size: Jusqu'à 200 mm
Probe Type: Silicium, diamant, or, platine, nanotube de carbone
Scanning Angle: 0-360 °

Propriétés de base

Nom de marque: Truth Instruments
Numéro de modèle: Atommax

Propriétés commerciales

Prix: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Conditions de paiement: T / t
Description de produit

Microscope à sonde de balayage de haute précision Résolution 0,15 Nm

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités exceptionnelles pour l'analyse de surface à résolution nanométrique.ce produit AFM permet d'obtenir des images et des mesures précises d'échantillons de dimensions allant jusqu'à 200 mm.

L'une des principales caractéristiques de cet AFM est sa polyvalence dans les types de sonde.permettant des approches adaptées aux différents types d'échantillons et aux besoins d'imagerie.

En ce qui concerne les modes d'imagerie, le microscope à force atomique excelle en offrant de multiples options pour répondre à diverses applications.Les modes d'imagerie disponibles comprennent le mode contact pour l'imagerie topographique haute résolution, mode de tapotement pour une imagerie douce d'échantillons délicats, mode sans contact pour une analyse de surface non invasive, mode de force latérale pour la cartographie par friction,Mode de modulation de la force pour la cartographie des propriétés mécaniques, et mode d'imagerie de phase pour une imagerie de contraste améliorée.

Avec une résolution remarquable de 0,15 nm, ce produit AFM assure une imagerie détaillée et précise des échantillons au niveau nanométrique.Les chercheurs et les scientifiques peuvent compter sur cet instrument de précision pour étudier les propriétés de la surface, caractériser les matériaux et étudier les nanostructures avec une grande clarté et résolution.

En résumé, le microscope de la force atomique offre des capacités inégalées dans l'analyse de surface à résolution nanométrique.modes d'imagerie polyvalents, et sa résolution exceptionnelle en font un outil précieux pour la recherche scientifique, l'analyse des matériaux et les applications de la nanotechnologie.

Caractéristiques:

  • Nom du produit: Microscope de force atomique
  • Taille de l'échantillon: jusqu'à 200 mm
  • Plage de balayage: 100 μm x 100 μm x 10 μm
  • Mode d' imagerie:
    • Contacts
    • Le tapotement
    • Non-contact
    • Force latérale
    • Modulation de la force
    • Imagerie de phase
  • Type de sonde:
    • D'autres produits
    • Diamant
    • D'or
    • Platine
    • Nanotubes de carbone
  • Angle de balayage: 0 à 360°

Paramètres techniques:

Les modes d'imagerie Contact, tapotement, non-contact, force latérale, modulation de force, imagerie de phase
Angle de balayage 0 à 360°
Taille de l'échantillon Jusqu'à 200 mm
Portée de balayage 100 μm x 100 μm x 10 μm
Résolution 0.15 nm
Type de sonde Le silicium, le diamant, l'or, le platine, les nanotubes de carbone

Applications:

Truth Instruments présente le microscope AtomMax, un instrument de pointe conçu et fabriqué en Chine.Ce microscope à sonde de balayage avancée offre un large éventail d'applications dans divers domaines en raison de ses caractéristiques et capacités exceptionnelles.

Occasions et scénarios d'application du produit:

1La recherche dans le domaine des nanotechnologies:L'AtomMax est idéal pour la recherche en nanotechnologie dans les institutions académiques et les laboratoires de recherche.et le nanotubes de carbone pour étudier les matériaux au niveau nanométrique.

2La science des matériaux:Les modes d'imagerie haute résolution tels que Contact, Tapping, Non-Contact, Force Latérale, Force Modulation et Phase Imaging rendent l'AtomMax adapté aux applications en sciences des matériaux.Il peut analyser les propriétés de surface, les défauts et les structures de divers matériaux.

3Industrie des semi-conducteurs:Dans l'industrie des semi-conducteurs, l'AtomMax joue un rôle crucial dans l'analyse des matériaux et des dispositifs semi-conducteurs.Sa plage de balayage de 100 μm X 100 μm X 10 μm et son angle de balayage de 0-360° permettent des mesures précises et l'imagerie des composants de semi-conducteurs.

4- La recherche biologique:Les chercheurs dans le domaine de la biologie peuvent bénéficier de l'AtomMax pour étudier des échantillons biologiques à l'échelle nanométrique.15 Nm permet une imagerie détaillée des structures et des interactions biologiques.

5Analyse de surface:Qu'il s'agisse de recherches universitaires ou d'applications industrielles, l'AtomMax peut être utilisé pour l'analyse de surface de divers matériaux.adhérence, et les propriétés mécaniques.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique AtomMax de Truth Instruments est un instrument polyvalent et performant adapté à un large éventail d'applications.Ses caractéristiques et capacités avancées en font un outil indispensable pour les chercheurs et les professionnels travaillant dans des domaines tels que la nanotechnologie, les sciences des matériaux, les semi-conducteurs et la recherche biologique.

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