Microscopio a forza atomica biologico con risoluzione di 0,15 nm, microscopio a sonda a scansione di alta precisione

Descrizione del prodotto:

Il microscopio a forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità eccezionali per l'analisi della superficie con risoluzione nanometrica. Con un intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm, questo prodotto AFM fornisce immagini e misurazioni precise di campioni con dimensioni fino a 200 mm.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM è la sua versatilità nei tipi di sonda. Gli utenti possono scegliere tra una varietà di materiali per sonde, tra cui silicio, diamante, oro, platino e sonde a nanotubi di carbonio, consentendo approcci su misura per diversi tipi di campioni ed esigenze di imaging.

Per quanto riguarda le modalità di imaging, il microscopio a forza atomica eccelle nell'offrire molteplici opzioni per soddisfare diverse applicazioni. Le modalità di imaging disponibili includono la modalità a contatto per l'imaging topografico ad alta risoluzione, la modalità a vibrazione per l'imaging delicato di campioni delicati, la modalità senza contatto per l'analisi della superficie non invasiva, la modalità forza laterale per la mappatura dell'attrito, la modalità modulazione di forza per la mappatura delle proprietà meccaniche e la modalità di imaging di fase per l'imaging a contrasto migliorato.

Con una notevole risoluzione di 0,15 nm, questo prodotto AFM garantisce immagini dettagliate e accurate dei campioni a livello nanoscopico. Ricercatori e scienziati possono fare affidamento su questo strumento di precisione per indagare le proprietà della superficie, caratterizzare i materiali e studiare le nanostrutture con elevata chiarezza e risoluzione.

In sintesi, il microscopio a forza atomica offre capacità senza pari nell'analisi della superficie con risoluzione nanometrica. Il suo ampio intervallo di scansione, la compatibilità con vari tipi di sonda, le versatili modalità di imaging e l'eccezionale risoluzione lo rendono uno strumento prezioso per la ricerca scientifica, l'analisi dei materiali e le applicazioni nanotecnologiche.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a forza atomica
• Dimensione del campione: fino a 200 mm
• Intervallo di scansione: 100 μm x 100 μm x 10 μm
• Modalità di imaging:
  • Contatto
  • Vibrazione
  • Senza contatto
  • Forza laterale
  • Modulazione di forza
  • Imaging di fase
• Tipo di sonda:
  • Silicio
  • Diamante
  • Oro
  • Platino
  • Nanotubo di carbonio
• Angolo di scansione: 0-360°

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Truth Instruments presenta il microscopio a forza atomica AtomMax, uno strumento all'avanguardia progettato e prodotto in CINA. Questo microscopio a sonda a scansione avanzato offre una vasta gamma di applicazioni in vari campi grazie alle sue eccezionali caratteristiche e capacità.

Occasioni e scenari di applicazione del prodotto:

1. Ricerca in nanotecnologia: L'AtomMax è ideale per la ricerca in nanotecnologia in istituzioni accademiche e laboratori di ricerca. I ricercatori possono utilizzare i diversi tipi di sonda, tra cui silicio, diamante, oro, platino e nanotubi di carbonio, per studiare i materiali a livello nanoscopico.

2. Scienza dei materiali: Le modalità di imaging ad alta risoluzione come Contatto, Vibrazione, Senza contatto, Forza laterale, Modulazione di forza e Imaging di fase rendono l'AtomMax adatto alle applicazioni nella scienza dei materiali. Può analizzare le proprietà della superficie, i difetti e le strutture di vari materiali.

3. Industria dei semiconduttori: Nell'industria dei semiconduttori, l'AtomMax svolge un ruolo cruciale nell'analisi dei materiali e dei dispositivi a semiconduttore. Il suo intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm e l'angolo di scansione di 0-360° consentono misurazioni e imaging precisi dei componenti a semiconduttore.

4. Ricerca biologica: I ricercatori nel campo della biologia possono beneficiare dell'AtomMax per lo studio di campioni biologici a livello nanoscopico. L'alta risoluzione di 0,15 Nm consente l'imaging dettagliato di strutture e interazioni biologiche.

5. Analisi della superficie: Sia nella ricerca accademica che nelle applicazioni industriali, l'AtomMax può essere utilizzato per l'analisi della superficie di vari materiali. Le sue versatili modalità di imaging forniscono informazioni su rugosità superficiale, adesione e proprietà meccaniche.

Nel complesso, il microscopio a forza atomica AtomMax di Truth Instruments è uno strumento versatile e ad alte prestazioni adatto a una vasta gamma di applicazioni. Le sue caratteristiche e capacità avanzate lo rendono uno strumento indispensabile per ricercatori e professionisti che lavorano in settori come nanotecnologia, scienza dei materiali, semiconduttori e ricerca biologica.