Mikroskop atom biologis mikroskop pemindaian presisi tinggi mikroskop 0,15 nm resolusi

Deskripsi produk:

Atomic Force Microscope (AFM) adalah instrumen mutakhir yang menawarkan kemampuan luar biasa untuk analisis permukaan resolusi nanometer.produk AFM ini menyediakan pencitraan dan pengukuran sampel yang tepat dengan dimensi hingga 200 mm.

Salah satu fitur utama AFM ini adalah fleksibilitasnya dalam jenis probe. Pengguna dapat memilih dari berbagai bahan probe termasuk Silicon, Diamond, Gold, Platinum, dan Carbon Nanotube probe,memungkinkan pendekatan yang disesuaikan dengan berbagai jenis sampel dan kebutuhan pencitraan.

Ketika datang ke mode pencitraan, Mikroskop Angkatan Atom unggul dalam menyediakan berbagai pilihan untuk memenuhi berbagai aplikasi.Mode pencitraan yang tersedia termasuk mode kontak untuk pencitraan topografi resolusi tinggi, Tapping mode untuk pencitraan halus dari sampel halus, Non-kontak mode untuk analisis permukaan non-invasif, Lateral Force mode untuk pemetaan gesekan,Modulasi gaya untuk pemetaan sifat mekanik, dan mode Imaging Fase untuk pencitraan kontras yang ditingkatkan.

Dengan resolusi 0,15 nm yang luar biasa, produk AFM ini memastikan pencitraan sampel yang terperinci dan akurat pada tingkat nanoskala.Para peneliti dan ilmuwan dapat mengandalkan instrumen presisi ini untuk menyelidiki sifat permukaan, mengkarakterisasi bahan, dan mempelajari nanostruktur dengan kejelasan dan resolusi tinggi.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom menawarkan kemampuan yang tak tertandingi dalam analisis permukaan resolusi nanometer.modus pencitraan serbaguna, dan resolusi yang luar biasa membuatnya menjadi alat yang berharga untuk penelitian ilmiah, analisis bahan, dan aplikasi nanoteknologi.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Ukuran sampel: Hingga 200 mm
• Jangkauan pemindaian: 100 μm x 100 μm x 10 μm
• Mode pencitraan:
  • Kontak
  • Mengetuk
  • Tanpa kontak
  • Kekuatan lateral
  • Modulasi gaya
  • Pencitraan Fase
• Jenis probe:
  • Silikon
  • Berlian
  • Emas
  • Platinum
  • Karbon Nanotube
• Sudut pemindaian: 0-360°

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments menyajikan AtomMax Atomic Force Microscope, sebuah instrumen mutakhir yang dirancang dan diproduksi di CHINA.Mikroskop probe pemindaian canggih ini menawarkan berbagai aplikasi di berbagai bidang karena fitur dan kemampuan yang luar biasa.

Kesempatan dan Skenario Aplikasi Produk:

1Penelitian Nanoteknologi:AtomMax sangat ideal untuk penelitian nanoteknologi di lembaga akademik dan laboratorium penelitian.dan Carbon Nanotube untuk mempelajari bahan pada tingkat nanoscale.

2Ilmu Materi:Mode pencitraan resolusi tinggi seperti Kontak, Mengetuk, Tanpa Kontak, Kekuatan Lateral, Modulasi Kekuatan, dan Pencitraan Fase membuat AtomMax cocok untuk aplikasi ilmu material.Ini bisa menganalisis sifat permukaan, cacat, dan struktur dari berbagai bahan.

3Industri Semikonduktor:Dalam industri semikonduktor, AtomMax memainkan peran penting dalam menganalisis bahan dan perangkat semikonduktor.Jangkauan pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm dan Sudut pemindaian 0-360 ° memungkinkan pengukuran dan pencitraan komponen semikonduktor yang tepat.

4Penelitian Biologi:Peneliti di bidang biologi dapat memanfaatkan AtomMax untuk mempelajari sampel biologis pada skala nanometer.15 Nm memungkinkan pencitraan rinci dari struktur biologis dan interaksi.

5Analisis permukaan:Baik dalam penelitian akademik atau aplikasi industri, AtomMax dapat digunakan untuk analisis permukaan berbagai bahan.adhesi, dan sifat mekanik.

Secara keseluruhan, Truth Instruments AtomMax Atomic Force Microscope adalah instrumen serbaguna dan berkinerja tinggi yang cocok untuk berbagai aplikasi.Fitur dan kemampuannya yang canggih membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan profesional yang bekerja di bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, semikonduktor, dan penelitian biologi.