Sitemap
Produk
Mikroskop Kerr
- Mikroskop Kerr 250 Nm Resolusi Tinggi Mikroskop Efek Kerr Optik Magneto
- Mikroskop Kerr Lanjutan Mikroskop Resolusi Tinggi Untuk Mikromagnetik Dan Pencitraan Domain
- Pelacak Loop Histeresis Skala Wafer Untuk Metrologi Magnetik Non-Kontak
- Mikroskop Kerr Medan Magnetik Tinggi Sistem MOKE Sensitivitas Tinggi Untuk Studi Magnetisme Lemah Dan Material 2D
Magnetometer Sampel Bergetar
- Tinggi Akurasi Getaran Sampel Magnetometer Low Noise VSM Sistem Untuk Pilihan Medan Tinggi
- Sistem VSM Kunci Kunci Kecepatan Tinggi Vibrating Magnetometer Untuk Pengukuran Magnetik Yang Cepat Dan Dapat Diandalkan
- Serbaguna Dan Sensitif Sampel Getaran Magnetometer Low Noise Sistem Pengukuran Properti Magnetik
- Kontrol Presisi Magnetometer Bergetar 77 K - Rentang Suhu 950 K VSM Untuk Bubuk Film
Magneto Optical Cryostat
- 1.7 K - 350 K Magnet Optical Cryostat Superconducting MO Cryostat
- High Field Optical Cryostat 1.7 K - 350 K Rentang Suhu MO Cryo Dengan Akses Optik Multi-Directional
- Kriostat Optik Magnet Cepat Pendingin 1 Jendela Atas MO Cryostat Untuk Penelitian Material Lanjutan
- 1 Kriosat Magneto Optik Jendela Atas Cryostat Magnet Superkonduktor Cryostat Dengan Akses Optik Getaran Rendah
Stasiun Probe Cryogenic
- Stasiun Probe Krio Medan Vertikal Bebas Kriogen Stasiun Probe Suhu Rendah
- Stasiun Probe Cryogenic Presisi Tinggi Stasiun Probe Cryo Untuk Spintronics Bahan 2D Dan Superkonduktor
- Stasiun Probe Otomatis 4 Lengan Stasiun Probe Magnetik Presisi Dengan Magnet Superkonduktor 3T
- Stasiun Probe Kriogenik Serbaguna Stasiun Probe Magnetik Superkonduktif Untuk Pengujian Hall Dan SOT
Tester MRAM
- Penguji Chip Magnetik Tri Temp Presisi Penguji Akhir Untuk Verifikasi Keandalan Tinggi
- Sistem Uji Akhir Otomatis Penguji MRAM Presisi Untuk Lini Produksi Chip Magnetik
- Tri Temp Magnetic Chip Tester Versatile Final Tester Untuk Verifikasi Keandalan Tinggi
- Mesin Pengujian Akhir Chip Magnetik Untuk Produksi Dan Uji Akhir Batch
Stasiun Probe Magnetik
- Stasiun Sonde Medan Magnetik 0,05 MT Stasiun Sonde Untuk Pengujian Suhu Variabel
- Manual Lab Stasiun Probe Wafer Medan Magnet Dengan Rotasi 360
- 50 MT Stasiun Probe Magnetik RH Pengujian Wafer Stasiun Probe Untuk Pengukuran Film Magnetik
- Stasiun Probe RF Presisi Tinggi 50 MT Manual Wafer Prober Untuk Magnetoresistance