Mikroskop gaya atom

Mikroskop Gaya Atom Multifungsi

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Model produk: AtomEdge Pro Deskripsi produk: Mikroskop kekuatan atom multi-fungsi AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll.Ini memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non...

Mikroskop Gaya Atom Tingkat Wafer

Mikroskop Kekuatan Atom Tingkat Wafer Model produk: Atommax Gambaran Produk: Menggunakan struktur probe micro-cantilever, instrumen ini memungkinkan karakterisasi morfologi 3D dari bahan padat konduktif, semikonduktif, dan isolasi,mencapai karakteristik morfologi sampel besar pada tingkat waferDikom...

Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar

Nama produk Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar - AtomExplorer Pengantar Produk AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope memberikan resolusi sub-nanometer untuk mengamati topografi dan tekstur permukaan material.Ini menangkap struktur halus dan fitur kecil pada permukaan material di skala dari ...

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Mikroskop Bahan Berisik Rendah Dengan Mode MFM EFM PFM

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Dengan Mode MFM EFM PFM Deskripsi produk: Salah satu fitur utama dari AFM adalah tingkat kebisingan yang rendah baik dalam arah Z dan arah XY, memastikan pengukuran yang akurat dan dapat diandalkan..04 nm, memberikan sensitivitas yang luar biasa untuk menangkap ...

Mikroskop kekuatan pemindaian tinggi 0,15 nm Mikroskop resolusi tinggi untuk wafe

Mikroskop Gaya Pindai Tinggi Untuk Wafe Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang digunakan untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis permukaan di berbagai bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, dan biologi. Dengan kemampuan canggih dan pengukuran yang ...

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom Mikroskop Biologi Multifungsi Untuk Operasi yang Fleksibel dan Tepat

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom Untuk Operasi Fleksibel yang Tepat Deskripsi produk: Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah alat mutakhir yang dirancang untuk pengukuran dan analisis listrik skala nano.Instrumen canggih ini menawarkan kemampuan tak tertandingi dalam pemindaian dan pencitraan ...

0.15 nm Mikroskop Resolusi Tinggi Mikroskop Atom Disesuaikan

Mikroskop Gaya Atom Lanjutan Untuk Pencitraan Resolusi Tinggi Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom adalah alat canggih yang dirancang untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis skala nano. Dengan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM ini menawarkan kemampuan pencitraan resolusi atom ...

Mikroskop atom biologis mikroskop pemindaian presisi tinggi mikroskop 0,15 nm resolusi

Mikroskop Probe Pemindaian Presisi Tinggi Resolusi 0,15 nm Deskripsi produk: Atomic Force Microscope (AFM) adalah instrumen mutakhir yang menawarkan kemampuan luar biasa untuk analisis permukaan resolusi nanometer.produk AFM ini menyediakan pencitraan dan pengukuran sampel yang tepat dengan dimensi ...

Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi 0.04 nm Mikroskop Industri Untuk Analisis Skala Nano

Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi Untuk Analisis Skala Nano Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umum digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Perangkat canggih ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa dan ...

1 2 3 4 5 › »