Mikroskop kekuatan pemindaian tinggi 0,15 Nm Mikroskop resolusi tinggi untuk wafe

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang digunakan untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis permukaan di berbagai bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, dan biologi. Dengan kemampuan canggih dan pengukuran yang presisi, AFM adalah alat penting bagi peneliti dan ilmuwan yang mencari wawasan mendalam tentang sifat permukaan pada tingkat skala nano.

Salah satu fitur utama AFM adalah mode pencitraan serbagunanya, termasuk Topografi, Fase, Gesekan, dan pencitraan Gaya Lateral. Mode-mode ini memungkinkan pengguna untuk menangkap informasi detail tentang permukaan sampel, seperti variasi ketinggian, kontras material, sifat gesekan, dan gaya lateral. Dengan memanfaatkan mode pencitraan ini, peneliti dapat memperoleh pemahaman komprehensif tentang karakteristik dan perilaku permukaan sampel.

AFM menawarkan resolusi mengesankan sebesar 0,15 nm, memungkinkan pengguna untuk memvisualisasikan fitur permukaan dengan kejelasan dan presisi yang luar biasa. Resolusi tinggi ini sangat penting untuk melakukan analisis permukaan yang detail dan mendapatkan pengukuran yang akurat untuk berbagai aplikasi. Baik melakukan pengukuran kekasaran atau mempelajari topografi permukaan, AFM memberikan resolusi tak tertandingi untuk pencitraan dan analisis yang presisi.

Selain kemampuan pencitraannya, AFM memberikan resolusi gaya yang luar biasa sebesar 0,15 nN, memungkinkan peneliti untuk menyelidiki sifat mekanik sampel dengan sensitivitas yang luar biasa. Resolusi gaya yang presisi dari AFM memungkinkan pengguna untuk melakukan eksperimen nanoindentasi, mengukur gaya adhesi, dan menjelajahi sifat elastis material pada tingkat skala nano. Dengan resolusi gaya yang tinggi, AFM menawarkan wawasan berharga tentang perilaku mekanik sampel.

Dalam hal ukuran sampel, AFM mengakomodasi berbagai spesimen, mendukung ukuran hingga 200 mm x 5200 mm. Kapasitas ukuran sampel yang besar ini memungkinkan pengguna untuk menganalisis berbagai jenis sampel, dari nanostruktur kecil hingga permukaan yang lebih besar, memberikan fleksibilitas dan keserbagunaan untuk berbagai proyek penelitian. Baik memeriksa nanopartikel individu atau permukaan skala besar, AFM menawarkan kemampuan untuk menyelidiki sampel dengan ukuran berbeda dengan mudah.

AFM menawarkan beberapa mode pemindaian, termasuk mode Kontak, Tapping, dan Non-kontak, memberikan fleksibilitas kepada pengguna dalam pendekatan pencitraan mereka. Mode kontak memungkinkan interaksi langsung antara probe AFM dan permukaan sampel, menawarkan resolusi tinggi dan pencitraan topografi yang presisi. Mode Tapping mengurangi interaksi ujung-sampel, meminimalkan kerusakan sampel dan memperpanjang umur probe, ideal untuk sampel yang halus. Mode non-kontak menggunakan interaksi ujung-sampel intermiten, cocok untuk mempelajari sampel lunak dan biomolekul tanpa kontak fisik. Dengan mode pemindaian ini, peneliti dapat memilih pendekatan yang paling sesuai untuk persyaratan pencitraan spesifik mereka.

Sebagai kesimpulan, Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat yang ampuh untuk analisis permukaan, pengukuran kekasaran, dan pencitraan resolusi tinggi pada tingkat skala nano. Dengan mode pencitraan canggihnya, resolusi luar biasa, sensitivitas gaya yang presisi, kapasitas ukuran sampel yang serbaguna, dan beberapa mode pemindaian, AFM memberdayakan peneliti untuk menjelajahi detail rumit dari permukaan sampel dan mendapatkan wawasan berharga tentang sifat-sifatnya. Baik mempelajari material, sampel biologis, atau struktur skala nano, AFM memberikan kemampuan tak tertandingi untuk analisis permukaan yang komprehensif dan penemuan ilmiah.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Rentang Pindai: 100 μm X 100 μm
• Resolusi: 0,15 Nm
• Ukuran Sampel: Hingga 200 Mm X 5200mm
• Mode Pencitraan: Topografi, Fase, Gesekan, Gaya Lateral
• Mode Pemindaian: Kontak, Tapping, Non-kontak

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro dari Truth Instruments, yang berasal dari China, adalah alat yang ampuh yang dirancang untuk berbagai aplikasi analisis permukaan di berbagai industri. Dengan rentang pindai 100 μm x 100 μm dan mode pencitraan termasuk topografi, fase, gesekan, dan gaya lateral, mikroskop gaya pindai ini menawarkan kemampuan pencitraan yang presisi dan detail.

Salah satu skenario aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah di bidang penelitian dan pengembangan semikonduktor. Resolusi gaya tinggi sebesar 0,15 NN membuatnya ideal untuk menganalisis permukaan semikonduktor pada tingkat skala nano. Peneliti dan insinyur di industri semikonduktor dapat menggunakan AFM ini untuk mempelajari sifat permukaan, cacat, dan struktur dengan presisi yang luar biasa.

Selain itu, AtomEdge Pro sangat cocok untuk berbagai tugas analisis permukaan di industri seperti ilmu material, nanoteknologi, dan biologi. Kompatibilitasnya dengan perangkat lunak Windows memungkinkan analisis dan visualisasi data yang mulus, menjadikannya instrumen serbaguna untuk laboratorium penelitian dan lembaga akademik.

Baik itu mengkarakterisasi nanostruktur, mengukur kekasaran permukaan, atau mempelajari sampel biologis, AtomEdge Pro menawarkan fleksibilitas dan keandalan dalam analisis sampel. Dukungan ukuran sampel yang besar hingga 200 mm x 5200 mm memungkinkan pengguna untuk mempelajari berbagai sampel, menjadikannya cocok untuk berbagai proyek penelitian dan aplikasi industri.

Kesimpulannya, Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro dari Truth Instruments adalah alat yang berharga untuk analisis permukaan di berbagai industri. Fitur-fitur canggihnya, kemampuan pencitraan yang presisi, dan kompatibilitas dengan perangkat lunak Windows menjadikannya instrumen penting bagi peneliti, ilmuwan, dan insinyur yang terlibat dalam nanoteknologi, ilmu material, dan bidang lain yang memerlukan pencitraan dan analisis resolusi tinggi.