Yüksek Tarama Gücü Mikroskopu 0.15 Nm Wafe için Yüksek Çözünürlüklü Mikroskop

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanoteknoloji, malzeme bilimi ve biyoloji gibi çeşitli alanlarda yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve yüzey analizi için kullanılan son teknoloji bir cihazdır. Gelişmiş yetenekleri ve hassas ölçümleriyle AFM, nanoskal seviyede yüzey özelliklerine dair ayrıntılı bilgiler arayan araştırmacılar ve bilim insanları için vazgeçilmez bir araçtır.

AFM'nin temel özelliklerinden biri, Topografi, Faz, Sürtünme ve Yanal Kuvvet görüntüleme dahil olmak üzere çok yönlü görüntüleme modlarıdır. Bu modlar, kullanıcıların yükseklik farklılıkları, malzeme kontrastı, sürtünme özellikleri ve yanal kuvvetler gibi numune yüzeyi hakkında ayrıntılı bilgiler yakalamasına olanak tanır. Araştırmacılar, bu görüntüleme modlarını kullanarak numunenin yüzey karakteristikleri ve davranışı hakkında kapsamlı bir anlayış kazanabilirler.

AFM, 0,15 nm'lik etkileyici bir çözünürlük sunarak, kullanıcıların yüzey özelliklerini olağanüstü netlik ve hassasiyetle görselleştirmesini sağlar. Bu yüksek çözünürlük, çeşitli uygulamalar için ayrıntılı yüzey analizi yapmak ve doğru ölçümler elde etmek için çok önemlidir. Pürüzlülük ölçümleri yaparken veya yüzey topografyasını incelerken, AFM hassas görüntüleme ve analiz için eşsiz bir çözünürlük sunar.

AFM, görüntüleme yeteneklerine ek olarak, araştırmacıların numunelerin mekanik özelliklerini olağanüstü bir hassasiyetle araştırmasına olanak tanıyan 0,15 nN'lik olağanüstü bir kuvvet çözünürlüğü sağlar. AFM'nin hassas kuvvet çözünürlüğü, kullanıcıların nano-girinti deneyleri yapmasına, yapışma kuvvetlerini ölçmesine ve malzemelerin elastik özelliklerini nanoskal seviyede araştırmasına olanak tanır. Yüksek kuvvet çözünürlüğü ile AFM, numunelerin mekanik davranışı hakkında değerli bilgiler sunar.

Numune boyutu söz konusu olduğunda, AFM 200 mm x 5200 mm'ye kadar olan boyutlardaki çok çeşitli numuneleri barındırır. Bu cömert numune boyutu kapasitesi, kullanıcıların küçük nanoyapılardan daha büyük yüzeylere kadar çeşitli numune türlerini analiz etmesine olanak tanıyarak, farklı araştırma projeleri için esneklik ve çok yönlülük sağlar. İster tek tek nanoparçacıkları isterse büyük ölçekli yüzeyleri inceleyin, AFM farklı boyutlardaki numuneleri kolaylıkla inceleme yeteneği sunar.

AFM, temas, dokunma ve temassız modlar dahil olmak üzere çoklu tarama modları sunarak kullanıcılara görüntüleme yaklaşımlarında esneklik sağlar. Temas modu, AFM probu ile numune yüzeyi arasında doğrudan etkileşim sağlayarak yüksek çözünürlük ve hassas topografik görüntüleme sunar. Dokunma modu, uç-numune etkileşimlerini azaltarak numune hasarını en aza indirir ve prob ömrünü uzatır, hassas numuneler için idealdir. Temassız mod, fiziksel temas olmadan yumuşak numuneleri ve biyomolekülleri incelemek için uygun olan aralıklı uç-numune etkileşimlerini kullanır. Bu tarama modları ile araştırmacılar, özel görüntüleme gereksinimleri için en uygun yaklaşımı seçebilirler.

Özetle, Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanoskal seviyede yüzey analizi, pürüzlülük ölçümü ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme için güçlü bir araçtır. Gelişmiş görüntüleme modları, olağanüstü çözünürlüğü, hassas kuvvet duyarlılığı, çok yönlü numune boyutu kapasitesi ve çoklu tarama modları ile AFM, araştırmacıları numune yüzeylerinin karmaşık ayrıntılarını keşfetmeye ve özellikleri hakkında değerli bilgiler edinmeye teşvik eder. İster malzemeleri, ister biyolojik numuneleri veya nanoskal yapıları inceleyin, AFM kapsamlı yüzey analizi ve bilimsel keşif için eşsiz yetenekler sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Tarama Aralığı: 100 μm X 100 μm
• Çözünürlük: 0,15 Nm
• Numune Boyutu: 200 Mm X 5200mm'ye Kadar
• Görüntüleme Modları: Topografi, Faz, Sürtünme, Yanal Kuvvet
• Tarama Modları: Temas, Dokunma, Temassız

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Çin'den gelen Truth Instruments'ın AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, farklı endüstrilerde çeşitli yüzey analizi uygulamaları için tasarlanmış güçlü bir araçtır. 100 μm x 100 μm'lik bir tarama aralığı ve topografi, faz, sürtünme ve yanal kuvvet dahil olmak üzere görüntüleme modları ile bu tarama kuvvet mikroskobu, hassas ve ayrıntılı görüntüleme yetenekleri sunar.

AtomEdge Pro için temel uygulama senaryolarından biri, yarı iletken araştırma ve geliştirme alanındadır. 0,15 NN'lik yüksek kuvvet çözünürlüğü, onu yarı iletken yüzeyleri nanoskal seviyede analiz etmek için ideal hale getirir. Yarı iletken endüstrisindeki araştırmacılar ve mühendisler, yüzey özelliklerini, kusurları ve yapıları olağanüstü bir hassasiyetle incelemek için bu AFM'yi kullanabilirler.

Ayrıca, AtomEdge Pro, malzeme bilimi, nanoteknoloji ve biyoloji gibi endüstrilerde çeşitli yüzey analizi görevleri için de uygundur. Windows yazılımı ile uyumluluğu, sorunsuz veri analizi ve görselleştirme sağlayarak, onu araştırma laboratuvarları ve akademik kurumlar için çok yönlü bir araç haline getirir.

İster nanoyapıların karakterizasyonu, ister yüzey pürüzlülüğünün ölçülmesi veya biyolojik numunelerin incelenmesi olsun, AtomEdge Pro numune analizinde esneklik ve güvenilirlik sunar. 200 mm x 5200 mm'ye kadar cömert numune boyutu desteği, kullanıcıların çok çeşitli numuneleri incelemesini sağlayarak, çeşitli araştırma projeleri ve endüstriyel uygulamalar için uygun hale getirir.

Sonuç olarak, Truth Instruments'ın AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, birden fazla endüstride yüzey analizi için değerli bir araçtır. Gelişmiş özellikleri, hassas görüntüleme yetenekleri ve Windows yazılımı ile uyumluluğu, onu nanoteknoloji, malzeme bilimi ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve analiz gerektiren diğer alanlarda yer alan araştırmacılar, bilim insanları ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç haline getirir.