Kính hiển vi lực quét cao 0.15 nm Kính hiển vi độ phân giải cao cho Wafe

Mô tả sản phẩm:

Máy hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một dụng cụ tiên tiến được sử dụng để chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích bề mặt trong các lĩnh vực khác nhau như công nghệ nano, khoa học vật liệu và sinh học.Với khả năng tiên tiến và các phép đo chính xác, AFM là một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu và các nhà khoa học tìm kiếm những hiểu biết chi tiết về tính chất bề mặt ở cấp độ nano.

Một trong những tính năng chính của AFM là các chế độ hình ảnh linh hoạt của nó, bao gồm hình ảnh địa hình, pha, ma sát và lực bên.Các chế độ này cho phép người dùng thu thập thông tin chi tiết về bề mặt mẫuBằng cách sử dụng các chế độ hình ảnh này, chúng ta có thể tìm ra các yếu tố khác nhau như độ cao, độ tương phản vật liệu, tính chất ma sát và lực bên.các nhà nghiên cứu có thể có được một sự hiểu biết toàn diện về các đặc điểm bề mặt và hành vi của mẫu.

AFM cung cấp độ phân giải ấn tượng là 0,15 nm, cho phép người dùng hình dung các tính năng bề mặt với độ rõ ràng và chính xác đặc biệt.Độ phân giải cao này rất quan trọng để tiến hành phân tích bề mặt chi tiết và thu được các phép đo chính xác cho các ứng dụng khác nhauCho dù thực hiện các phép đo độ thô hoặc nghiên cứu địa hình bề mặt, AFM cung cấp độ phân giải không thể sánh được cho hình ảnh và phân tích chính xác.

Ngoài khả năng hình ảnh của nó, AFM cung cấp độ phân giải lực đặc biệt là 0,15 nN,cho phép các nhà nghiên cứu nghiên cứu các tính chất cơ học của các mẫu với độ nhạy đặc biệtPhân giải lực chính xác của AFM cho phép người dùng thực hiện các thí nghiệm nanoindentation, đo lực dính và khám phá các tính chất đàn hồi của vật liệu ở cấp độ nano.Với độ phân giải lực lượng cao, AFM cung cấp những hiểu biết có giá trị về hành vi cơ học của các mẫu.

Khi nói đến kích thước mẫu, AFM chứa nhiều mẫu, hỗ trợ kích thước lên đến 200 mm x 5200 mm.Khả năng kích thước mẫu hào phóng này cho phép người dùng phân tích các loại mẫu khác nhau, từ các cấu trúc nano nhỏ đến bề mặt lớn hơn, cung cấp tính linh hoạt và linh hoạt cho các dự án nghiên cứu đa dạng.AFM cung cấp khả năng điều tra các mẫu có kích thước khác nhau một cách dễ dàng.

AFM cung cấp nhiều chế độ quét, bao gồm chế độ tiếp xúc, chạm và không tiếp xúc, cung cấp cho người dùng sự linh hoạt trong cách tiếp cận hình ảnh của họ.Chế độ tiếp xúc cho phép tương tác trực tiếp giữa đầu dò AFM và bề mặt mẫu, cung cấp độ phân giải cao và hình ảnh địa hình chính xác. Chế độ chạm giảm tương tác đầu mẫu, giảm thiểu thiệt hại mẫu và kéo dài tuổi thọ của đầu dò, lý tưởng cho các mẫu tinh tế.Chế độ không tiếp xúc sử dụng tương tác đầu-mẫu gián đoạnVới các chế độ quét này, các nhà nghiên cứu có thể chọn phương pháp phù hợp nhất cho các yêu cầu hình ảnh cụ thể của họ.

Tóm lại, Máy hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một công cụ mạnh mẽ để phân tích bề mặt, đo độ thô và hình ảnh độ phân giải cao ở mức độ nano.Nghị quyết đặc biệt, độ nhạy lực chính xác, dung lượng kích thước mẫu đa năng và nhiều chế độ quét,AFM cho phép các nhà nghiên cứu khám phá các chi tiết phức tạp của bề mặt mẫu và có được những hiểu biết có giá trị về tính chất của chúngCho dù là nghiên cứu vật liệu, mẫu sinh học hoặc cấu trúc quy mô nano, AFM cung cấp khả năng không thể sánh được cho phân tích bề mặt toàn diện và khám phá khoa học.

Đặc điểm:

• Tên sản phẩm: Máy viêm lực nguyên tử
• Phạm vi quét: 100 μm X 100 μm
• Độ phân giải: 0,15 nm
• Kích thước mẫu: Tối đa 200 mm X 5200 mm
• Chế độ hình ảnh: Địa hình, Giai đoạn, ma sát, lực bên
• Chế độ quét: tiếp xúc, chạm, không tiếp xúc

Các thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Máy hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một công cụ mạnh mẽ được thiết kế cho các ứng dụng phân tích bề mặt khác nhau trên các ngành công nghiệp khác nhau.Với phạm vi quét 100 μm x 100 μm và chế độ hình ảnh bao gồm địa hình, pha, ma sát và lực bên, kính hiển vi lực quét này cung cấp khả năng hình ảnh chính xác và chi tiết.

Một trong những kịch bản ứng dụng chính cho AtomEdge Pro là trong lĩnh vực nghiên cứu và phát triển bán dẫn.15 NN làm cho nó lý tưởng để phân tích bề mặt bán dẫn ở mức độ nanoCác nhà nghiên cứu và kỹ sư trong ngành công nghiệp bán dẫn có thể sử dụng AFM này để nghiên cứu tính chất bề mặt, khiếm khuyết và cấu trúc với độ chính xác đặc biệt.

Hơn nữa, AtomEdge Pro phù hợp với các nhiệm vụ phân tích bề mặt khác nhau trong các ngành công nghiệp như khoa học vật liệu, công nghệ nano và sinh học.Sự tương thích của nó với phần mềm Windows cho phép phân tích và trực quan hóa dữ liệu liền mạch, làm cho nó trở thành một công cụ đa năng cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu và các tổ chức học thuật.

Cho dù đó là mô tả cấu trúc nano, đo độ thô bề mặt, hoặc nghiên cứu các mẫu sinh học, AtomEdge Pro cung cấp tính linh hoạt và đáng tin cậy trong phân tích mẫu.Hỗ trợ kích thước mẫu rộng rãi lên đến 200 mm x 5200 mm cho phép người dùng nghiên cứu một loạt các mẫu, làm cho nó phù hợp với các dự án nghiên cứu và ứng dụng công nghiệp đa dạng.

Tóm lại, Máy Viên Viên Viên Viên AtomEdge Pro của Truth Instruments là một công cụ có giá trị cho việc phân tích bề mặt trên nhiều ngành công nghiệp.và tương thích với phần mềm Windows làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu, các nhà khoa học và kỹ sư tham gia công nghệ nano, khoa học vật liệu và các lĩnh vực khác đòi hỏi hình ảnh và phân tích độ phân giải cao.