Kính hiển vi lực quét cao 0.15 Nm Kính hiển vi độ phân giải cao cho Wafe

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một công cụ tiên tiến được sử dụng để chụp ảnh và phân tích bề mặt có độ phân giải cao trong nhiều lĩnh vực như công nghệ nano, khoa học vật liệu và sinh học. Với các khả năng tiên tiến và các phép đo chính xác, AFM là một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu và các nhà khoa học đang tìm kiếm những hiểu biết chi tiết về các đặc tính bề mặt ở cấp độ nano.

Một trong những tính năng chính của AFM là các chế độ chụp ảnh đa năng của nó, bao gồm chụp ảnh Địa hình, Pha, Ma sát và Lực ngang. Các chế độ này cho phép người dùng nắm bắt thông tin chi tiết về bề mặt mẫu, chẳng hạn như các biến thể về độ cao, độ tương phản vật liệu, các đặc tính ma sát và các lực ngang. Bằng cách sử dụng các chế độ chụp ảnh này, các nhà nghiên cứu có thể hiểu toàn diện về các đặc điểm và hành vi bề mặt của mẫu.

AFM cung cấp độ phân giải ấn tượng là 0,15 nm, cho phép người dùng hình dung các đặc điểm bề mặt với độ rõ nét và độ chính xác đặc biệt. Độ phân giải cao này rất quan trọng để tiến hành phân tích bề mặt chi tiết và thu được các phép đo chính xác cho các ứng dụng khác nhau. Cho dù thực hiện các phép đo độ nhám hay nghiên cứu địa hình bề mặt, AFM mang lại độ phân giải vô song để chụp ảnh và phân tích chính xác.

Ngoài khả năng chụp ảnh, AFM còn cung cấp độ phân giải lực đặc biệt là 0,15 nN, cho phép các nhà nghiên cứu điều tra các tính chất cơ học của các mẫu với độ nhạy đặc biệt. Độ phân giải lực chính xác của AFM cho phép người dùng thực hiện các thí nghiệm nanoindentation, đo lực bám dính và khám phá các tính chất đàn hồi của vật liệu ở cấp độ nano. Với độ phân giải lực cao, AFM cung cấp những hiểu biết giá trị về hành vi cơ học của các mẫu.

Khi nói đến kích thước mẫu, AFM có thể chứa nhiều loại mẫu khác nhau, hỗ trợ các kích thước lên đến 200 mm x 5200 mm. Khả năng kích thước mẫu lớn này cho phép người dùng phân tích nhiều loại mẫu khác nhau, từ các cấu trúc nano nhỏ đến các bề mặt lớn hơn, mang lại sự linh hoạt và đa năng cho các dự án nghiên cứu khác nhau. Cho dù kiểm tra các hạt nano riêng lẻ hay các bề mặt quy mô lớn, AFM đều cung cấp khả năng điều tra các mẫu có kích thước khác nhau một cách dễ dàng.

AFM cung cấp nhiều chế độ quét, bao gồm các chế độ Tiếp xúc, Gõ và Không tiếp xúc, cung cấp cho người dùng sự linh hoạt trong phương pháp chụp ảnh của họ. Chế độ Tiếp xúc cho phép tương tác trực tiếp giữa đầu dò AFM và bề mặt mẫu, cung cấp độ phân giải cao và chụp ảnh địa hình chính xác. Chế độ Gõ làm giảm tương tác giữa đầu dò và mẫu, giảm thiểu hư hỏng mẫu và kéo dài tuổi thọ của đầu dò, lý tưởng cho các mẫu mỏng manh. Chế độ Không tiếp xúc sử dụng các tương tác đầu dò-mẫu không liên tục, phù hợp để nghiên cứu các mẫu mềm và phân tử sinh học mà không cần tiếp xúc vật lý. Với các chế độ quét này, các nhà nghiên cứu có thể chọn phương pháp phù hợp nhất cho các yêu cầu chụp ảnh cụ thể của họ.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một công cụ mạnh mẽ để phân tích bề mặt, đo độ nhám và chụp ảnh độ phân giải cao ở cấp độ nano. Với các chế độ chụp ảnh tiên tiến, độ phân giải đặc biệt, độ nhạy lực chính xác, khả năng kích thước mẫu đa năng và nhiều chế độ quét, AFM trao quyền cho các nhà nghiên cứu khám phá các chi tiết phức tạp của bề mặt mẫu và có được những hiểu biết giá trị về các đặc tính của chúng. Cho dù nghiên cứu vật liệu, mẫu sinh học hay cấu trúc nano, AFM đều cung cấp các khả năng vô song để phân tích bề mặt toàn diện và khám phá khoa học.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử
• Phạm vi quét: 100 μm X 100 μm
• Độ phân giải: 0,15 Nm
• Kích thước mẫu: Lên đến 200 Mm X 5200mm
• Chế độ chụp ảnh: Địa hình, Pha, Ma sát, Lực ngang
• Chế độ quét: Tiếp xúc, Gõ, Không tiếp xúc

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một công cụ mạnh mẽ được thiết kế cho các ứng dụng phân tích bề mặt khác nhau trong các ngành công nghiệp khác nhau. Với phạm vi quét 100 μm x 100 μm và các chế độ chụp ảnh bao gồm địa hình, pha, ma sát và lực ngang, kính hiển vi lực quét này cung cấp khả năng chụp ảnh chính xác và chi tiết.

Một trong những kịch bản ứng dụng chính của AtomEdge Pro là trong lĩnh vực nghiên cứu và phát triển chất bán dẫn. Độ phân giải lực cao 0,15 NN làm cho nó trở nên lý tưởng để phân tích bề mặt chất bán dẫn ở cấp độ nano. Các nhà nghiên cứu và kỹ sư trong ngành công nghiệp bán dẫn có thể sử dụng AFM này để nghiên cứu các đặc tính bề mặt, khuyết tật và cấu trúc với độ chính xác đặc biệt.

Hơn nữa, AtomEdge Pro phù hợp với nhiều tác vụ phân tích bề mặt khác nhau trong các ngành như khoa học vật liệu, công nghệ nano và sinh học. Khả năng tương thích của nó với phần mềm Windows cho phép phân tích và trực quan hóa dữ liệu liền mạch, làm cho nó trở thành một công cụ đa năng cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu và các tổ chức học thuật.

Cho dù đó là đặc trưng hóa các cấu trúc nano, đo độ nhám bề mặt hay nghiên cứu các mẫu sinh học, AtomEdge Pro đều mang lại sự linh hoạt và độ tin cậy trong phân tích mẫu. Hỗ trợ kích thước mẫu lớn lên đến 200 mm x 5200 mm cho phép người dùng nghiên cứu nhiều loại mẫu, làm cho nó phù hợp với các dự án nghiên cứu đa dạng và các ứng dụng công nghiệp.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments là một công cụ có giá trị để phân tích bề mặt trong nhiều ngành công nghiệp. Các tính năng tiên tiến, khả năng chụp ảnh chính xác và khả năng tương thích với phần mềm Windows làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu, nhà khoa học và kỹ sư tham gia vào công nghệ nano, khoa học vật liệu và các lĩnh vực khác yêu cầu chụp ảnh và phân tích độ phân giải cao.