Microscopio de alta fuerza de escaneo 0.15 Nm Microscopio de alta resolución para Wafe

Descripción del producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia utilizado para la obtención de imágenes de alta resolución y el análisis de superficies en diversos campos como la nanotecnología, la ciencia de materiales y la biología. Con sus capacidades avanzadas y mediciones precisas, el AFM es una herramienta esencial para investigadores y científicos que buscan información detallada sobre las propiedades de la superficie a nivel de nanoescala.

Una de las características clave del AFM son sus versátiles modos de imagen, que incluyen Topografía, Fase, Fricción e Imagen de Fuerza Lateral. Estos modos permiten a los usuarios capturar información detallada sobre la superficie de la muestra, como variaciones de altura, contraste de material, propiedades de fricción y fuerzas laterales. Al utilizar estos modos de imagen, los investigadores pueden obtener una comprensión integral de las características y el comportamiento de la superficie de la muestra.

El AFM ofrece una resolución impresionante de 0,15 nm, lo que permite a los usuarios visualizar las características de la superficie con una claridad y precisión excepcionales. Esta alta resolución es crucial para realizar análisis detallados de la superficie y obtener mediciones precisas para diversas aplicaciones. Ya sea realizando mediciones de rugosidad o estudiando la topografía de la superficie, el AFM ofrece una resolución inigualable para la obtención de imágenes y el análisis precisos.

Además de sus capacidades de imagen, el AFM proporciona una resolución de fuerza excepcional de 0,15 nN, lo que permite a los investigadores investigar las propiedades mecánicas de las muestras con una sensibilidad excepcional. La precisa resolución de fuerza del AFM permite a los usuarios realizar experimentos de nanoindentación, medir las fuerzas de adhesión y explorar las propiedades elásticas de los materiales a nivel de nanoescala. Con su alta resolución de fuerza, el AFM ofrece información valiosa sobre el comportamiento mecánico de las muestras.

En cuanto al tamaño de la muestra, el AFM se adapta a una amplia gama de especímenes, admitiendo tamaños de hasta 200 mm x 5200 mm. Esta generosa capacidad de tamaño de muestra permite a los usuarios analizar varios tipos de muestras, desde nanoestructuras pequeñas hasta superficies más grandes, proporcionando flexibilidad y versatilidad para diversos proyectos de investigación. Ya sea examinando nanopartículas individuales o superficies a gran escala, el AFM ofrece la capacidad de investigar muestras de diferentes tamaños con facilidad.

El AFM ofrece múltiples modos de escaneo, incluidos los modos de contacto, tapping y sin contacto, lo que brinda a los usuarios flexibilidad en su enfoque de imagen. El modo de contacto permite la interacción directa entre la sonda AFM y la superficie de la muestra, ofreciendo alta resolución e imágenes topográficas precisas. El modo Tapping reduce las interacciones punta-muestra, minimizando el daño a la muestra y extendiendo la vida útil de la sonda, ideal para muestras delicadas. El modo sin contacto utiliza interacciones intermitentes punta-muestra, adecuado para estudiar muestras blandas y biomoléculas sin contacto físico. Con estos modos de escaneo, los investigadores pueden elegir el enfoque más adecuado para sus requisitos de imagen específicos.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es una herramienta poderosa para el análisis de superficies, la medición de la rugosidad y la obtención de imágenes de alta resolución a nivel de nanoescala. Con sus modos de imagen avanzados, resolución excepcional, sensibilidad de fuerza precisa, capacidad versátil de tamaño de muestra y múltiples modos de escaneo, el AFM permite a los investigadores explorar los intrincados detalles de las superficies de las muestras y obtener información valiosa sobre sus propiedades. Ya sea estudiando materiales, muestras biológicas o estructuras a nanoescala, el AFM proporciona capacidades inigualables para el análisis integral de superficies y el descubrimiento científico.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Rango de escaneo: 100 μm X 100 μm
• Resolución: 0,15 Nm
• Tamaño de la muestra: Hasta 200 mm X 5200 mm
• Modos de imagen: Topografía, Fase, Fricción, Fuerza lateral
• Modos de escaneo: Contacto, Tapping, Sin contacto

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es una herramienta poderosa diseñada para diversas aplicaciones de análisis de superficies en diferentes industrias. Con un rango de escaneo de 100 μm x 100 μm y modos de imagen que incluyen topografía, fase, fricción y fuerza lateral, este microscopio de fuerza de barrido ofrece capacidades de imagen precisas y detalladas.

Uno de los escenarios de aplicación clave para el AtomEdge Pro es en el campo de la investigación y el desarrollo de semiconductores. La alta resolución de fuerza de 0,15 NN lo hace ideal para analizar superficies de semiconductores a nivel de nanoescala. Los investigadores e ingenieros de la industria de los semiconductores pueden utilizar este AFM para estudiar las propiedades de la superficie, los defectos y las estructuras con una precisión excepcional.

Además, el AtomEdge Pro es adecuado para diversas tareas de análisis de superficies en industrias como la ciencia de materiales, la nanotecnología y la biología. Su compatibilidad con el software Windows permite un análisis y visualización de datos sin problemas, lo que lo convierte en un instrumento versátil para laboratorios de investigación e instituciones académicas.

Ya sea caracterizando nanoestructuras, midiendo la rugosidad de la superficie o estudiando muestras biológicas, el AtomEdge Pro ofrece flexibilidad y fiabilidad en el análisis de muestras. El generoso soporte de tamaño de muestra de hasta 200 mm x 5200 mm permite a los usuarios estudiar una amplia gama de muestras, lo que lo hace adecuado para diversos proyectos de investigación y aplicaciones industriales.

En conclusión, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es una herramienta valiosa para el análisis de superficies en múltiples industrias. Sus características avanzadas, capacidades de imagen precisas y compatibilidad con el software Windows lo convierten en un instrumento esencial para investigadores, científicos e ingenieros involucrados en nanotecnología, ciencia de materiales y otros campos que requieren imágenes y análisis de alta resolución.