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高スキャン力顕微鏡 0.15 Nm 高解像度顕微鏡

High Scanning Force Microscope For Wafe Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument used for high-resolution imaging and surface analysis in various fields such as nanotechnology, materials science, and biology. With its advanced capabilities and precise measurements, the AFM is an essential tool for researchers and scientists seeking detailed insights into surface properties at the nanoscale level. One of the key features of the AFM is
製品詳細
ハイライト:

高スキャン力顕微鏡

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0.15 Nm 高解像度顕微鏡

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フォース顕微鏡 0.15 Nm

Name: 高スキャン力顕微鏡
Scanning Modes: 連絡、タッピング、非接触
Model: AFM
Imaging Modes: 地形、位相、摩擦、横方向の力
Scan Range: 100μmx100μm
Resolution: 0.15 nm
Force Resolution: 0.15 nn
Software Compatibility: Windows
Sample Size: 最大200 mm x 5200mm

基本的な特性

ブランド名: Truth Instruments
モデル番号: Atommax

取引物件

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支払条件: T/T
製品の説明

高スキャン力顕微鏡

製品説明:

原子力顕微鏡 (AFM) は,ナノテクノロジー,材料科学,生物学などの様々な分野で高解像度画像と表面分析に使用される最先端の機器です.その先端の能力と正確な測定でナノスケールでの表面特性の詳細な知見を求める研究者や科学者のための不可欠なツールです

AFMの重要な特徴の一つは,トポグラフィー,フェーズ,摩擦,横力画像を含む汎用的な画像モードである.これらのモードは,サンプル表面に関する詳細な情報をユーザーに取得することを可能にします.これらのイメージングモードを活用することで, 材料の高さ,コントラスト,摩擦特性,横向き力など,研究者はサンプル表面の特性や振る舞いを全面的に理解することができます.

AFM は 0.15 nm の 印象 的 な 解像度 を 提供 し,利用 者 が 卓越 し た 明確 性 と 精度 で 表面 の 特徴 を 視覚化 できる よう に し て い ます.この高解像度 は,詳細 な 表面 分析 を 行なう こと や,様々な 用途 に 関する 正確 な 測定 を 得 られる ため に 極めて 必要 です表面の地形を調査する時でも,AFMは正確なイメージングと分析のために 卓越した解像度を提供します.

画像処理機能に加えて,AFMは 0.15 nN の特殊な力解像度を提供します.研究者が特殊な感度でサンプルの機械的特性を調査できるようにするAFMの精密な力解像度は,ユーザがナノインデント実験を行い,粘着力を測定し,ナノスケールレベルで材料の弾性特性を調査することを可能にします.強力な解像度でAFMは,サンプルの機械的行動について貴重な洞察を提供します.

サンプルサイズに関しては,AFMは200mm x 5200mmまでのサイズに対応する幅広いサンプルに対応します.この寛大なサンプルサイズ容量は,ユーザが様々なタイプのサンプルを分析することを可能にします.小型のナノ構造から大きな表面まで,様々な研究プロジェクトに柔軟性と多様性を提供しています.AFMは,異なるサイズのサンプルを簡単に調べることができる..

AFMは,コンタクト,タッピング,非コンタクトモードを含む複数のスキャンモードを提供し,ユーザーにイメージングアプローチの柔軟性を提供します.接触モードは,AFM探査機とサンプル表面の間の直接的な相互作用を可能にします.高解像度で正確な地形画像を提供します.タッピングモードは,尖端サンプル相互作用を軽減し,サンプル損傷を最小限に抑え,繊細なサンプルに理想的な探査機寿命を延長します.非接触モードは,断続的な尖端サンプル相互作用を使用します.このスキャニングモードにより,研究者は特定のイメージング要件に最も適したアプローチを選択することができます.

原子力顕微鏡 (AFM) は,表面分析,粗度測定,ナノスケールレベルの高解像度画像の強力なツールです.特別決議精密な力感度,汎用的なサンプルサイズ容量,複数のスキャンモードAFMは,研究者がサンプル表面の複雑な詳細を調査し,その性質についての貴重な洞察を得ることを可能にします材料,生物学的サンプル,ナノスケール構造を研究するかどうかは別として,AFMは包括的な表面分析と科学的発見のための比類のない能力を提供しています.

特徴:

  • 製品名:原子力顕微鏡
  • スキャン範囲: 100 μm × 100 μm
  • 解像度:0.15 Nm
  • サンプルサイズ:最大200mm × 5200mm
  • イメージングモード: 地形,相,摩擦,横向き力
  • スキャニングモード:接触,タップ,非接触

技術パラメータ:

力の解像度 0.15 NN
イメージングモード 地形,相,摩擦,横向き力
決議 0.15 Nm
スキャン範囲 100 μm × 100 μm
サンプルサイズ 200mm × 5200mmまで
モデル AFM
スキャンモード 接触,タッピング,接触なし
ソフトウェア互換性 ウィンドウ

応用:

Truth Instruments の中国製の AtomEdge Pro 原子力顕微鏡は,様々な産業における様々な表面分析アプリケーションのために設計された強力なツールです.スキャンの範囲は100μm×100μmで,地形を含むイメージングモードこのスキャニングフォース顕微鏡は 精密で詳細なイメージング能力を提供しています

AtomEdge Pro の主要な応用シナリオの1つは,半導体研究開発分野です.ナノスケールレベルで半導体表面を分析するのに理想的です半導体産業の研究者や技術者は このAFMを活用して 表面の特性や欠陥や構造を 極めて精密に研究できます

さらに,AtomEdge Proは材料科学,ナノテクノロジー,生物学などの産業における様々な表面分析作業に適しています.Windows ソフトウェアとの互換性により,シームレスなデータ分析と可視化が可能になります研究室や学術機関にとって多用途のツールとなっています.

ナノ構造の特徴付けや 表面の粗さ測定や 生物学的サンプルの研究に関わらず AtomEdge Proは 柔軟性と信頼性を 提供しています200 mm × 5200 mm の大きなサンプルサイズサポートにより,利用者は幅広いサンプルを研究することができます.異なる研究プロジェクトや産業用用途に適しています.

結論として Truth Instruments の AtomEdge Pro 原子力顕微鏡は 多様な産業における表面分析のための貴重なツールです研究者にとって不可欠なツールとなっています.高解像度の画像と分析を必要とするナノテクノロジー,材料科学,その他の分野に関与する科学者や技術者.

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