高スキャン力顕微鏡 0.15 nm 高解像度顕微鏡
高スキャン力顕微鏡
,0.15 nm 高解像度顕微鏡
,フォース顕微鏡 0.15 nm
基本的な特性
取引物件
ウェーハ用高走査力顕微鏡
製品説明:
原子間力顕微鏡(AFM)は、ナノテクノロジー、材料科学、生物学などのさまざまな分野で、高解像度イメージングと表面分析に使用される最先端の機器です。その高度な機能と精密な測定により、AFMは、ナノスケールレベルでの表面特性に関する詳細な洞察を求める研究者や科学者にとって不可欠なツールです。
AFMの重要な特徴の1つは、トポグラフィー、位相、摩擦、および横力イメージングを含む、その多様なイメージングモードです。これらのモードにより、ユーザーは、高さの変動、材料のコントラスト、摩擦特性、および横力など、サンプルの表面に関する詳細な情報を取得できます。これらのイメージングモードを利用することにより、研究者はサンプルの表面特性と挙動を包括的に理解できます。
AFMは0.15 nmという驚異的な分解能を提供し、ユーザーは非常に鮮明かつ正確に表面の特徴を可視化できます。この高解像度は、詳細な表面分析を実行し、さまざまなアプリケーションの正確な測定を行うために不可欠です。粗さの測定を実行する場合でも、表面トポグラフィーを研究する場合でも、AFMは正確なイメージングと分析のために比類のない分解能を提供します。
イメージング機能に加えて、AFMは0.15 nNという優れた力分解能を提供し、研究者は非常に高い感度でサンプルの機械的特性を調査できます。AFMの正確な力分解能により、ユーザーはナノインデンテーション実験を実行し、付着力を測定し、ナノスケールレベルでの材料の弾性特性を調べることができます。その高い力分解能により、AFMはサンプルの機械的挙動に関する貴重な洞察を提供します。
サンプルサイズに関しては、AFMは最大200 mm x 5200 mmまでの幅広い標本に対応しています。この余裕のあるサンプルサイズ容量により、ユーザーは、小さなナノ構造から大きな表面まで、さまざまな種類のサンプルを分析でき、多様な研究プロジェクトに柔軟性と汎用性を提供します。個々のナノ粒子を調べる場合でも、大規模な表面を調べる場合でも、AFMはさまざまなサイズのサンプルを簡単に調査する機能を提供します。
AFMは、コンタクト、タッピング、および非接触モードを含む複数の走査モードを提供し、ユーザーにイメージングアプローチの柔軟性を提供します。コンタクトモードは、AFMプローブとサンプル表面間の直接的な相互作用を可能にし、高解像度で正確なトポグラフィーイメージングを提供します。タッピングモードは、チップとサンプルの相互作用を減らし、サンプルの損傷を最小限に抑え、プローブの寿命を延ばし、デリケートなサンプルに最適です。非接触モードは、断続的なチップとサンプルの相互作用を利用し、物理的な接触なしに、柔らかいサンプルや生体分子の研究に適しています。これらの走査モードにより、研究者は特定のイメージング要件に最適なアプローチを選択できます。
要約すると、原子間力顕微鏡(AFM)は、ナノスケールレベルでの表面分析、粗さ測定、および高解像度イメージングのための強力なツールです。その高度なイメージングモード、優れた分解能、正確な力感度、多様なサンプルサイズ容量、および複数の走査モードにより、AFMは研究者がサンプルの複雑な詳細を調査し、その特性に関する貴重な洞察を得ることを可能にします。材料、生物学的サンプル、またはナノスケール構造を研究する場合でも、AFMは包括的な表面分析と科学的発見のための比類のない機能を提供します。
特徴:
- 製品名:原子間力顕微鏡
- 走査範囲:100 μm X 100 μm
- 分解能:0.15 nm
- サンプルサイズ:最大200 mm X 5200 mm
- イメージングモード:トポグラフィー、位相、摩擦、横力
- 走査モード:コンタクト、タッピング、非接触
技術的パラメータ:
| 力分解能 | 0.15 NN |
| イメージングモード | トポグラフィー、位相、摩擦、横力 |
| 分解能 | 0.15 nm |
| 走査範囲 | 100 μm X 100 μm |
| サンプルサイズ | 最大200 mm X 5200 mm |
| モデル | AFM |
| 走査モード | コンタクト、タッピング、非接触 |
| ソフトウェア互換性 | Windows |
アプリケーション:
Truth InstrumentsのAtomEdge Pro原子間力顕微鏡は、中国発祥で、さまざまな業界のさまざまな表面分析アプリケーション向けに設計された強力なツールです。100 μm x 100 μmの走査範囲と、トポグラフィー、位相、摩擦、横力などのイメージングモードを備えたこの走査力顕微鏡は、正確で詳細なイメージング機能を提供します。
AtomEdge Proの主要なアプリケーションシナリオの1つは、半導体研究開発の分野です。0.15 NNの高い力分解能により、ナノスケールレベルでの半導体表面の分析に最適です。半導体業界の研究者やエンジニアは、このAFMを利用して、表面特性、欠陥、および構造を非常に正確に研究できます。
さらに、AtomEdge Proは、材料科学、ナノテクノロジー、生物学などの業界におけるさまざまな表面分析タスクにも適しています。Windowsソフトウェアとの互換性により、シームレスなデータ分析と可視化が可能になり、研究室や学術機関向けの汎用性の高い機器となっています。
ナノ構造の特性評価、表面粗さの測定、または生物学的サンプルの研究など、AtomEdge Proは、サンプル分析において柔軟性と信頼性を提供します。最大200 mm x 5200 mmの余裕のあるサンプルサイズサポートにより、ユーザーは幅広いサンプルを研究できるため、多様な研究プロジェクトや産業用途に適しています。
結論として、Truth InstrumentsのAtomEdge Pro原子間力顕微鏡は、複数の業界にわたる表面分析に役立つツールです。その高度な機能、正確なイメージング機能、およびWindowsソフトウェアとの互換性により、ナノテクノロジー、材料科学、および高解像度イメージングと分析を必要とするその他の分野に関わる研究者、科学者、およびエンジニアにとって不可欠な機器となっています。