Microscopio ad alta forza di scansione 0,15 Nm Microscopio ad alta risoluzione per Wafe

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia utilizzato per l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi superficiale in vari campi come la nanotecnologia, la scienza dei materiali e la biologia.Con le sue capacità avanzate e misure precise, l'AFM è uno strumento essenziale per i ricercatori e gli scienziati che cercano informazioni dettagliate sulle proprietà della superficie a livello nanoscale.

Una delle caratteristiche chiave dell'AFM è la sua versatilità nelle modalità di imaging, tra cui Topografia, Fase, Frizione e Imaging Lateral Force.Queste modalità consentono agli utenti di acquisire informazioni dettagliate sulla superficie del campione, come variazioni di altezza, contrasto del materiale, proprietà di attrito e forze laterali.I ricercatori possono acquisire una comprensione completa delle caratteristiche e del comportamento della superficie del campione.

L'AFM offre un'impressionante risoluzione di 0,15 nm, consentendo agli utenti di visualizzare le caratteristiche della superficie con eccezionale chiarezza e precisione.Questa elevata risoluzione è fondamentale per condurre analisi dettagliate della superficie e ottenere misurazioni accurate per varie applicazioniChe si tratti di eseguire misurazioni di rugosità o di studiare la topografia della superficie, l'AFM offre una risoluzione senza pari per immagini e analisi precise.

Oltre alle sue capacità di imaging, l'AFM offre una risoluzione di forza eccezionale di 0,15 nN,consentire ai ricercatori di studiare le proprietà meccaniche dei campioni con una sensibilità eccezionaleLa risoluzione precisa della forza dell'AFM consente agli utenti di eseguire esperimenti di nanoindentazione, di misurare le forze di adesione e di esplorare le proprietà elastiche dei materiali a livello nanoscale.Con la sua elevata risoluzione di forza, l'AFM offre preziose informazioni sul comportamento meccanico dei campioni.

Per quanto riguarda la dimensione del campione, l'AFM può accogliere una vasta gamma di campioni, supportando dimensioni fino a 200 mm x 5200 mm.Questa generosa capacità di campionamento consente agli utenti di analizzare vari tipi di campioni, dalle piccole nanostrutture alle superfici più grandi, offrendo flessibilità e versatilità per diversi progetti di ricerca.l'AFM offre la possibilità di esaminare facilmente campioni di diverse dimensioni.

L'AFM offre molteplici modalità di scansione, tra cui modalità di contatto, tocco e non contatto, fornendo agli utenti flessibilità nel loro approccio all'imaging.La modalità di contatto consente l'interazione diretta tra la sonda AFM e la superficie del campioneLa modalità Tapping riduce le interazioni punta-campione, riducendo al minimo i danni al campione e prolungando la durata della sonda, ideale per campioni delicati.Modalità senza contatto utilizza intermittenti interazioni punta-campioneCon queste modalità di scansione, i ricercatori possono scegliere l'approccio più adatto alle loro esigenze specifiche di imaging.

In sintesi, il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento potente per l'analisi superficiale, la misurazione della rugosità e l'imaging ad alta risoluzione a livello nanometrico.risoluzione eccezionale, sensibilità alla forza precisa, capacità di campionamento versatile e modalità di scansione multiple,l'AFM consente ai ricercatori di esplorare i dettagli complessi delle superfici dei campioni e di ottenere informazioni preziose sulle loro proprietàChe si tratti di studiare materiali, campioni biologici o strutture su scala nanometrica, l'AFM offre capacità senza pari per analisi di superficie e scoperte scientifiche complete.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Distanza di scansione: 100 μm X 100 μm
• Risoluzione: 0,15 Nm
• Dimensione del campione: fino a 200 mm x 5200 mm
• Moduli di imaging: topografia, fase, attrito, forza laterale
• Modi di scansione: contatto, tocco, senza contatto

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomEdge Pro Atomic Force Microscope di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento potente progettato per varie applicazioni di analisi superficiale in diversi settori.con una gamma di scansione di 100 μm x 100 μm e modalità di imaging, compresa la topografia, fase, attrito e forza laterale, questo microscopio a forza di scansione offre capacità di imaging precise e dettagliate.

Uno degli scenari di applicazione chiave per l'AtomEdge Pro è nel campo della ricerca e dello sviluppo dei semiconduttori.15 NN lo rende ideale per l'analisi delle superfici dei semiconduttori a livello nanometricoI ricercatori e gli ingegneri dell'industria dei semiconduttori possono utilizzare questo AFM per studiare le proprietà, i difetti e le strutture superficiali con eccezionale precisione.

Inoltre, l'AtomEdge Pro è adatto a vari compiti di analisi superficiale in settori come la scienza dei materiali, la nanotecnologia e la biologia.La sua compatibilità con il software Windows consente analisi e visualizzazione dei dati senza soluzione di continuità, che lo rende uno strumento versatile per laboratori di ricerca e istituti accademici.

Che si tratti di caratterizzare le nanostrutture, misurare la rugosità superficiale o studiare campioni biologici, l'AtomEdge Pro offre flessibilità e affidabilità nell'analisi dei campioni.Il generoso supporto per le dimensioni dei campioni fino a 200 mm x 5200 mm consente agli utenti di studiare una vasta gamma di campioni, che lo rende adatto a diversi progetti di ricerca e applicazioni industriali.

In conclusione, l'AtomEdge Pro Atomic Force Microscope di Truth Instruments è uno strumento prezioso per l'analisi superficiale in molteplici settori.La sua efficacia e la sua compatibilità con il software Windows ne fanno uno strumento essenziale per i ricercatori., scienziati e ingegneri coinvolti nella nanotecnologia, nella scienza dei materiali e in altri campi che richiedono immagini e analisi ad alta risoluzione.