AFM Per Wafe

Scopri il microscopio a forza di scansione elevata per wafer, un microscopio a forza atomica (AFM) all'avanguardia con una risoluzione di 0,15 nm. Ideale per la nanotecnologia, la scienza dei materiali e la biologia, questo AFM offre modalità di imaging versatili, sensibilità di forza precisa e supporta campioni fino a 200 mm x 200 mm. Perfetto per l'analisi di superficie ad alta risoluzione e la ricerca su scala nanometrica.