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AFM per Wafe

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September 28, 2025
Connessione Categoria: Microscopio a forza atomica
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#Microscopio AFM #Sistemi di AFM #Microscopio della sonda di scansione
Breve: Scopri il microscopio a forza di scansione elevata per wafer, un microscopio a forza atomica (AFM) all'avanguardia con una risoluzione di 0,15 nm. Ideale per la nanotecnologia, la scienza dei materiali e la biologia, questo AFM offre modalità di imaging versatili, sensibilità di forza precisa e supporta campioni fino a 200 mm x 200 mm. Perfetto per l'analisi di superficie ad alta risoluzione e la ricerca su scala nanometrica.
Caratteristiche del prodotto correlate:
  • Imaging ad alta risoluzione con risoluzione di 0,15 nm per analisi dettagliate della superficie.
  • Modi di imaging versatili tra cui Topografia, Fase, Frizione e Forza Laterale.
  • Risoluzione di forza eccezionale di 0,15 nN per misure precise delle proprietà meccaniche.
  • Supporta dimensioni di campioni ampie fino a 200 mm x 5200 mm per diverse applicazioni di ricerca.
  • Modalità di scansione multiple: Contatto, Tocco e Senza contatto per approcci di imaging flessibili.
  • Compatibilità software avanzata con Windows per un'analisi dei dati senza interruzioni.
  • Ideale per la ricerca sui semiconduttori, la scienza dei materiali e gli studi biologici.
  • Design robusto per prestazioni affidabili nell'imaging nanoscopico ad alta precisione.
FAQ:
  • Qual è la risoluzione del microscopio a forza di scansione elevata per wafer?
    L'AFM offre un'impressionante risoluzione di 0,15 nm, che consente analisi dettagliate della superficie e misurazioni precise.
  • Quali modalità di imaging sono disponibili con questo AFM?
    L'AFM supporta molteplici modalità di imaging, tra cui Topografia, Fase, Frizione e Forza Laterale, per una caratterizzazione completa della superficie.
  • Quali dimensioni dei campioni può ospitare l'AFM?
    L'AFM può gestire campioni fino a 200 mm x 5200 mm, rendendolo adatto a una vasta gamma di applicazioni di ricerca.
  • Quali sono le modalità di scansione disponibili con questo AFM?
    L'AFM offre modalità di scansione a contatto, a intermittenza (Tapping) e senza contatto, garantendo flessibilità per diverse esigenze di imaging e tipologie di campioni.
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