AFM สำหรับ Wafe

Name: AFM สำหรับ Wafe
Uploaded: 2025-09-28CDT14:16:09-05:00
Duration: 1 min 15 s

กลุ่ม: วิดีโออื่น ๆ

ปล่อยเวลา: 2025-09-28

Video Description

ค้นพบ High Scanning Force Microscope for Wafe ซึ่งเป็นกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) สุดล้ำสมัยที่มีความละเอียด 0.15 นาโนเมตร เหมาะอย่างยิ่งสำหรับเทคโนโลยีนาโน วิทยาศาสตร์วัสดุ และชีววิทยา AFM นี้มีโหมดการถ่ายภาพที่หลากหลาย ความไวต่อแรงที่แม่นยำ และรองรับตัวอย่างขนาดสูงสุด 200 มม. x 5200 มม. เหมาะสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวความละเอียดสูงและการวิจัยระดับนาโน