AFM สำหรับ Wafe

การพูดคุย ติดต่อเรา

AFM สำหรับ Wafe

วิดีโออื่น ๆ

September 28, 2025

การเชื่อมต่อหมวดหมู่: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู

การพูดคุย ติดต่อเรา

แท็ก:

#กล้องจุลทรรศน์ AFM #ระบบ AFM #กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโพรบ

สรุป: ค้นพบ High Scanning Force Microscope for Wafe ซึ่งเป็นกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) สุดล้ำสมัยที่มีความละเอียด 0.15 นาโนเมตร เหมาะอย่างยิ่งสำหรับเทคโนโลยีนาโน วิทยาศาสตร์วัสดุ และชีววิทยา AFM นี้มีโหมดการถ่ายภาพที่หลากหลาย ความไวต่อแรงที่แม่นยำ และรองรับตัวอย่างขนาดสูงสุด 200 มม. x 5200 มม. เหมาะสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวความละเอียดสูงและการวิจัยระดับนาโน

คุณสมบัติของผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง:

การถ่ายภาพความละเอียดสูง ด้วยความละเอียด 0.15 nm สําหรับการวิเคราะห์พื้นผิวอย่างละเอียด
รูปแบบการถ่ายภาพที่หลากหลายรวมถึง Topography, Phase, Friction และ Lateral Force
ความละเอียดแรงที่ยอดเยี่ยม 0.15 nN สำหรับการวัดคุณสมบัติทางกลที่แม่นยำ
รองรับขนาดตัวอย่างใหญ่สูงสุดถึง 200 มม. x 5200 มม. สำหรับการใช้งานวิจัยที่หลากหลาย
โหมดการสแกนหลายแบบ: ติดต่อ, ติดต่อ, และไม่ติดต่อสําหรับวิธีการถ่ายภาพที่ยืดหยุ่น
โปรแกรมที่สมองกับ Windows เพื่อการวิเคราะห์ข้อมูลได้อย่างต่อเนื่อง
เหมาะสําหรับการวิจัยครึ่งประสาท วิทยาศาสตร์วัสดุ และการศึกษาทางชีววิทยา
การออกแบบที่แข็งแกร่งเพื่อผลงานที่น่าเชื่อถือ ในการถ่ายภาพขนาดนาโนความละเอียดสูง

คำถามที่พบบ่อย:

มิโครสโกปแรงสแกนสูงสําหรับเวฟ มีความละเอียดเท่าไร

AFM มีความละเอียดที่น่าประทับใจ 0.15 นาโนเมตร ทำให้สามารถวิเคราะห์พื้นผิวได้อย่างละเอียดและวัดค่าได้อย่างแม่นยำ
โหมดการถ่ายภาพแบบใดบ้างที่ใช้ได้กับ AFM นี้?

AFM รองรับหลายโหมดการถ่ายภาพ, รวมถึง Topography, Phase, Friction และ Lateral Force, สําหรับการประกอบลักษณะพื้นผิวที่ครบถ้วน
เครื่อง AFM สามารถรองรับขนาดตัวอย่างได้เท่าไหร่?

AFM สามารถจัดการตัวอย่างได้ถึง 200 mm x 5200 mm ทําให้มันเหมาะสําหรับการใช้งานวิจัยที่หลากหลาย
โหมดการสแกนใดบ้างที่มีให้เลือกใช้กับ AFM นี้?

AFM มีโหมดการสแกนแบบ Contact, Tapping และ Non-contact ซึ่งให้ความยืดหยุ่นสำหรับความต้องการในการถ่ายภาพและประเภทตัวอย่างที่แตกต่างกัน