AFM para el Wafe

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September 28, 2025

Conexión De Categoría: Microscopio de fuerza atómica

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Etiquetas:

#Microscopio AFM #Sistemas de AFM #Microscopio de sonda de exploración

Resumen: Descubra el Microscopio de Fuerza de Barrido de Alta Resolución para Wafe, un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de vanguardia con una resolución de 0,15 nm. Ideal para nanotecnología, ciencia de materiales y biología, este AFM ofrece modos de imagen versátiles, sensibilidad de fuerza precisa y soporta muestras de hasta 200 mm x 5200 mm. Perfecto para el análisis de superficies de alta resolución y la investigación a nanoescala.

Características De Productos Relacionados:

Imágenes de alta resolución con una resolución de 0,15 nm para un análisis detallado de la superficie.
Modos de imagen versátiles que incluyen Topografía, Fase, Fricción y Fuerza Lateral.
Resolución de fuerza excepcional de 0,15 nN para mediciones precisas de las propiedades mecánicas.
Admite tamaños de muestra grandes de hasta 200 mm x 5200 mm para diversas aplicaciones de investigación.
Múltiples modos de escaneo: contacto, toque y sin contacto para enfoques de imágenes flexibles.
Compatibilidad avanzada del software con Windows para el análisis de datos sin fisuras.
Ideal para la investigación en semiconductores, la ciencia de los materiales y los estudios biológicos.
Diseño robusto para un rendimiento fiable en imágenes a nanoescala de alta precisión.

FAQ:

¿Cuál es la resolución del microscopio de fuerza de barrido de alta resolución para obleas?

El AFM ofrece una resolución impresionante de 0,15 nm, lo que permite un análisis detallado de la superficie y mediciones precisas.
¿Qué modos de imagen están disponibles con este AFM?

El AFM admite múltiples modos de imagen, incluyendo Topografía, Fase, Fricción y Fuerza Lateral, para una caracterización completa de la superficie.
¿A qué tamaño de muestra puede adaptarse el AFM?

El AFM puede manejar muestras de hasta 200 mm x 5200 mm, por lo que es adecuado para una amplia gama de aplicaciones de investigación.
¿Cuáles son los modos de escaneo disponibles con este AFM?

El AFM ofrece modos de escaneo de contacto, tapping y sin contacto, lo que proporciona flexibilidad para diferentes requisitos de imagen y tipos de muestra.