AFM pour la pâte à pâte

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September 28, 2025

Catégorie Connexion: Microscope à force atomique

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#Microscope AFM #Systèmes de gestion aérienne #Microscope de sonde à balayage

Bref: Découvrez le microscope à force de balayage élevé pour plaquettes, un microscope à force atomique (AFM) de pointe avec une résolution de 0,15 nm. Idéal pour la nanotechnologie, la science des matériaux et la biologie, cet AFM offre des modes d'imagerie polyvalents, une sensibilité de force précise et prend en charge des échantillons jusqu'à 200 mm x 200 mm. Parfait pour l'analyse de surface à haute résolution et la recherche à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques Du Produit Connexes:

Imagerie haute résolution avec une résolution de 0,15 nm pour une analyse de surface détaillée.
Des modes d'imagerie polyvalents incluant la topographie, la phase, le frottement et la force latérale.
Résolution de force exceptionnelle de 0,15 nN pour des mesures précises des propriétés mécaniques.
Prend en charge des tailles d'échantillons importantes jusqu'à 200 mm x 5200 mm pour diverses applications de recherche.
Plusieurs modes de numérisation: contact, tapotement et sans contact pour des approches d'imagerie flexibles.
Compatibilité avancée des logiciels avec Windows pour une analyse transparente des données.
Idéal pour la recherche sur les semi-conducteurs, la science des matériaux et les études biologiques.
Conception robuste pour des performances fiables en imagerie à l'échelle nanométrique de haute précision.

FAQ:

Quelle est la résolution du microscope à force de balayage élevée pour Wafe?

L'AFM offre une résolution impressionnante de 0,15 nm, permettant une analyse détaillée de la surface et des mesures précises.
Quels modes d'imagerie sont disponibles avec ce AFM?

L'AFM prend en charge plusieurs modes d'imagerie, notamment la topographie, la phase, le frottement et la force latérale, pour une caractérisation complète de la surface.
Quelles tailles d'échantillons l'AFM peut-il accueillir ?

L'AFM peut traiter des échantillons jusqu'à 200 mm x 5200 mm, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications de recherche.
Quels sont les modes de balayage disponibles avec cet AFM?

L'AFM propose des modes de balayage Contact, Tapping et Non-contact, offrant une flexibilité pour différents besoins d'imagerie et types d'échantillons.