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Traceur de boucle d'hystérésis à l'échelle d'une plaquette pour la métrologie magnétique sans contact
Traceur d'hystérésis à échelle de wafer pour la métrologie magnétique sans contact Description du produit: L'instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaque est un outil de pointe conçu pour une caractérisation précise et efficace des propriétés magnétiques au niveau de la ...
Station de sonde cryogénique sous vide Épreuves électriques Station de sonde automatisée
Station de cryo-sonde rentable pour les essais électriques automatisés Description du produit: La station de sonde cryogénique est un outil essentiel pour la caractérisation des dispositifs cryogéniques, fournissant une solution rentable pour les chercheurs et les ingénieurs de diverses industries...
Testeur cryogénique multi-sonde: 4 K-420 K, refrigération GM et essais I-V/C-V/microondes
Description du produit: La station de sonde cryogénique PS-Cryo 4 K est un instrument avancé et hautement spécialisé conçu pour des essais et des mesures de précision à des températures extrêmement basses.Conçu pour répondre aux exigences exigeantes de la recherche et du développement modernes dans ...
AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un instrument polyvalent et performant conçu pour fournir une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une technologie de ...
Caractérisation de surface à l'échelle nanométrique avec AtomExplorer AFM
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type Basic est un microscope à sonde à balayage très polyvalent et fiable, conçu spécifiquement pour les laboratoires recherchant un équipement AFM avancé mais facile à utiliser. Ce modèle offre des capacités complètes pour la caract...
AtomExplorer AFM: MFM, EFM et KFM intégrés pour l'analyse des matériaux
Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir des performances et une polyvalence exceptionnelles pour un large éventail d'applications d'analyse de surface.Conçu avec une technologie avancée, ce microscope AFM offre des ...
Microscope à force atomique de type basique
Nom du produit Microscope de force atomique de type de base - AtomExplorer Introduction du produit Le microscope de force atomique de type AtomExplorer Basic offre une résolution inférieure aux nanomètres pour observer la topographie et la texture de la surface du matériau.Il capture des structures ...
Champ magnétique en plan 2 T Air Gap 10 mm Observation du domaine magnétique avec PID Régulation de rétroaction en boucle fermée Résolution du champ magnétique
Description du produit :Le microscope de Kerr est un instrument de pointe conçu pour la microscopie magnétique à haute résolution, offrant des performances inégalées dans l'étude et l'analyse des matériaux et phénomènes magnétiques. Équipé d'un ensemble complet d'objectifs, dont 5*, 20*, 50*, 100*, ...
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Récemment, l'équipe de recherche du Centre de Spintronique et de Systèmes Quantiques de l'École des Sciences des Matériaux et du Génie de...
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Récemment, l'équipe de recherche de l'Institut de recherche sur l'énergie propre et la chimie des combustibles, de l'École de génie chimique de...
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