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Microscope atomique à modulation de force à haute résolution Microscope scientifique 0,04 nm
Microscope à force atomique à balayage par modulation de force avec haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution au niveau nanométrique. Grâce à ses capacités avancées, ce microscope offre ...
Microscope magnéto-optique de Kerr microscope d'essai de rotation de 250 nm pour la caractérisation complète des matériaux
Microscope de Kerr Magnéto-Optique SpinTest pour la Caractérisation Complète des Matériaux Description du produit : Le microscope de Kerr magnéto-optique Spin-Test multifonctionnel est un outil essentiel pour les chercheurs et les scientifiques travaillant avec des couches minces magnétiques dans le ...
Cryostat magnéto-optique à refroidissement rapide, fenêtre supérieure 1, MO-Cryostat pour la recherche avancée sur les matériaux
Cryostat MO-Cryostat à refroidissement rapide pour la recherche avancée sur les matériaux Description du produit : Le cryostat de mesure des propriétés optiques intégré à aimant supraconducteur à ultra-basse température est un système de pointe conçu pour les chercheurs travaillant avec des mat...
Station de sonde cryogénique sous vide Épreuves électriques Station de sonde automatisée
Station de cryo-sonde rentable pour les essais électriques automatisés Description du produit: La station de sonde cryogénique est un outil essentiel pour la caractérisation des dispositifs cryogéniques, fournissant une solution rentable pour les chercheurs et les ingénieurs de diverses industries...
Microscope à force à balayage élevé 0,15 nm Microscope haute résolution pour plaquette
Microscope à force de balayage élevée Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface dans divers domaines tels que la nanotechnologie, la science des matériaux et la biologie.Avec ses capacités ...
Système AFM personnalisable Matériaux scientifiques industriels Microscopes avec une forte évolutivité
Système AFM personnalisable avec une forte évolutivité pour vos recherches Description du produit: Le microscope de la force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse de haute précision dans diverses applications scientifiques et industrielles.Avec sa technologie avancée et ...
Imagerie 3D à l'échelle nanométrique pour la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux avancés
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument très avancé et polyvalent conçu pour fournir une caractérisation précise des surfaces grâce à de multiples modes de fonctionnement. Ce microscope multifonctionnel intègre une gamme de techniques, notamment la microscopie ...
0,1 Hz - 30 Hz Microscope à force atomique 0,04 nm Microscope de haute précision avec modes multiples
AFM Avancée avec Modes Multiples pour la Caractérisation à l'Échelle Nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Avec un niveau de bruit dans la ...
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Récemment, l'équipe de recherche du Centre de Spintronique et de Systèmes Quantiques de l'École des Sciences des Matériaux et du Génie de...
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Récemment, l'équipe de recherche de l'Institut de recherche sur l'énergie propre et la chimie des combustibles, de l'École de génie chimique de...
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