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Station de sondes automatisée sans cryogène, station de sondes à vide à basse température pour les mesures de dispositifs à 4 K
Cryogen Free Probe Station For Automated 4 K Device Measurements Product Description: The Cryogenic Probe Station is a cutting-edge device designed for cryogen-free, cost-effective, and precise cryogenic device characterization. With its advanced features and capabilities, this probe station offers ...
Système de test final automatisé pour testeur MRAM de précision pour les lignes de production de puces magnétiques
Automated Final Test System For Magnetic Chip Production Lines Product Description: Excitation System1: One of the key features of this magnetic chip final test machine is the excitation system's capability to generate a maximum magnetic field intensity of ±2000 Oe along the X-axis. This high ...
Station de sondes 2D améliorable Station de sondes de champ magnétique pour la recherche et la production de précision
Upgradeable 2D Probe Station For Precision Research And Production Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a cutting-edge product designed for precise measurements and analysis of magnetic fields in various applications. This advanced probe station allows for detailed ...
Station de sonde de champ magnétique cryogénique supraconducteur vertical
Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DP-Cryo closed-loop cryogenic superconducting magnet probe station, based on a 4 K closed-loop cryogenic probe station, adds a ±3 T superconducting magnet, providing a low-temperature strong magnetic field ...
AtomExplorer: microscope à sonde à balayage de haute précision (SPM/AFM)
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applications. This advanced instrument employs an XYZ three-axis ...
Caractérisation de surface à l'échelle nanométrique avec AtomExplorer AFM
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a highly versatile and reliable Scanning Probe Microscope designed specifically for laboratories seeking advanced yet user-friendly AFM equipment. This model provides comprehensive capabilities for material surface characterization...
Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision
Product Introduction The AtomEdge Pro Multifunctional Atomic Force Microscope enables sub-nanometer-scale 3D scanning, imaging and characterization of materials, electronic devices, biological samples, and other specimens, and is widely used in fields such as materials science, chemistry and ...
0,1 Hz - 30 Hz Microscope à force atomique 0,04 nm Microscope de haute précision avec modes multiples
Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 nm, this microscope offers ...
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Nouvelles
Récemment, l'équipe de recherche du Centre de Spintronique et de Systèmes Quantiques de l'École des Sciences des Matériaux et du Génie de...
Nouvelles
Récemment, l'équipe de recherche de l'Institut de recherche sur l'énergie propre et la chimie des combustibles, de l'École de génie chimique de...
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