logo

Testeur MRAM automatique pour puces magnétiques - Machine de test final à haute vitesse

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Détails de produit
Mettre en évidence:

Testeur MRAM automatique

,

Testeur MRAM haute vitesse

,

Machine de test final de puce magnétique

Excitation system3: La vraie valeur zéro du champ magnétique sous un champ magnétique nulle est ≤0,1 OE;
Excitation system2: L'uniformité du champ magnétique de l'axe X est ≤ ± 1% @ 2000 OE @ φ35 mm d'espace sphér
Excitation system1: L'intensité maximale du champ magnétique sur l'axe X est de ± 2000 OE;
Excitation system4: La résolution du moniteur de champ magnétique est ≤ 10 μt
Test Ambient Temperature Module: Dépassement de température ≤ 0,5 ° C
Electric Displacement Stage Module: Gamme de réglage de l'axe θ: ± 180 °; Précision de rotation ≤1 °; Équipé d'un encodeur de po

Propriétés de base

Lieu d'origine: CHINE
Nom de marque: Truth Instruments
Numéro de modèle: MCT 500

Propriétés commerciales

Prix: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Conditions de paiement: T / t
Description de produit

Machine d'essai finale automatique à puce magnétique

Introduction du produit

Les puces magnétiques, capables de fournir un stockage d'informations non volatiles à grande vitesse et à faible consommation, sont considérées comme essentielles pour résoudre les problèmes futurs liés à la technologie de stockage.Leur excellente performance et leur fiabilité sont essentielles au fonctionnement stable des appareils électroniques et à la sécurité des données.. Ce produit utilise un dispositif d'essai anti-magnétique à trois zones de température pour simuler des environnements de champ magnétique dans des conditions de température différentes,assurer les performances et la fiabilité de la puce dans plusieurs environnements extrêmes. équipé de capteurs de température de précision pour des essais à trois températures de haute précision, d'un système de contrôle du champ magnétique fournissant des champs magnétiques contrôlables stables dans le plan et dans le plan normal,sièges d'essai non magnétiques, et les puits thermiques, ainsi que les compteurs de source électrique, il crée un environnement d'essai pour les tests non destructifs, par lots des propriétés magnétiques et électriques des puces,jouant un rôle important dans le développement et la production de puces magnétiques.

Performance de l'équipement
Catégorie des indicateurs Définition
Système d'excitation L'intensité maximale du champ magnétique sur l'axe X est de ± 2000 Oe;
L'uniformité du champ magnétique de l'axe X est ≤ ± 1%@2000 Oe@Φ35 mm dans un espace sphérique;
La valeur réelle du champ magnétique sous zéro champ magnétique est ≤ 0,1 Oe;
Capteur de champ magnétique de haute précision La résolution du moniteur de champ magnétique est ≤ 10 μT
Module de phase de déplacement électrique Plage de réglage de l'axe θ: ±180°; précision de rotation ≤1°; équipé d'un codeur de position absolue
Système de régulation de la température La température de sortie supporte une plage comprise entre -70°C et 220°C;
Module de température ambiante d'essai

La plage de température interne de la prise est de -60°C à 170°C

Il est équipé d'un module de surveillance de la température, avec une précision de température ≤ 0,5°C;
Dépassement de température ≤ 0,5°C

Siège d'essai de prise Le siège d'essai peut résister à des températures allant de -60°C à 170°C;
Le matériau est non magnétique.
Cas de demande
Testeur MRAM automatique pour puces magnétiques - Machine de test final à haute vitesse 0
  • Temps de réponse de mise sous tension
Testeur MRAM automatique pour puces magnétiques - Machine de test final à haute vitesse 1
  • Sortie numérique VS densité du flux magnétique et impulsion d'échantillonnage
Testeur MRAM automatique pour puces magnétiques - Machine de test final à haute vitesse 2
  • Curve caractéristique de la température de sortie de la puce de capteur TMR
Envoyez une demande

Obtenez une citation rapide